芯片复位装置的制作方法

文档序号:13508061阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种芯片复位装置,包括单片机、调制单元、谐振单元、解调单元、滤波单元及整形单元;所述调制单元及整形单元均与所述单片机连接;所述调制单元、谐振单元、解调单元、滤波单元及整形单元依次串连;其特征在于:所述整形单元包括放大模块及比较模块;所述放大模块与滤波单元连接;所述比较模块与放大模块连接。

2.根据权利要求1所述的芯片复位装置,其特征在于:所述放大模块包括放大器及用于控制放大倍数的放大元件,所述放大元件与放大器连接。

3.根据权利要求2所述的芯片复位装置,其特征在于:所述放大元件包括第一电阻及第二电阻;所述第一电阻包括第一连接端与第二连接端;所述第二电阻包括第三连接端与第四连接端;所述第一连接端与放大元件连接;所述第三连接端与第二连接端及放大元件均连接;所述第四连接端接地。

4.根据权利要求2或3所述的芯片复位装置,其特征在于:所述放大器与滤波单元连接。

5.根据权利要求3所述的芯片复位装置,其特征在于:所述第一连接端与所述比较模块连接。

6.根据权利要求1所述的芯片复位装置,其特征在于:所述比较模块包括比较元件及用于控制比较参数的计算元件;所述计算元件与比较元件连接。

7.根据权利要求6所述的芯片复位装置,其特征在于:所述计算元件包括第三电阻及第四电阻;所述第三电阻包括第五连接端与第六连接端;所述第四电阻包括第七连接端与第八连接端;所述第五连接端与比较元件连接;所述第七连接端与第六连接端及比较元件均连接;所述第八连接端接地。

8.根据权利要求7所述的芯片复位装置,其特征在于:所述比较元件与滤波单元连接。

9.根据权利要求7所述的芯片复位装置,其特征在于:所述比较模块与放大模块连接。

10.根据权利要求1-3、5-9任一项所述的芯片复位装置,其特征在于:还包括天线,所述天线与谐振模块连接。

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