本发明涉及电子技术，尤指一种阵列基板、显示装置及测试方法。
背景技术：
LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)为平面超薄的显示设备，它由一定数量的彩色或黑白像素组成。目前液晶显示器是以薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)液晶显示器为主，其制作过程可大致分为三部分：薄膜晶体管阵列(TFT Array)制备以及彩色滤光板制备、液晶显示单元组装(LC Cell Assembly)制备、液晶显示模块(Liquid Crystal Module，LCM)制备。液晶面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要检验程序就是对切割完成的液晶盒进行测试(Cell Test)，以确认液晶盒是否存在缺陷。Cell Test简称ET，为液晶面板未贴附驱动芯片以及输入显示信号用的柔性电路板之前进行。该测试过程先是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-on Test)。
随着显示领域发展，对产品的特性以及耐用性要求越来越高，更不能出现功能性不良，如X-line(亮线)，Open(断线)等问题。目前，LCD产品在ET点灯过程中很难有效拦截此类不良，导致后端模组资材浪费。更甚，不良产品流入客户端造成严重的损失。
技术实现要素：
本发明至少一实施例提供了一种阵列基板面板和显示装置、测试方法，实现对不良的检测。
为了达到本发明目的，本发明至少一实施例提供了一种阵列基板，包括：第一信号线和第二信号线，所述第一信号线和所述第二信号线彼此断开，且所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的不同位置。
本发明至少一实施例提供一种显示装置，包括任一实施例所述的阵列基板。
本发明至少一实施例提供一种上述阵列基板的测试方法，包括：
向所述第一信号线提供第一电压信号，向所述第二信号线提供与所述第一电压信号极性相反的第二电压信号。
与相关技术相比，本发明一实施例提供的阵列基板包括第一信号线和第二信号线，所述第一信号线和所述第二信号线彼此断开，且所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的不同位置。本实施例提供的阵列基板，为同一栅线提供独立两个独立的信号线，实现对栅线虚接的检测。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。
图1为Gate(栅)正常与虚接的示意图；
图2为相关技术中ET pad(测试焊盘)走线示意图；
图3为相关技术中一种GOA电路的结构图；
图4为本发明一实施例提供的阵列基板示意图；
图5为本发明另一实施例提供的阵列基板示意图；
图6a为本发明另一实施例提供的阵列基板示意图；
图6b为本发明另一实施例提供的阵列基板示意图；
图7a为本发明另一实施例提供的阵列基板示意图；
图7b为本发明另一实施例提供的阵列基板示意图；
图7c为本发明另一实施例提供的阵列基板示意图；
图8为本发明一实施例提供的GOA电路示意图；
图9为本发明一实施例提供的GOA电路示意图；
图10为本发明一实施例提供的测试方法流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
图1为Gate(栅)正常与虚接的示意图。如图1所示，正常产品如图1中(a)图所示。异常产品在制程过程中出现如图1中(b)图圈出的连接异常，似连似断，虚接状态，此类产品往往不能在制程阶段有效拦截，到客户端产生不好的影响。
针对上述不良，可以通过在同一栅线输入极性相反的信号，使得在线路虚接的位置出现发热情况并烧毁，之后再进行点灯测试，由于虚接位置已断开，对应的像素单元无法点亮，从而实现检测线路虚接情况，检出不良。
图2为相关技术中panel(面板)ET pad(测试焊盘)走线示意图。相关技术中，使用GOA(Gate Driver On Array，阵列基板栅极驱动)技术，将栅极驱动电路制作在阵列基板上。图2中AA为显示区，显示区AA两侧设置有GOA电路(未示出)。GOA电路为TFT提供栅极驱动信号。GOA驱动包括两种，双边GOA驱动和单边GOA驱动。其中，双边驱动是指对应一行栅线，左右两侧具有一个GOA单元对其进行驱动，单边驱动是指只有一个GOA单元对一行栅线进行驱动，比如，一侧的GOA单元驱动奇数行栅线，另一侧的GOA单元驱动偶数行栅线。如图2所示，通过VGH走线和VGL走线为GOA单元施加VGH电压和VGL电压，其中VGH(高电平)和VGL(低电平)分别为TFT的开启电压和关断电压。相关技术中，为了达到点灯以及GOA驱动效果，在ET点灯时，VGH，VGL一边给信号。图3为相关技术中一种GOA电路的结构图。图3所示电路中，可以通过Reset信号拉高，将整体GOA输出信号(比如OUTPUT_N)变为VGL信号，但由于左侧和右侧输入的VGH或VGL信号一致，因此无法实现ET点灯时，左侧GOA单元和右侧GOA单元输出相反的栅极驱动信号至同一栅线，因此，相关技术中无法检出栅线虚接不良。
实施例一
如图4所示，本实施例提供一种阵列基板40，包括：第一信号线401和第二信号线402，所述第一信号线401和所述第二信号线402彼此断开，且所述第一信号线401和所述第二信号线402耦接至同一栅线403的不同位置。
例如，所述第一信号线401和所述第二信号线402耦接至同一栅线403的不同位置包括：所述第一信号线401和所述第二信号线402耦接至同一栅线403的两端。
需要说明的是，图中仅示出一条栅线，阵列基板40上有多条栅线，其余栅线类似，此处不再说明。
本实施例中，通过两条彼此断开的信号线耦接至同一栅线，可以通过这两条信号线实现为同一栅线分别输入极性相反的不同信号，如果该栅线存在虚接，则虚接的位置出现发热情况并烧毁，暴露出该不良，之后再进行点灯测试，由于虚接位置已断开，对应的像素单元无法点亮，从而实现检测线路虚接情况，检出不良。
在一实施例中，所述第一信号线401连接有测试焊盘404，所述第二信号线402连接有测试焊盘405。测试焊盘用于方便向第一信号线401和第二信号线402输入信号。测试焊盘404和测试焊盘405可以直接设置在其连接的信号线的端部，也可以通过一引线连接至信号线，便于进行测试焊盘的布局。测试焊盘404和测试焊盘405比如为圆形焊盘或方形焊盘，当然，也可以为其他形状，本申请对此不作限定。
实施例二
如图5所示，本实施例中，在图4基础上，所述第一信号线401和所述栅线403之间包括第一GOA电路406，第一信号线401通过第一GOA电路406耦接至栅线403，所述第一信号线401耦接至所述第一GOA电路406的驱动信号输入端(比如VGH，VGL输入端)，所述第一GOA电路406的驱动信号输出端耦接至所述栅线403的一端，所述第二信号线402和所述栅线403之间包括第二GOA电路407，第二信号线402通过第二GOA电路407耦接至栅线403，所述第二信号线402耦接至所述第二GOA电路407的驱动信号输入端(比如VGH，VGL输入端)，所述第二GOA电路407的驱动信号输出端耦接至所述栅线403的另一端。该方案可以应用于双边GOA驱动情况下。
在一实施例中，第一信号线401可以使用已有的栅极驱动信号线，所述第一信号线401比如为第一高电平驱动信号线(比如用于输入VGH信号的信号线)和第一低电平驱动信号线(比如用于输入VGL信号的信号线)至少之一，所述第一高电平驱动信号线和所述第一低电平驱动信号线耦接至所述第一GOA电路的驱动信号输入端，所述第二信号线402比如为第二高电平驱动信号线和第二低电平驱动信号线至少之一，所述第二高电平驱动信号线和所述第二低电平驱动信号线耦接至所述第二GOA电路的驱动信号输入端。
实施例三
如图6a所示，本实施例中，在图4基础上，所述第一信号线401和所述栅线403之间包括第一GOA电路406，所述第一信号线401耦接至所述第一GOA电路406的驱动信号输入端(比如VGH，VGL输入端)，所述第一GOA电路406的驱动信号输出端耦接至所述栅线403的一端，所述第二信号线402通过开关电路408耦接至所述栅线的另一端。该方案可以应用于单边GOA驱动情况下。开关电路408导通时，所述栅线与所述第二信号线402导通，开关电路408断开时，所述栅线与所述第二信号线402断开。如图6b所示，所述开关电路408比如为一晶体管，栅线403和第二信号线403分别连接在该晶体管的两端。需要说明的是，此处仅为示例，可以根据需要使用其他开关电路。
在一实施例中，所述第一信号线401包括第一高电平驱动信号线和第一低电平驱动信号线至少之一，所述第一高电平驱动信号线用于输入高电平信号至所述第一GOA电路，所述第一低电平驱动信号线用于输入低电平信号至所述第一GOA电路。所述第一高电平驱动信号线和所述第一低电平驱动信号线耦接至所述第一GOA电路的驱动信号输入端。所述第二信号线402比如为第二高电平驱动信号线和第二低电平驱动信号线至少之一，所述第二高电平驱动信号线和所述第二低电平驱动信号线耦接至所述第二GOA电路的驱动信号输入端。
实施例四
本方案中将VGL，VGH ET pad变更为两侧输入方式，在IC对侧进行断开设计。这样，就可以单独控制两侧GOA的VGH和VGL。
如图7a所示，本实施例中，通过在Panel点灯线路正常结构外，在Gate线另一侧添加电信号输入功能，将已有的VGH线、VGL线断开(如图7a中圆圈处示出)，在右侧增加VGH pad和VGL pad，以实现为左右GOA提供不同的信号。增加此结构后，产品ET时，一侧输入正常点灯信号，另一侧输入相反极性信号，通过在Gate线上输入极性相反的信号，在线路虚接的位置出现发热情况并烧毁，从而实现检测线路虚接情况，检出不良。即该实施例中，第一信号线为左侧的VGH线701a和VGL线702a，第二信号线为右侧的VGH线703a和VGL线704a，且，VGH线701a和VGH线703a彼此断开，VGL线702a和VGL线线704a彼此断开。
在另一实施例中，如图7b所示，可以只将已有的VGH线断开，已有的VGL线左右两侧保持连接，在右侧增加VGH pad(不增加VGL pad)，以实现为左右GOA提供不同的信号。即该实施例中，第一信号线为左侧的VGH线701b，第二信号线为右侧的VGH线703b，且，VGH线701b和VGH线703b彼此断开。可以在VGH线701b连接的VGH pad上施加VGH信号，在VGH线703b连接的VGH pad上施加VGL信号，从而使得栅线虚接的位置出现发热情况并烧毁。
在另一实施例中，如图7c所示，可以只将已有的VGL线断开，已有的VGH线左右两侧保持连接，在右侧增加VGL pad(不增加VGH pad)，以实现为左右GOA提供不同的信号。即该实施例中，第一信号线为左侧的VGL线702c，第二信号线为右侧的VGL线704c，且，VGL线702c和VGL线704c彼此断开。可以在VGL线702c连接的VGL pad上施加VGH信号，在VGL线704c连接的VGL pad上施加VGL信号，从而使得栅线虚接的位置出现发热情况并烧毁。
以图7a所示方案进行说明。如图8所示，对一侧GOA，当Reset信号为高时，在VGL pad施加VGL信号(低电平信号)，GOA电路通过OUTPUT_N输出VGL信号至Gate线。如图9所示，对另一侧GOA，如：Reset信号提供时，通过VGL pad提供VGH信号(高电平信号)给该GOA，该侧GOA通过OUTPUT_N输出VGH信号至Gate线，此时，Gate线两端的信号极性相反(一个为VGL，一个为VGH)。而Gate线左右提供不同信号时，虚接位置类似高电阻位置，此处相当于一处电阻。根据焦耳定律：焦耳热Q＝I2RT，电阻R越大，热量Q越大，从而，Gate线的虚接部分出现断路，在ET点灯时有效检测线类不良，防止客户点出现功能类不良而导致点线，赔偿等问题。而正常线路无问题，Gate线不会出现发热而烧毁异常问题。此类设计适用于双边GOA驱动产品改善Gate open类不良。需要说明的是，图8，图9中GOA电路的VGL输入端也可以是VGH输入端，即二者共用该输入端。需要说明的是，图8和图9所示GOA电路仅为示意，本申请对此不作限定。其他GOA电路也可应用在本申请中。
需要说明的是，本申请不限于使用GOA技术的阵列基板，其他阵列基板也适用。
实施例五
对于单边驱动GOA产品，可以将左侧VGH信号线和VGL信号线其中之一作为第一信号线，将右侧VGH信号线和VGL信号线其中之一作为第二信号线，栅线的一端连接GOA电路的驱动信号输出端，栅线的另一端通过开关电路耦接至第二信号线。比如，左侧GOA为奇数行栅线提供驱动信号，右侧GOA为偶数行栅线提供驱动信号时，第二信号线通过开关电路连接至奇数行栅线的右端，偶数行栅线的左端。此时，可以在栅线一侧提供VGL信号，另一侧提供VGH信号，比如，一侧通过GOA电路提供VGL信号，另一侧直接通过第二信号线提供VGH信号(此时，将开关电路的控制信号EN Touch拉高，通过VGH pad或VGL pad提供VGH信号)，根据焦耳定律：焦耳热Q＝I2RT，电阻R越大，热量Q越大，虚接部分Gate线左右提供正负信号出现断路，进而拦截不良。
实施例六
本实施例提供一种显示装置，该显示装置包括上述任一实施例提供的阵列基板。该显示装置的一个示例为液晶显示装置。
该显示装置可以是任何具有显示功能的产品或部件，例如手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框和导航仪。
实施例七
如图10所示，本实施例提供一种上述任一实施例所述的阵列基板的测试方法，包括：
步骤1001，向所述第一信号线提供第一电压信号，向所述第二信号线提供与所述第一电压信号极性相反的第二电压信号。
本实施例中，通过在同一栅线上施加极性相反的电压信号，使得虚接位置烧毁并断开，从而暴露不良。
其中，第一电压信号和第二电压信号可以分别是VGH信号和VGL信号，需要说明的是，此处仅为示例，第一电压信号和第二电压信号也可以是其他极性相反的电压信号，具体取值可以通过实验获取。
在一实施例中，向所述第一信号线提供第一电压信号，向所述第二信号线提供与所述第一电压信号极性相反的第二电压信号之后，还包括步骤1002：进行点灯测试。通过步骤1001使得虚接位置断开后，再施加点灯测试信号，进行点灯测试。具体点灯测试方法此处不再赘述。
以图7a所示方案为例，说明一下测试方法。在VGH线701a上施加VGH信号，则左侧GOA输出VGH信号至栅线，在VGL线704a上施加VGL信号，则右侧GOA输出VGL信号至栅线，此时，栅线两侧分别施加了VGH信号和VGL信号，如果栅线存在虚接，则此时虚接的位置出现发热情况并烧毁从而断开。然后进行如下点灯测试：在VGH线701a上施加VGH信号，在VGH线703a上施加VGH信号，之后，在VGL线702a上施加VGL信号，在VGL线704a上施加VGL信号。
以图7b所示方案为例，在VGH线701b上施加VGH信号，则左侧GOA输出VGH信号至栅线，在VGH线703b上施加VGL信号，则右侧GOA输出VGL信号至栅线，此时，栅线两侧分别施加了VGH信号和VGL信号，如果栅线存在虚接，则此时虚接的位置出现发热情况并烧毁从而断开。然后进行如下点灯测试：在VGH线701b上施加VGH信号，在VGH线703b上施加VGH信号，之后，在VGL线702b上施加VGL信号。
以图7c所示方案为例，在VGL线702c上施加VGH信号，则左侧GOA输出VGH信号至栅线，在VGL线704c上施加VGL信号，则右侧GOA输出VGL信号至栅线，此时，栅线两侧分别施加了VGH信号和VGL信号，如果栅线存在虚接，则此时虚接的位置出现发热情况并烧毁从而断开。然后进行如下点灯测试：在VGH线701c上施加VGH信号，之后，在VGL线702c上施加VGL信号，在VGL线704c上施加VGL信号。
有以下几点需要说明：
(1)本发明实施例附图只涉及到与本发明实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。
(2)为了清晰起见，在用于描述本发明的实施例的附图中，层或区域的厚度被放大或缩小，即这些附图并非按照实际的比例绘制。可以理解，当诸如层、膜、区域或基板之类的元件被称作位于另一元件“上”或“下”时，该元件可以“直接”位于另一元件“上”或“下”，或者可以存在中间元件。
(3)在不冲突的情况下，本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。
虽然本发明所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。