一种OPGW光单元余长测试装置的制作方法

本实用新型涉及光缆生产技术领域，特别是一种opgw光单元余长测试装置。

背景技术：

opgw光缆生产过程中余长控制是光缆成品质量的关键控制因素，余长测试的数据用于检验工艺的合理性，预判成品的最终质量，且生产过程中测试的工作量大，所以测试的准确性与方便性至关重要。

通常采取的测试方法为：截取一段松套管（不锈钢光纤单元），同时从两端剪断，先测量松套管的长度，记为l0，然后抽出其中的光纤，测量光纤的长度，记为l1。根据余长的定义，（l1-l0）/l0*1000‰即为套管中光纤的余长。

此过程中关键之处在于：1.保证套管剪切时处于平直且不受力的状态。2.两端在剪断过程中不出现时间差，保证同步剪断。针对第一点比较容易实现，即在平台上划线、开直槽等方式。为达到第二点要求，目前一般采用人工剪断，即两端各有一人，手持裁剪刀，喊口令后同时剪断；此外还有采用气缸驱动裁剪刀实现自动剪切的方式。

上述的剪断方式均存在缺陷：靠人工喊口令操作的方式无疑很难达到一致；而气动控制方式因气体的可压缩性及缸体、管路的摩擦力不同的影响，也很难实现同步。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种opgw光单元余长测试装置。

本实用新型的目的通过以下技术方案来实现：一种opgw光单元余长测试装置，它包括测试平台、裁剪刀、电控箱、一对测量标尺和多个快速夹钳，所述测试平台上设有可供opgw光单元放置的卡槽，所述裁剪刀有两对且分别位于测试平台的两端，所述电控箱安装在测试平台的一侧并与裁剪刀电连接，所述测量标尺固定在测试平台上并分别位于两裁剪刀的一侧，所述多个快速夹钳均安装在测试平台上，并位于卡槽的一侧。

进一步地，所述裁剪刀包括固定刀、活动刀和电磁铁，所述固定刀安装在测试平台上，并垂向设置在卡槽的底部，所述活动刀位于固定刀的上方，所述电磁铁设置在活动刀的顶部，并与电控箱电连接。

进一步地，所述快速夹钳包括底座、手柄和压紧块，所述底座固定在卡槽的一侧，所述手柄与底座铰接，所述压紧块固定在手柄上并位于卡槽的上方，压紧块上设有顶紧螺栓。

进一步地，所述相邻两快速夹钳的间距为600～800mm。

进一步地，所述测量标尺的零点位置与裁剪刀的裁剪面平齐。

进一步地，还包括操作开关，所述操作开关安装在测试平台的一侧并与电控箱电连接。

进一步地，所述卡槽为v形槽。

本实用新型具有以下优点：1、经济性好：制作成本低。采用标准化的型材制作平台，无需通过机加工制作数米长的v型槽；采用标准化的快速夹钳，经济美观；无需成本较高的机加工环节，制作成本低。2、准确性高：被测光单元处于v型槽中，并通过夹钳夹紧，确保光单元处于平直状态；两端电磁铁很容易实现同步工作，保证两端同时剪断，保证测试的准确性；3、操作方便：电动“一按剪断”操作；标尺直接读数，简化繁琐的计算过程，方便直观。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的俯视图；

图3为本实用新型的侧视图；

图4为快速夹钳张开状态的结构示意图；

图5为快速夹钳夹紧状态的结构示意图；

图6为余长读数示意图；

图中：1-测试平台，2-裁剪刀，3-电控箱，4-测量标尺，5-快速夹钳，6-卡槽，7-固定刀，8-活动刀，9-电磁铁，10-底座，11-手柄，12-压紧块，13-顶紧螺栓，14-操作开关。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步的描述，但本实用新型的保护范围不局限于以下所述。

如图1～5所示，一种opgw光单元余长测试装置，它包括测试平台1、裁剪刀2、电控箱3、一对测量标尺4和多个快速夹钳5，所述测试平台1上设有可供opgw光单元放置的卡槽6，所述裁剪刀2有两对且分别位于测试平台1的两端，所述电控箱3安装在测试平台1的一侧并与裁剪刀2电连接，电控箱3内设有时间继电器，用于设置电磁铁的通电时间，避免长时间通电造成过热损坏，所述测量标尺4固定在测试平台1上并分别位于两裁剪刀2的一侧，所述多个快速夹钳5均安装在测试平台1上，并位于卡槽6的一侧。测试平台1采用标准化的型材制作平台，通常为5米或10米，无需通过机加工制作数米长的v型槽；采用标准化的快速夹钳5，经济美观。

进一步地，所述裁剪刀2包括固定刀7、活动刀8和电磁铁9，所述固定刀7安装在测试平台1上，并垂向设置在卡槽6的底部，所述活动刀8位于固定刀7的上方，所述电磁铁9设置在活动刀8的顶部，并与电控箱3电连接。电磁铁9选用交流24v低电压推拉式电磁铁，具自复位功能，断电后在弹簧作用下复位。

进一步地，所述快速夹钳5包括底座10、手柄11和压紧块12，所述底座10固定在卡槽6的一侧，所述手柄11与底座10铰接，所述压紧块12固定在手柄11上并位于卡槽6的上方，压紧块12上设有顶紧螺栓13。通过调节顶紧螺栓13控制压紧块12的高度，进而压紧光单元，由于不锈钢光单元抗侧压能力达数万牛顿/米，所以光单元在压紧状态不致移位，同时不会发生轴向变形。相对于两端采用配重块来拉直光单元的方式，光单元不受轴向拉力，无初期拉伸，完全处于自由平直状态，使余长测量结果更准确。

进一步地，所述相邻两快速夹钳5的间距为600～800mm，以确保光单元处于平直状态。

进一步地，所述测量标尺4的零点位置与裁剪刀2的裁剪面平齐。

进一步地，还包括操作开关14，所述操作开关14安装在测试平台1的一侧并与电控箱3电连接。通过旋动开关14驱动两端的电磁铁9工作，以保证两端同步剪断。

进一步地，所述卡槽6为v形槽。

本实用新型的工作过程如下：将光单元放置在平直的卡槽6中，从一端开始，用手按住光单元，使其紧贴卡槽6的两侧面，通过调节顶紧螺栓13控制压紧块12的高度，进而压紧光单元，开启操作开关14，两端电磁铁9同步工作，将光单元的两端同时剪断，剪断后，将抽出的光纤一端对准其中一侧标尺的零点，光纤的另一端在另一侧标尺位置的读数即为光纤比套管多出的长度。

如图6所示，标尺的读数为24mm，即光纤比套管长24mm。根据余长定义，假如平台长度为10米，则余长为24/10000*1000%=2.4‰；假如平台长度为5米，则余长为24/5000*1000%=4.8‰。

以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例，并非对本实用新型做任何形式上的限制。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围情况下，都可利用上述所述技术内容对本实用新型技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术对以上实施例所做的任何改动修改、等同变化及修饰，均属于本技术方案的保护范围。