熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法与流程

文档序号:32404951发布日期:2022-12-02 20:16阅读:来源:国知局

技术特征:
1.一种熔接系统,具备:熔接装置,具有通过放电来进行光纤的熔接的第一电极和第二电极以及向所述第一电极输出控制信号并且从所述第二电极接收所述控制信号的反馈信号的放电电路;以及劣化判定部,根据所述反馈信号的状态来判定所述第一电极和所述第二电极是否已劣化。2.根据权利要求1所述的熔接系统,其中,所述劣化判定部根据所述控制信号的状态和所述反馈信号的状态这双方来判定所述第一电极和所述第二电极是否已劣化。3.根据权利要求1或2所述的熔接系统,具备对多个所述反馈信号的每一个判定是否异常的信号判定部,所述劣化判定部基于被所述信号判定部判定为异常的所述反馈信号的数量来判定所述第一电极和所述第二电极是否已劣化。4.根据权利要求1至3中任一项所述的熔接系统,其中,所述劣化判定部根据所述反馈信号的电压值的状态来判定所述第一电极和第二电极是否已劣化。5.一种熔接装置,具备:第一电极和第二电极,通过放电来进行光纤的熔接;放电电路,向所述第一电极输出控制信号,并且从所述第二电极接收所述控制信号的反馈信号;以及信号监视器,监控所述反馈信号,并且根据所述反馈信号的状态来判定所述第一电极和所述第二电极是否已劣化。6.一种劣化判定方法,判定通过放电来进行光纤的熔接的第一电极和第二电极有无劣化,所述劣化判定方法具备以下过程:向所述第一电极输出控制信号;从所述第二电极接收所述控制信号的反馈信号;以及根据所述反馈信号的状态来判定所述第一电极和所述第二电极是否已劣化。

技术总结
本发明的目的在于提供能高精度地判定电极的劣化状态的熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法。本发明的熔接系统(10)具备:熔接装置(1),具有通过放电来进行光纤的熔接的第一电极(3c1)和第二电极(3c2)以及向第一电极(3c1)输出控制信号(S1)并且从第二电极(3c2)接收控制信号的反馈信号(S2)的放电电路(3d);以及劣化判定部(23),根据反馈信号(S2)的状态来判定第一电极(3c1)和第二电极(3c2)是否已劣化。第一电极(3c1)和第二电极(3c2)是否已劣化。第一电极(3c1)和第二电极(3c2)是否已劣化。


技术研发人员:铃木贵弘 大木一芳 大西隆治 游佐英明
受保护的技术使用者:住友电工光学前沿株式会社
技术研发日:2021.04.28
技术公布日:2022/12/1
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