一种液晶显示装置及其制备方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示装置及其制备方法。
【背景技术】
[0002]液晶显示器包括显示面板和上、下偏光片；所述显示面板包括阵列基板、彩膜基板、以及位于所述阵列基板和所述彩膜基板之间的液晶层；所述下偏光片位于所述阵列基板远离所述液晶层的一侧，所述上偏光片位于所述彩膜基板远离所述液晶层的一侧。其中，液晶显示器的制作过程为:先形成阵列基板和彩膜基板，然后将阵列基板和彩膜基板对盒形成显示面板，之后再制作上偏光片和下偏光片。
[0003]为了防止边缘漏光，上偏光片和下偏光片的面积需大于显示区域的面积且贴附位置是一定的，其中由于受到工艺上的限制，在显示面板上贴附上偏光片和下偏光片时，如图1和图2所示，上偏光片01距离彩膜基板02的边缘、下偏光片03距离阵列基板04的边缘均会具有一定的距离。
[0004]当上偏光片01和下偏光片03贴附好后，需要检测贴附精度，方法为:操作员用具有一定精度的直尺手动测量图1中的a、b和图2中的c、d的值，以判断上偏光片01和下偏光片03是否按照设计值贴附。然而上偏光片01和下偏光片03的边距离彩膜基板02和阵列基板04边缘的距离通常都很小，因此，用直尺测试对准很困难，从而导致测试精度较差，效率也很低。
【发明内容】
[0005]本发明的实施例提供一种液晶显示装置及其制备方法，可有效提升检测偏光片贴附的效率以及精度。
[0006]为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案:
[0007]一方面，提供了一种液晶显示装置，包括:彩膜基板、阵列基板、位于所述彩膜基板一侧的上偏光片和位于所述阵列基板一侧的下偏光片；所述彩膜基板包括第一刻度标尺和第二刻度标尺；所述阵列基板包括第三刻度标尺和第四刻度标尺；
[0008]其中，所述第一刻度标尺、第二刻度标尺、第三刻度标尺和第四刻度标尺均位于非显示区域；
[0009]所述第一刻度标尺用于测量所述上偏光片中相互平行的第一边中至少一个第一边到靠近的所述彩膜基板边缘的距离，所述第二刻度标尺用于测量所述上偏光片中相互平行的第二边中至少一个第二边到靠近的所述彩膜基板边缘的距离；
[0010]所述第三刻度标尺用于测量所述下偏光片中相互平行的第三边中至少一个第三边到靠近的所述阵列基板边缘的距离，所述第四刻度标尺用于测量所述下偏光片中相互平行的第四边中至少一个第四边到靠近的所述阵列基板边缘的距离。
[0011]另一方面，提供了一种液晶显示装置的制备方法，包括:形成对盒成型的彩膜基板和阵列基板、位于所述彩膜基板一侧的上偏光片和位于所述阵列基板一侧的下偏光片；形成所述彩膜基板包括:形成包括第一刻度标尺和第二刻度标尺的所述彩膜基板；形成所述阵列基板包括:形成包括第三刻度标尺和第四刻度标尺的所述阵列基板；
[0012]其中，所述第一刻度标尺、第二刻度标尺、第三刻度标尺和第四刻度标尺均位于非显示区域；
[0013]所述第一刻度标尺用于测量所述上偏光片中相互平行的第一边中至少一个第一边到靠近的所述彩膜基板边缘的距离，所述第二刻度标尺用于测量所述上偏光片中相互平行的第二边中至少一个第二边到靠近的所述彩膜基板边缘的距离；
[0014]所述第三刻度标尺用于测量所述下偏光片中相互平行的第三边中至少一个第三边到靠近的所述阵列基板边缘的距离，所述第四刻度标尺用于测量所述下偏光片中相互平行的第四边中至少一个第四边到靠近的所述彩膜基板边缘的距离。
[0015]本发明实施例提供了一种液晶显示装置及其制备方法，通过设置在所述彩膜基板上的第一刻度标尺和第二刻度标尺可以直接读取或在直接读取的基础上再计算得到上偏光片各边到相应的彩膜基板边缘的距离，通过设置在阵列基板上的第三刻度标尺和第四刻度标尺可以直接读取或在直接读取的基础上再计算得到下偏光片各边到相应的阵列基板边缘的距离，从而得到上偏光片贴附在彩膜基板上的精度以及下偏光片贴附在阵列基板上的精度；相比现有技术中通过手动拿直尺测量偏光片贴附精度，本发明实施例可以避免手拿直尺导致偏差的产生，从而可以提升检测偏光片的精度，此外，由于不再需要借助直尺而可以直接读取，有效提高了生产效率。
【附图说明】
[0016]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为现有技术提供的在彩膜基板上贴附上偏光片的示意图；
[0018]图2为现有技术提供的在阵列基板上贴附下偏光片的示意图；
[0019]图3为本发明实施例提供的一种液晶显不装置的结构不意图；
[0020]图4a为本发明实施例提供的彩膜基板的结构示意图一；
[0021]图4b为本发明实施例提供的彩膜基板的结构示意图二 ；
[0022]图5a为本发明实施例提供的阵列基板的结构示意图一；
[0023]图5b为本发明实施例提供的阵列基板的结构示意图二 ；
[0024]图6为本发明实施例提供的第一刻度标尺的示意图。
[0025]附图标记:
[0026]01-上偏光片；02_彩膜基板；03_下偏光片；04_阵列基板；11_上偏光片的第一边；12_上偏光片的第二边；21_第一刻度标尺；22_第二刻度标尺；31_下偏光片的第三边；32-下偏光片的第四边；41_第三刻度标尺；42_第四刻度标尺。
【具体实施方式】
[0027]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0028]本发明实施例提供了一种液晶显示装置，如图3所示，该液晶显示装置包括:彩膜基板02、阵列基板04、位于所述彩膜基板02 —侧的上偏光片01和位于所述阵列基板04 —侧的下偏光片03。
[0029]所述彩膜基板02包括第一刻度标尺21和第二刻度标尺22 ;所述阵列基板04包括第三刻度标尺41和第四刻度标尺42。
[0030]其中，所述第一刻度标尺21、第二刻度标尺22、第三刻度标尺41和第四刻度标尺42均位于非显示区域。
[0031]所述第一刻度标尺21用于测量所述上偏光片01中相互平行的第一边11中至少一个第一边11到靠近的所述彩膜基板02边缘的距离，所述第二刻度标尺22用于测量所述上偏光片01中相互平行的第二边12中至少一个第二边12到靠近的所述彩膜基板02边缘的距离。
[0032]所述第三刻度标尺41用于测量所述下偏光片03中相互平行的第三边31中至少一个第三边31到靠近的所述阵列基板04边缘的距离，所述第四刻度标尺42用于测量所述下偏光片03中相互平行的第四边32中至少一个第四边32到靠近的所述阵列基板04边缘的距离。
[0033]具体的，对于所述彩膜基板02，所述第一刻度标尺21可以用于测量所述上偏光片01中一个第一边11到靠近的所述彩膜基板02边缘的距离，S卩，如图4a所示，所述第一刻度标尺21可以为一个，其可以位于与该一个第一边11对应的非显示区域中，在此情况下，另一个第一边11到靠近的所述彩膜基板02边缘的距离便可通过计算得到，即:在已知两个第一边11之间的距离、彩膜基板02的与该第一边平行的两个边之间的距离、一个第一边11到靠近的所述彩膜基板02边缘的距离的基础上，便可以计算出另一个第一边11到靠近的所述彩膜基板02边缘的距离。
[0034]当然，所述第一刻度标尺21也可以用于测量所述上偏光片01中两个第一边11到分别靠近的所述彩膜基板02边缘的距离，即，如图