阵列基板及显示装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板及显示装置。
【背景技术】
[0002]阵列基板行驱动技术(以下称GOA技术，GOA的英文全称为Gate Driver onArray)是一种将栅极驱动器集成在阵列基板上的技术。与传统的C0F(Chip On Film，覆晶薄膜)技术和C0G(Chip on Glass，芯片绑定在玻璃上)技术相比，GOA技术减少了栅极驱动芯片的使用量，能够降低功耗和成本，并且GOA技术省去了栅极方向绑定的工艺，有利于广能的提升。
[0003]采用GOA技术的阵列基板的基本结构为:阵列基板具有显示区，显示区的内部设置有多条横向的栅线和多条纵向的数据线；显示区的外部左右两侧设置有多个与栅线相连的阵列基板行驱动单元(以下称GOA单元)，用于驱动栅线；显示区的外部上方设置有数据绑定垫，各条数据线均连接至该数据绑定垫，该数据绑定垫用于绑定外部数据驱动芯片，以驱动数据线。
[0004]然而，在包括上述阵列基板的显示装置长时间的使用过程中，显示装置会产生金属腐蚀问题，造成显示装置的可靠性下降。
【发明内容】
[0005]为克服上述现有技术中的缺陷，本发明提供一种阵列基板及显示装置，以解决现有采用GOA技术的显示装置的金属腐蚀问题，提高其可靠性。
[0006]为达到上述目的，本发明采用如下技术方案:
[0007]本发明的第一方面提供了一种阵列基板，包括数据线和检测线，所述检测线用于对所述数据线进行检测，所述阵列基板还包括引出线，所述引出线的一端与所述检测线的端部相连，另一端从所述阵列基板的数据绑定侧(以下称DP侧，DP的英文全称为Data Pad)引出，所述检测线的两端各连接一条所述引出线。
[0008]本发明所提供的阵列基板中设置有引出线，引出线的一端连接检测线的端部，另一端从阵列基板的DP侧引出，这相当于将检测线的两端从DP侧引出，由于切割后阵列基板的DP侧是超出彩膜基板边缘的，因此能够在切割后裸露的引出线的端部上涂覆保护层，以对裸露的引出线的端部进行保护，从而避免了检测线端部裸露在外界环境中所引发的金属腐蚀问题，提高了阵列基板的可靠性。
[0009]基于上述技术方案，可选的，所述引出线设置于所述阵列基板的阵列基板行驱动侧(以下称GOA侧)。
[0010]可选的，所述阵列基板还包括接地线(以下称GND线)，所述GND线设置于所述阵列基板的数据绑定对侧(以下称DPO侧，DPO的英文全称为Data Pad Opposite)和两个GOA侦牝所述引出线复用所述GND线中处于所述GOA侧的部分。
[0011]可选的，所述GND线、所述检测线和所述数据线同层设置。
[0012]可选的，所述GND线中处于所述DPO侧的部分与所述检测线相互平行。
[0013]可选的，所述GND线和所述阵列基板的栅线同层设置，所述检测线和所述数据线同层设置。
[0014]可选的，所述GND线中处于所述DPO侧的部分在基板平面上的垂直投影和所述检测线在基板平面上的垂直投影相互重叠。
[0015]可选的，所述引出线的引出端上涂覆有保护层。
[0016]可选的，所述保护层的形成材料为紫外固化胶(以下称UV胶，UV的英文全称为Ultrav1let Rays)。
[0017]本发明的第二方面提供了一种显示装置，包括相对设置的阵列基板和彩膜基板，所述阵列基板的DPO侧和两个GOA侧均与所述彩膜基板的边缘对齐，所述阵列基板的DP侧超出所述彩膜基板的边缘，其中，所述阵列基板为以上所述的阵列基板。
[0018]由于本发明所提供的显示装置包括以上所述的阵列基板，因此该显示装置具有与上述阵列基板相同的有益效果，在此不再赘述。
【附图说明】
[0019]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0020]图1为现有技术中对数据线进行检测时阵列基板的平面结构图；
[0021]图2为现有技术中阵列基板与彩膜基板对盒后的平面结构图；
[0022]图3为本发明实施例中对数据线进行检测时阵列基板的一种平面结构图；
[0023]图4为本发明实施例中阵列基板与彩膜基板对盒后的一种平面结构图；
[0024]图5为本发明实施例中对数据线进行检测时阵列基板的另一种平面结构图；
[0025]图6为本发明实施例中阵列基板与彩膜基板对盒后的另一种平面结构图。
[0026]附图标记说明:
[0027]10-阵列基板；AA-显不区；11_检测线；
[0028]Ila-检测线的端部；12-连接线；13-检测垫；
[0029]14-数据绑定垫；15-引出线；15a-引出线的端部；
[0030]16-GND 线；20-彩膜基板。
【具体实施方式】
[0031]正如【背景技术】所述，现有的采用GOA技术的显示装置会产生金属腐蚀问题。本发明的发明人研究后发现，造成前述问题的原因之一在于:
[0032]如图1所示，阵列基板10具有显示区AA，显示区AA的外部左右两侧设置有GOA单元(图中未示出)，显示区AA的外部上方设置有数据绑定垫14，称数据绑定垫14所在的一侧为阵列基板10的DP侧，与DP侧相对的一侧为阵列基板10的DPO侧，GOA单元所在的两侧为阵列基板10的GOA侧。
[0033]为保证产品良率，在阵列基板10制程的最后阶段，需要对阵列基板10上的栅线、数据线等信号线进行检测。其中对数据线的检测方式为:再次参见图1，在阵列基板10的DPO侧设置检测线11，各条数据线的一端均连接至该检测线11上，检测线的端部Ila与连接线12相连，连接线12与检测垫13相连。检测时，通过检测垫13将低电平信号施加于检测线11上，使数据线的一端置低，同时从DP侧向数据线的另一端施加高电平信号，如果数据线上产生较大的电压差，则说明数据线存在断路。
[0034]对于上述结构的阵列基板10，如图2所示，在后续完成阵列基板10与彩膜基板20的对盒，并将对盒后的整片玻璃切割成单个的面板单元后，检测线的端部Ila会裸露出来，由于切割后阵列基板10中仅有DP侧是超出彩膜基板20边缘的，DPO侧和两个GOA侧均与彩膜基板20的边缘对齐，因此无法通过在GOA侧涂覆UV胶对检测线的端部Ila裸露的金属进行保护，导致金属只能裸露在空气中，长时间会发生金属腐蚀现象，严重时会引起液晶泡沫及相关不良问题，造成显示装置的可靠性下降。
[0035]基于上述研究和发现，本发明的发明人提出了如下技术方案。需要说明的是，为使所提出的技术方案的目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面将结合附图，对所提出的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是所提出的技术方案的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，均属于本发明保护的范围。
[0036]本实施例提供了一种阵列基板，如图3所示，该阵列基板10包括数据线(图中未示出)、检测线11和引出线15，其中，检测线11用于对数据线进行检测；引出线15的一端与检测线的端部Ila相连，另一端从阵列基板10的DP侧引出，检测线11的两端各连接一条引出线15。
[0037]上述阵列基板10中，通过设置引出线15，使引出线15的一端连接检测线的端部11a，另一端从阵列基板10的DP侧引出，这相当于将检测线11的两端从DP侧引出。如图3所示，在阵列基板10与彩