技术特征：
1.一种激光设备的校准方法，其特征在于，包括以下步骤：s01、设定激光设备待校准参数的理论值，控制该激光设备以该理论值输出第一激光；s02、获取所述第一激光的实测数据作为实际值，比对所述理论值与实际值计算补偿误差值；s03、将该误差补偿值写入激光设备，并控制激光设备输出对所述理论值进行误差补偿后的第二激光；s04、获取所述第二激光的实测数据作为校准值，比对所述校准值与所述理论值计算两者偏差；s05、若所述偏差在设计范围内，则完成校准，若超出设计范围则返回步骤s02。2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，步骤s01中，所述待校准参数包括功率和/或摆幅。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，步骤s01中，设定至少一组所述待校准参数。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待校准参数包括摆幅时，设定一组最大摆幅参数进行校准。5.根据权利要求2所述方法，其特征在于，所述待校准参数包括功率和摆幅两种参数时，先设定其中一种参数进行校准，然后再设定另一种参数进行校准；或者，同时设定两种参数进行校准。6.一种实现权利要求1至5任一项的校准方法的校准系统，其特征在于，包括与所述激光设备通讯连接的上位机及与所述上位机电连接的至少一个测量装置；所述上位机将处理的数据发送给所述激光设备，所述激光设备接收所述数据，并按照所述数据输出激光，所述测量装置测量所述激光的参数，并将测量的数据发送给所述上位机处理。7.根据权利要求6所述的校准系统，其特征在于，所述测量装置包括用于测量所述激光的摆幅及一部分功率的位置传感功率计和用于测量所述激光另一部分功率的激光功率计。8.根据权利要求7所述的校准系统，其特征在于，所述上位机为电脑、单片机或plc控制器。
技术总结
本发明涉及激光加工技术领域，公开了一种激光设备的校准方法及系统，包括以下步骤：S01、设定激光设备待校准参数的理论值，控制该激光设备以该理论值输出第一激光；S02、获取所述第一激光的实测数据作为实际值，比对所述理论值与实际值计算补偿误差值；S03、将该误差补偿值写入激光设备，并控制激光设备输出对所述理论值进行误差补偿后的第二激光；S04、获取所述第二激光的实测数据作为校准值，比对所述校准值与所述理论值计算两者偏差；S05、若所述偏差在设计范围内，则完成校准，若超出设计范围则返回步骤S02。本方法可以简便快捷的实现对激光设备的输出功率和/或摆幅的参数校准，方法步骤简单易实现，并且校准的准确率较高。并且校准的准确率较高。并且校准的准确率较高。
技术研发人员：蒋峰 邓金荣 陈尚
受保护的技术使用者：苏州创鑫激光科技有限公司
技术研发日：2022.02.17
技术公布日：2022/7/12