技术总结
本实用新型涉及一种用于奥氏体晶粒度渗碳法试验的热处理装置，包含：罐体；固体渗碳剂，设置在罐体的内部；透气隔板，固定设置在罐体的内侧壁上，且位于固体渗碳剂的上方，用于摆放多个彼此不接触的试样样品；密封盖，覆盖设置在罐体的顶端，对罐体进行密封；其中，所述的固体渗碳剂包含：渗碳催化剂，铺设在罐体的底部；活性炭，铺设在渗碳催化剂的上方，且位于透气隔板的下方。本实用新型能在常规的箱式电阻炉中实现奥氏体晶粒度渗碳法的试验，可降低试验成本，提高试验效率；且渗碳热处理质量良好，渗碳层均匀，满足渗碳法的奥氏体晶粒度的检验要求。
技术研发人员：顾佳磊;华建国;陆连萍;纵海;蒲洲
受保护的技术使用者：上海电气核电设备有限公司
文档号码：201720572165
技术研发日：2017.05.22
技术公布日：2017.12.22