金相试样夹持装置的制作方法

文档序号:16073461发布日期:2018-11-24 13:44阅读:719来源:国知局
金相试样夹持装置的制作方法

本发明涉及金属材料研究领域,特别涉及一种金相试样夹持装置。

背景技术

金相试样的制备是显微组织观察研究的前提。目前,随着金属材料在各行各业的需求的日益提高,对金相试样进行的检测的数量也越来越多,试样的形状也多种多样,由于形状各异,夹持困难,从而制备工序繁琐且效率低,为了提高试样金相检测的工作效率和得到更优的微观组织观察图像,需尽可能提高制备金相试样的效率和金相试样质量。

目前金相试样的制备大体采用三种方法:①直接用手拿着试样在砂纸和抛光机上进行打磨和抛光,但该方法对于小尺寸试样,在用手工夹持过程中容易磨伤手指,而且由于手指用力不均匀,会出现试样表面处理不平整现象,不能确保打磨、抛光后的试样表面质量,并且在打磨过程中试样容易与抛光布之间摩擦力过大而飞出,对实验者及周边人造成伤害。除此之外,人工打磨、抛光时一次只能单次加工一个试件,工作效率较低。②对试样进行镶嵌处理后再进行打磨、抛光处理,但该种方法操作过程较为复杂,容易造成镶嵌料的浪费,而且镶嵌料的凝固需要至少12小时的时间,加工效率低。③采用专用夹具夹持试样然后再进行打磨抛光处理,但目前现有的夹具结构较为复杂,成本较高,而且一种夹具通常只适用于一种规格的试样,调节不便,使用严重受到限制。急需一种操作方便、易于调节、保证生产效率、成本低廉、安全可靠的金相试样夹持装置。



技术实现要素:

本发明的目的在于提供一种金相试样夹持装置,解决了现有技术存在的上述问题。本发明能够对多个及多种形状的金相试样进行稳固的夹持。

本发明的上述目的通过以下技术方案实现:

金相试样夹持装置,包括上夹具3、下夹具4,所述上夹具3、下夹具4相对应的夹持面上设有防滑凸起结构,所述上夹具3、下夹具4上相对应的位置分别设有两个通孔,所述上夹具3、下夹具4上的两个通孔设置方式为对称设置;螺柱1穿过所述上夹具3、下夹具4上对应位置处的通孔,所述螺柱1上设有螺母2,所述上夹具3、下夹具4的夹持面上相对应位置分别设有一个半六边形缺口槽,所述半六边形缺口槽设置在两通孔之间。

所述的上夹具3是一个长方体铝镁合金板,其上设有两个通孔,所述通孔为螺柱1插入定位孔;所述下夹具4上设有与上夹具的通孔位置相同的两个对称通孔。

所述的螺柱1为六角单头螺柱。

所述的上夹具3、下夹具4的夹持面上、位于两通孔之间各设有至少一个半六边形缺口槽,半六边形缺口槽分别一一对应,且相对应位置处的半六边形缺口槽结构相同。

所述的防滑凸起结构为“十”字型凸起结构。

本发明的有益效果在于:构思新颖,结构简单,操作方便,易于调节,成本低廉,安全可靠。节约了磨制试样时间,提高了制备试样的工作效率及实验的安全性,减小了工作人员的劳动强度,保证生产效率、实用性强。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部分,本发明的示意性实例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。

图1为本发明的整体结构示意图;

图2、图3为本发明的实施例示意图;

图4为本发明的局部结构示意图;

图5为本发明的上夹具的结构示意图;

图6为本发明的上夹具的俯视示意图;

图7为本发明的螺柱结构示意图;

图8为本发明的螺帽结构示意图。

图中:1、螺柱;2、螺帽;3、上夹具;4、下夹具。

具体实施方式

下面结合附图进一步说明本发明的详细内容及其具体实施方式。

参见图1至图8所示,本发明的金相试样夹持装置,包括上夹具3、下夹具4,所述上夹具3、下夹具4相面对的夹持面上设有防滑凸起“十”字花样结构,所述上夹具3、下夹具4上相对应的位置分别设有两个通孔,所述的上夹具3、下夹具4上的两个通孔设置方式为对称设置;螺柱1穿过所述上夹具3、下夹具4上对应位置处的通孔,所述螺柱1上设有螺母2,所述上夹具3、下夹具4的夹持面上相对应位置分别设有一个半六边形缺口槽,所述半六边形缺口槽设置在两通孔之间。

所述的上夹具3是一个长方体铝镁合金板,其上设有两个通孔,所述通孔为螺柱1插入定位孔,具体尺寸可依据实际需要自行设定,在夹具夹持面设有防滑凸起“十”字花样结构,作用是提升夹持试样的摩擦力,同时加工有半六边形凹槽,作用是利于夹持不易用手拿的小型金相试样。下夹夹4同时设有与上夹具上通孔位置相同的两个对称通孔。

螺柱1为六角单头螺柱,为符合国家标准尺寸的六角单头螺柱,具体尺寸根据上、下夹具上的通孔尺寸和所夹持试样尺寸选取,优选尺寸外径尺寸小于六角单头螺柱,间隙配合,有助于调节试样夹持位置。

使用时,逆时针旋转螺帽,根据试样尺寸调整上下夹具之间的距离,将准备制备的金相试样放置于上、下夹具之间,使金相试样的外壁贴合防磨网格,保持试样侧面(磨抛面)与两夹具侧面平行,这样可以将夹具与试样同时进行磨制和抛光,增加摩擦面积,保证试样的磨面平整。最后调整螺帽松紧,保证试样夹持紧后即可对金相试样进行打磨、抛光制样过程中手持上下夹具,持样方便且能够有效保护实验者手指。制样结束后,松开螺帽,即可取出试样,进行下一步观察。

实施例1:

本实施例的金相试样夹持装置,包括:上、下夹具,所述上、下夹具相面对的夹持面上设有防滑凸起“十”字花样结构。所述上、下夹具上相对应位置分别各自设有四个通孔,所述上、下夹具上的四个通孔对称设置;螺柱穿过所述上、下夹具上对应位置处的通孔,所述螺柱上设有螺母;所述上、下夹具的夹持面上相对应位置各自设有两个半六边形缺口槽;所述上、下夹具上各半六边形缺口槽分别设置在相邻两通孔之间。

上述各实例中,所述上夹具、下夹具相面对的夹持面上设置的防滑凸起结构为“十”字网状纹路凸起。

上述各实例中,所述螺柱的上端端面上设置有便于安装或拆卸的起子口;所述起子口为“十”字形状。

上述各实例中,要求制备夹持具所使用的材料硬度要小于所磨抛试样材料的硬度。

实施例2:

本实施例的金相试样夹持装置包括上、下夹具;且上、下夹具上方分别设有通孔,所述的上、下夹具通孔分别一一对应,且螺柱穿过所述的上、夹具上对应位置处的通孔,所述螺柱上还设有螺母,以起到紧固的作用。其中,所述的上、夹具相面对的夹持面上设有防滑“十”字型凸起结构。

所述的上、夹具的夹持面上各设有至少一个半六边形缺口槽,所述的上、夹具上的半六边形缺口槽分别一一对应,且相对应位置处的半六边形缺口槽结构相同。

所述的上、夹具相面对的夹持面上设置的防滑凸起结构为“十”字型凸起结构。

所述的上、下夹具上相对应位置分别各自设有两个通孔,且所述的上、下夹具上的两个通孔为对称设置;所述的上、下夹具上的半六边形缺口槽设置在两通孔之间。

以上所述仅为本发明的优选实例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡对本发明所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

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