一种用于LED芯片测试设备的磨针装置的制作方法

本实用新型涉及芯片测试设备领域，特别涉及一种用于led芯片测试设备的磨针装置。

背景技术：

目前的led芯片测试设备在测试过程中，容易出现针尖氧化等问题，现有设备只能采用人工用无尘棉签手动擦拭探针表面的方式来减缓针尖的氧化现象。

技术实现要素：

针对上述问题，本实用新型的主要目的在于提供一种用于led芯片测试设备的磨针装置。

本实用新型的技术方案如下：一种用于led芯片测试设备的磨针装置，用以打磨led芯片测试设备的探针，所述磨针装置包括固定架以及固定于所述固定架的磨石，所述固定架固定于led芯片测试设备中的移动底座，移动底座移动带动所述固定架上的磨石打磨led芯片测试设备的探针。

可选的，所述磨石设有供探针伸入并打磨的凹槽，所述凹槽的侧壁与所述探针接触，以打磨所述探针。

可选的，所述探针具有连接部和工作部，所述连接部与所述工作部具有第一夹角，所述凹槽的侧壁相对于所述凹槽的底面有第二夹角，所述第一夹角与所述第二夹角角度相同，磨石的凹槽的侧壁打磨探针的工作部。

可选的，所述磨石通过磨石底座安装于所述固定架，所述磨石底座与所述固定架固定连接，所述磨石底座设有螺纹孔，紧固螺钉通过与螺纹孔配合将所述磨石固定于所述磨石底座。

可选的，所述磨石的颗粒度为2000目至4000目。

可选的，所述磨针装置还包括清洁装置，用以清洁所述探针。

可选的，所述清洁装置包括固定于所述固定架的马达和安装于所述马达的毛刷，所述马达带动所述毛刷转动，所述毛刷清洁所述探针。

可选的，所述马达为步进马达，所述毛刷清洁探针时，所述毛刷在所述马达的带动下，先顺时针旋转，再逆时针旋转。

可选的，所述马达的转速为50转/分钟至70转/分钟。

本实用新型至少具有如下技术效果：

1、本实用新型通过自动化控制，可有效减少因为人员处理不及时而产生的led芯片测试设备待机，从而提高设备稼动率；

2、通过磨针装置，有效解决了氧化层无法正常通过人工消除的问题，提高了探针与led芯片测试设备的电极之间的良好接触，使led芯片测试的测试数据更加稳定；

3、通过控制清洁装置马达的转速，从而控制毛刷与探针接触力度的大小，有效减少了因人工清洁力道不一致导致的针尖损耗。

此外，本实用新型还提供了一种led芯片测试设备，包括上述任意一项所述的磨针装置。本实用新型所提供的led芯片测试设备的有益效果与前述磨针装置的有益效果推理过程相同，在此不再赘述。

本实用新型的这些特点和优点将会在下面的具体实施方式以及附图中进行详细的揭露。本实用新型最佳的实施方式或手段将结合附图来详尽表现，但并非是对本实用新型技术方案的限制。另外，在每个下文和附图中出现的这些特征、要素和组件是具有多个，并且为了表示方便而标记了不同的符号或数字，但均表示相同或相似构造或功能的部件。

附图说明

图1为本实用新型实施例的整体结构示意图；

图2为本实用新型实施例中磨石底座与磨石的整体结构示意图；

图3为本实用新型实施例中磨石与探针的侧视图；

图4为本实用新型实施例中清洁装置的整体结构示意图；

图5为本实用新型实施例中两根探针针尖的磨损及打磨的演变图。

其中，1-承载盘，2-移动底座，3-固定架，5-清洁装置，6-磨石底座，7-磨石，8-螺钉，9-欧姆卡，10-螺纹孔，11-马达，12-马达轴，13-毛刷固定件，14-毛刷，16-工作部，17-第一夹角，18-第二夹角，19-连接部，20-凹槽,31-连接片。

具体实施方式

下面结合本实用新型实施例的附图对本实用新型实施例的技术方案进行解释和说明，但下述实施例仅为本实用新型的优选实施例，并非全部。基于实施方式中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其他实施例，都属于本实用新型的保护范围。

在本说明书中引用的“一个实施例”或“实例”或“例子”意指结合实施例本身描述的特定特征、结构或特性可被包括在本专利公开的至少一个实施例中。短语“在一个实施例中”在说明书中的各位置的出现不必都是指同一个实施例。

实施例一：

如图1和图2所示，本实用新型实施例提供了一种用于led芯片测试设备的磨针装置，用以打磨led芯片测试设备的探针，磨针装置包括固定架3以及固定于固定架3的磨石7，固定架3固定于led芯片测试设备中控制承载盘1在垂直方向移动的移动底座2上，移动底座2移动带动固定架3上的磨石7打磨led芯片测试设备的探针。

在本实施例中，固定架3呈t字型，t字型的竖梁底部设有连接片31，固定架3通过连接片31与移动底座2连接，连接片31以及移动底座2均设有位置相对应的螺纹孔，螺栓通过与连接片31和移动底座2的螺纹孔相配合将固定架3固定于移动底座2表面。移动底座2受测试设备控制端的控制带动承载盘1和固定架3作垂直方向上的移动。磨石底座6位于t字型横梁的一端，磨石底座6与t字型横梁的连接方式本实施例优选采用一体成型方式，在其他实施例中也可以采用焊接、螺纹连接等方式。磨石底座6的侧面设有螺纹孔(图中未标出)，紧固螺钉8通过与螺纹孔的配合将磨石7固定于磨石底座6。

如图3所示，磨石7设有供探针伸入并打磨的凹槽20，凹槽20开口朝上。探针具有连接部19和工作部16，连接部19与工作部16具有第一夹角17，与该探针对应的，磨石7的凹槽20的侧壁相对于凹槽20的底面有第二夹角18，第一夹角17与第二夹角18角度相同，工作部16伸入磨石7的凹槽20，磨石7的凹槽20的侧壁打磨探针的工作部16，此处的工作部16亦即探针的针尖部分。

在本实施例中，固定架3的t字型横梁的另一端设有清洁装置5，如图4所示，清洁装置5包括固定于固定架3的马达11和安装于马达11的毛刷14，毛刷14通过毛刷固定件13固定于马达11。马达11通过欧姆卡9固定于固定架3的t字型横梁的另一端，欧姆卡9的横截面为ω形，欧姆卡9的两侧平面部与固定架3的t字型横梁上都有对应的螺纹孔10，欧姆卡9通过螺钉和螺纹孔10与平板固定连接；马达11贯穿固定于欧姆卡9的拱形部内；毛刷固定件13为圆筒形塑料固定件，毛刷固定件13的圆筒周向等间距地插有八束毛刷14；毛刷固定件13与马达11的马达轴12通过轴孔配合安装。马达11通过马达驱动器与led芯片测试设备的控制端电连接，用于控制毛刷固定件13的旋转。

本实施例中，磨石7凹槽20的底面、毛刷固定件13的毛刷14旋转最高点与承载盘1的上表面位于同一水平面。

本实施例中，磨石7的颗粒度在2000目至4000目之间。磨石7颗粒度太大，容易导致针尖过度磨损，颗粒度太小，无有效磨损效果。毛刷14优选纤维毛刷。马达11优选步进马达，毛刷14清洁探针时，毛刷14在马达11的带动下，以顺时针旋转一周和逆时针旋转一周的方式交替旋转。马达11的转速采用50转/分钟至70转/分钟，本实施例优选采用60转/分钟。

在本实施例的实际工作过程中，通过led芯片测试设备的控制端控制承载盘1和固定架3在空间里移动，使磨石7的凹槽20底面刚好接触两根探针的工作部16，此时再通过控制端控制移动底座2做小幅度的循环反复移动，带动磨石7打磨掉工作部16的氧化层，达到消除针尖氧化的目的。如图5所示，两根探针的工作部16由于久用磨损或氧化，出现针尖钝化，经过磨石7打磨后，钝化的针尖除去了钝化的阴影部分，重新得到尖锐的针尖。

当需要使用毛刷14清洁探针针尖时，通过控制端控制承载盘1和固定架3移动，使毛刷14位于探针针尖正下方，此时再通过控制端控制马达驱动器驱动马达11使毛刷固定件13旋转，八束毛刷14通过旋转循环依次扫过针尖，达到清洁针尖的效果。

实施例二：

本实施例提供一种led芯片测试设备，包括上述实施例中所述的磨针装置。

以上，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，熟悉该本领域的技术人员应该明白本发明包括但不限于附图和上面具体实施方式中描述的内容。任何不偏离本发明的功能和结构原理的修改都将包括在权利要求书的范围中。