1.一种大规格千分尺测量面的研磨方法，其特征在于，包括
一大规格千分尺，所述大规格千分尺包括弧形的第二主体支架(20)，以及可拆卸的安装在第二主体支架(20)一端的第二测砧(21)，以及可拆卸的安装在第二主体支架(20)另一端的第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)；
一研磨架，所述研磨架包括连接部(12)、左安装部(10)和右安装部(11)，所述左安装部(10)和右安装部(11)分别与连接部(12)的左右两端固定连接和一体成型，所述左安装部(10)上设有第一内孔(15)，所述右安装部(11)上设有第二内孔(16)，所述第一内孔(15)和第二内孔(16)同轴分布，所述左安装部(10)和右安装部(11)之间的间距不超过300mm；
其具体步骤如下：
步骤一：将第二测砧(21)从第二主体支架(20)上拆卸下来，并将第二测砧(21)安装在第一内孔(15)上；
步骤二：将第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)从第二主体支架(20)上拆卸下来，再将第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)组装在第二内孔(16)上；
步骤三：将研磨棒(30)放置在第二测微螺杆(22)和第二测砧(21)之间，通过调节第二微分筒(23)和第二测力装置(25)，使得第一测量面和第二测量面分别与研磨棒(30)的两端面接触；其中，第一测量面是指第二测砧(21)上靠近第二测微螺杆(22)的端面，第二测量面是指第二测微螺杆(22)上靠近第二测砧(21)的端面；
步骤四：通过研磨棒(30)对第一测量面和第二测量面进行研磨，直到第一测量面的平面度和第二测量面的平面度达到检定规程的要求，以及第一测量面和第二测量面之间的平行度达到检定规程的要求；
步骤五：将第二测砧(21)、第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)从研磨架上拆卸下来,再将第二测砧(21)、第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)重新组装在第二主体支架(20)上；
步骤六、对重新组装好的大规格千分尺进行调“零”。
2.根据权利要求1所述的一种大规格千分尺测量面的研磨方法，其特征在于，所述连接部(12)至少包括一半圆形的弧形弯曲部。
3.根据权利要求1所述的一种大规格千分尺测量面的研磨方法，其特征在于，所述左安装部(10)为筒状，所述左安装部(10)的侧壁上设有两个径向的螺纹孔，所述两个螺纹孔与第一内孔(15)相通以及垂直，所述第一内孔(15)与第二测砧(21)间隙配合，第二测砧(21)安装在第一内孔(15)上的具体过程为：
先将第二测砧(21)从第一内孔(15)的外端伸入，并使第二测砧(21)的一端伸出第一内孔(15)；
再通过紧固螺丝(14)与两个螺纹孔的配合将第二测砧(21)安装在第一内孔(15)内。
4.根据权利要求1所述的一种大规格千分尺测量面的研磨方法，其特征在于，所述右安装部(11)为筒状，所述右安装部(11)的侧壁上还设有一锁紧孔(13)，所述锁紧孔(13)与第二内孔(16)相通以及垂直，所述大规格千分尺还包括一锁紧组件(26)，所述第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)通过锁紧组件(26)可拆卸的安装在第二主体支架(20)上；
步骤二的具体过程为：
先将锁紧组件(26)从第二主体支架(20)上拆卸下来，然后再将第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)作为一个整体从第二主体支架(20)上拆卸下来，然后再将第二测微螺杆(22)从第二内孔(16)的外端伸入，并使第二测微螺杆(22)的一端伸出第二内孔(16)，最后再通过锁紧组件(26)与锁紧孔(13)配合将第二测微螺杆(22)安装在第二内孔(16)内，进而使得第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)安装在研磨架上。
5.根据权利要求1所述的一种大规格千分尺测量面的研磨方法，其特征在于，所述左安装部(10)和右安装部(11)之间的间距不小于50mm并且不超过150mm。
6.根据权利要求1所述的一种大规格千分尺测量面的研磨方法，其特征在于，通过研磨棒对第一测量面和第二测量面进行研磨的具体过程为：
依次采用第一研磨棒、第二研磨棒、第三研磨棒和第四研磨棒对第一测量面和第二测量面进行研磨，所述第一研磨棒、第二研磨棒、第三研磨棒和第四研磨棒的长度逐渐增大或减小0.125mm。
7.根据权利要求6所述的一种大规格千分尺测量面的研磨方法，其特征在于，步骤三的具体步骤如下：
步骤一：将第一研磨棒放置在第二测砧和第二测微螺杆之间，转动第二测力装置使得第一研磨棒的两端面分别与第一测量面和第二测量面相抵，然后使得第一研磨棒在径向方向上往复移动以及转动，并持续1-3分钟；
步骤二：将第二研磨棒放置在第二测砧和第二测微螺杆之间，转动第二测力装置使得第二研磨棒的两端面分别与第一测量面和第二测量面相抵，然后使得第二研磨棒在径向方向上往复移动以及转动，并持续1-3分钟；
步骤三：将第三研磨棒放置在第二测砧和第二测微螺杆之间，转动第二测力装置使得第三研磨棒的两端面分别与第一测量面和第二测量面相抵，然后使得第三研磨棒在径向方向上往复移动以及转动，并持续1-3分钟；
步骤四：将第四研磨棒放置在第二测砧和第二测微螺杆之间，转动第二测力装置使得第四研磨棒的两端面分别与第一测量面和第二测量面相抵，然后使得第四研磨棒在径向方向上往复移动以及转动，并持续1-3分钟；
步骤五：检测第一测量面和第二测量面之间的平行度，当达到平行度的检定要求时，研磨结束，当没有达到平行度的检定要求时，重复上述步骤一到四。
8.根据权利要求1所述的一种大规格千分尺测量面的研磨方法，其特征在于，所述研磨架通过小规格千分尺的主体支架改造而成。
9.根据权利要求8所述的一种大规格千分尺测量面的研磨方法，其特征在于，所述研磨架通过小规格千分尺的主体支架改造过程如下：
步骤一：将小规格千分尺的主体支架上的第一测微螺杆、第一微分筒、第一固定套筒和第一测力装置拆卸下来；
步骤二：将小规格千分尺的主体支架上具有第一测砧的一端切割掉，然后再将具有第一内孔的左安装部焊接在小规格千分尺的主体支架上被切割掉的一端上；
步骤三：对左安装部的第一内孔进行加工、研磨，使得其内径达到φ8+0.005mm，并使得测砧套筒的内孔与小规格千分尺的主体支架上的第二内孔同轴。
10.一种用于大规格千分尺测量面研磨的装置，其特征在于，采用根据权利要求1-9中任一项所述大规格千分尺测量面的研磨方法对大规格千分尺进行研磨。