一种利用磁控溅射技术制备氢化硅碳薄膜涂层的方法与流程

文档序号:30943563发布日期:2022-07-30 02:43阅读:来源:国知局

技术特征:
1.一种磁控溅射制备氢化硅碳薄膜的方法,其特征在于,包括下列步骤:1)将基体预处理后放入磁控溅射镀膜设备真空室中的转架杆上,该转架杆随转架台转动,同时自转,保证镀膜过程的均匀性;2)以平面si靶、c靶作为相应元素的来源,平面si靶和c靶以对靶的方式安置在炉体内壁上;3)将真空室的气压抽至10-4~10-3pa,加热基体,使基体温度为200~250℃;4)将基体转移到等离子体浸没式离子注入机的真空室a(7)内,该真空室a(7)内的两端分别设有si靶(5)和c靶(6),带有氮化钛涂层的医用钛合金固定在试样盘a(6)上,调节真空室a(7)的真空度为10-4-10-3pa,阴极使用c靶(5)当作离子源,调节试样盘a(6)的转速为8~35转/分钟,并依靠水冷对试样盘a(6)降温,然后在常温下进行c离子注入,c离子的加速电压为30kv~80kv,注入时间为0.5~1h,得到氢化硅碳薄膜。2.如权利要求1所述的磁控溅射制备氢化硅碳薄膜的方法,其特征在于,所述基体包括单晶si片、石英片或高速钢片。3.如权利要求2所述的磁控溅射制备氢化硅碳薄膜的方法,其特征在于,所述步骤5)结束后,将沉积有氢化硅碳薄膜的单晶硅片或石英片在真空炉内1000℃退火,退火时间为30min。4.如权利要求1所述的磁控溅射制备氢化硅碳薄膜的方法,其特征在于,所述步骤4)中,通入ar气的流量为16~24sccm,当真空室气压达到4~8pa时保持该气压,开负偏压至-800v~-1000v,对真空室和基体进行轰击清洗,持续20~40min。

技术总结
本发明公开了一种磁控溅射制备氢化硅碳薄膜涂层的方法,将基体预处理后放入磁控溅射镀膜设备中,以平面Si靶和C靶作为相应元素的来源,Si靶、C靶以对靶的方式安置在炉体内壁上,通过调整中频脉冲电源的功率控制靶的溅射率;采用高纯Ar作为离化气体,保证有效的辉光放电过程;采用高纯H2作为反应气体,使其离化并与Si、C元素结合,在基体表面沉积形成氢化硅碳薄膜,通过掺入C含量的变化,改变Si、C的化学计量比,进而改变薄膜的光电性能。本发明制备的氢化硅碳薄膜可在太阳能电池、薄膜晶体管、发光二极管、紫外图像传感器、微细超流涂层以及防腐抗氧化涂层等方面得到广泛应用。及防腐抗氧化涂层等方面得到广泛应用。及防腐抗氧化涂层等方面得到广泛应用。


技术研发人员:王志博 杨添皓 周睿 苏晓欣 张恩永
受保护的技术使用者:王志博
技术研发日:2022.05.12
技术公布日:2022/7/29
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