一种用于无创产前评估半侧颜面短小综合征的基因芯片、试剂盒及基因芯片的应用方法与流程

文档序号:16592252发布日期:2019-01-14 19:13阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明涉及一种用于无创产前评估半侧颜面短小综合征的基因芯片、试剂盒及基因芯片的应用方法,基因芯片包括片基,该片基上设有探针组形成微阵列基因芯片;试剂盒包括该基因芯片/引物组和酶系等。基因芯片的应用方法为:首先,准备含有DNA的样本,然后PCR扩增,然后采用所述的基因芯片进行杂交。该微阵列芯片能够以待测孕妇外周血的cf‑fDNA为模板进行多重PCR扩增,得到PCR扩增产物后,与本发明的芯片进行杂交,根据杂交结果确定胎儿是否携带有先天性半侧颜面短小综合征相关基因;非常简单,大大降低误差率和时间成本,提高精确度;能用于产前先天性遗传病的诊断,在无创产前诊断领域具有很大的潜力。

技术研发人员:张娇;章庆国;赵驰
受保护的技术使用者:张娇
技术研发日:2018.09.14
技术公布日:2019.01.11
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