检测装置的制作方法

本实用新型涉及电梯零部件技术领域，特别涉及一种检测装置。

背景技术：

现有技术中，电梯的门锁(轿门锁和厅门锁)是被串联在一起后进行整体检测的，对每一个门锁的状态无法独立检测。而且，在检测门锁短接时门锁回路被旁路，这时，如果任一轿门或者厅门处于未闭合位置，而电梯控制器无法得知这一状况却控制电梯轿厢运行，这种情况下轿厢运行可能带来人身伤害，存在安全隐患。另外，若检测到门锁回路被短接，但是，由于不能确定具体被短接的门锁，所以导致维修检测的效率很低。

技术实现要素：

本实用新型实施方式的目的在于提供一种检测装置，可以独立检测每个电梯门锁的状态，消除门锁短接检测待来的安全隐患，提高维修效率。

为解决上述技术问题，本实用新型的实施方式提供了一种检测装置，包括：微处理器、第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第一引脚、第二引脚、第三引脚与第四引脚；

所述第一引脚、所述第二引脚连接于待测门锁所在的支路，且位于所述待测门锁的第一侧；所述第三引脚、所述第四引脚连接于所述待测门锁所在的支路，且位于所述待测门锁的第二侧；所述第二引脚、所述第三引脚均位于所述待测门锁侧；

所述第一引脚、所述第二引脚之间串联所述第一开关；所述第三引脚、所述第四引脚之间串联所述第二开关；所述第一开关与所述第二开关在所述待测门锁所对应的门关闭时处于闭合状态；

所述第二引脚经所述第三开关连接至所述微处理器；所述第三引脚经所述第四开关连接至参考电势点；所述第三开关与所述第四开关在所述待测门锁所对应的门关闭时均处于断开状态；

在所述待测门锁所对应的门处于开门状态时，所述第一开关、所述第二开关断开，所述第三开关、所述第四开关闭合，所述检测装置与所述待测门锁组成检测回路；所述微处理器根据检测到的电势与所述参考电势点处的电势，判断所述待测门锁是否处于短接状态。

本实用新型的实施方式还提供了一种检测装置，包括：微处理器、第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关、第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚与第五引脚；

所述第一引脚、所述第二引脚、所述第三引脚、所述第四引脚与所述第五引脚连接于第一待测门锁与第二待测门锁所在的支路，所述第一待测门锁与所述第二待测门锁串联在所述支路中；

所述第一引脚、所述第二引脚位于所述第一待测门锁的第一侧；所述第一待测门锁的第二侧为第二待测门锁侧；所述第三引脚连接于所述第一待测门锁与所述第二待测门锁之间的节点；所述第四引脚、所述第五引脚位于所述第二待测门锁的第一侧；所述第二待测门锁的第二侧为第一待测门锁侧；

所述第一引脚、所述第二引脚之间串联所述第一开关；所述第三引脚经所述第五开关连接至参考电势点；所述第五引脚与所述第二待测门锁连接，且所述第五引脚与所述第四引脚之间还串联所述第二开关；在第一门与第二门均关闭时，所述第一开关与所述第二开关处于闭合状态；所述第一门为所述第一待测门锁所对应的门，所述第二门为所述第二待测门锁所对应的门；

所述第二引脚经所述第三开关连接至所述微处理器；所述第五引脚经所述第四开关连接至所述微处理器；在所述第一门与所述第二门均关闭时，所述第三开关与所述第四开关均处于断开状态；

在所述第一门与所述第二门均处于开门状态时，所述第一开关、所述第二开关断开，所述第三开关、所述第四开关闭合，所述检测装置与所述第一待测门锁组成第一检测回路；所述检测装置与所述第二待测门锁组成第二检测回路；

所述微处理器根据检测到的第一电势与所述参考电势点处的电势，判断所述第一待测门锁是否处于短接状态；所述第一电势为所述第一待测门锁的第一侧的电势；

所述微处理器根据检测到的第二电势与所述参考电势点处的电势，判断所述第二待测门锁是否处于短接状态；所述第二电势为所述第二待测门锁的第一侧的电势。

本实用新型实施方式相对于现有技术而言，在待测门锁所对应的门处于开门状态时，第一开关、第二开关断开，这样，就将待测门锁与所在支路断开连接，将待测门锁从所在支路中截取出来，同时，第三开关、第四开关闭合，这样，检测装置与待测门锁就组成了检测回路；微处理器根据检测到的电势与参考电势点处的电势，判断待测门锁是否处于短接状态。这样，可以独立检测每个电梯门锁的状态，消除门锁短接检测待来的安全隐患，提高维修效率。

另外，所述第一开关、所述第二开关均为常闭触点；所述第三开关、所述第四开关均为常开触点；所述检测装置还包括：继电器；所述继电器与所述微处理器连接；在所述待测门锁所对应的门处于开门状态时，所述微处理器控制所述继电器通电，所述继电器通电后动作，触发所述常闭触点断开，所述常开触点闭合。通过继电器与触点配合的方式，实现检测装置中的开关，可以有效地控制所有开关同步动作。

另外，检测装置还包括二极管；所述二极管并联在所述继电器两端。在继电器失电时，释放继电器的线圈上的残余电势，这样，可以保护继电器线圈，避免线圈被反向电动势烧毁。

附图说明

图1是根据本实用新型实施方式中各个待测门锁所在的支路的结构示意图；

图2是根据本实用新型第一实施方式的检测装置结构示意图；

图3是根据本实用新型第一实施方式中的检测装置结构示意图；

图4是根据本实用新型第一实施方式中的检测装置结构示意图；

图5是根据本实用新型第二实施方式中的检测装置结构示意图；

图6是根据本实用新型第三实施方式的检测装置结构示意图；

图7是根据本实用新型第三实施方式中的检测装置结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本实用新型各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。

图1为本实用新型实施方式中各个待测门锁所在的支路的结构示意图，在该支路中，待测门锁M1、M2、M3、......、MX依次串联，X为最后一个门锁的序号。电梯控制器会根据检测装置对各个待测门锁的检测结果控制电梯轿厢的运行。其中，待测门锁可以是轿门锁，也可以是厅门锁。在实际应用时，门锁可以是门锁触点。

下面的实施例中将会以对待测门锁M1进行检测和对待测门锁M1、M2同时进行检测为例，对检测装置进行详细介绍。

本实用新型的第一实施方式涉及一种检测装置，具体如图2所示，该检测装置1包括：微处理器、第一开关C1、第二开关C2、第三开关C3、第四开关C4、第一引脚PIN1、第二引脚PIN2、第三引脚PIN3与第四引脚PIN4。

具体地，第一引脚PIN1、第二引脚PIN2连接于待测门锁所在的支路，且位于待测门锁的第一侧(第一侧为图中左侧)；第三引脚PIN3、第四引脚PIN4连接于待测门锁所在的支路，且位于待测门锁的第二侧；第二引脚PIN2、第三引脚PIN3均位于待测门锁侧；第一引脚PIN1、第二引脚PIN2之间串联第一开关C1；第三引脚PIN3、第四引脚PIN4之间串联第二开关C2；第一开关C1与第二开关C2在待测门锁所对应的门关闭时处于闭合状态。

第二引脚PIN2经第三开关C3连接至微处理器；第三引脚PIN3经第四开关C4连接至参考电势点Ref；第三开关C3与第四开关C4在待测门锁所对应的门关闭时均处于断开状态。在待测门锁所对应的门关闭时处于闭合状态时，检测装置1与待测门锁之间断路，不对其进行短接检测。

在待测门锁所对应的门处于开门状态时，第一开关C1、第二开关C2断开，第三开关C3、第四开关C4闭合，检测装置与待测门锁组成检测回路；微处理器根据检测到的电势与参考电势点Ref处的电势，判断待测门锁是否处于短接状态。

相对于现有技术而言，可以对单个待测门锁进行状态检测；在待测门锁所对应的门处于开门状态时，第一开关C1、第二开关C2断开，这样，就将待测门锁与所在支路断开连接，将待测门锁从所在支路中截取出来，同时，第三开关C3、第四开关C4闭合，这样，检测装置与待测门锁就组成了检测回路；微处理器根据检测到的电势与参考电势点Ref处的电势，判断待测门锁是否处于短接状态。这样，可以独立检测每个电梯门锁的状态，消除门锁短接检测待来的安全隐患，提高维修效率。

在本实施方式中，如图3所示，第一开关C1、第二开关C2均为常闭触点；第三开关C3、第四开关C4均为常开触点；检测装置还包括：继电器；继电器与微处理器连接；在待测门锁所对应的门处于开门状态时，微处理器控制继电器通电，继电器通电后动作，触发常闭触点断开，常开触点闭合。通过继电器与触点配合的方式，实现检测装置中的开关，可以有效地控制所有开关同步动作。

如图3所示，检测装置1还包括二极管D；二极管D并联在继电器两端。在继电器失电时，释放继电器的线圈上的残余电势，这样，可以保护继电器线圈，避免线圈被反向电动势烧毁。

在本实施方式中，如图4所示，参考电势点Ref的电势为零；检测装置还包括电压上拉电路401；电压上拉电路401连接于微处理器的管脚上，管脚与第三开关C3连接；电压上拉电路401用于在待测门锁未被短接时输出第一预设电压，具体地，第一预设电压可以为3.3～5伏特；微处理器检测到的电势为零时，微处理器判定待测门锁处于短接状态；微处理器检测到的电势值等于第一预设电压值时，判定待测门锁处于非短接状态。其中，微处理器检测到的电势可以是微处理器的管脚上的电势。

具体地，上述的电压上拉电路401包括一个电阻R，该电阻R连接在第三开关C3与零电势之间，电路简单，易于实现。

在实际应用时，检测装置可以封装为检测板，4个引脚PIN1、PIN2、PIN3与PIN4延伸至该检测板的外部，该检测板通过4个引脚与待测待门锁连接，形成检测回路。

本实用新型的第二实施方式涉及一种检测装置。第二实施方式与第一实施方式大致相同，主要区别之处在于：在第一实施方式中，参考电势点Ref的电势为零；检测装置还包括电压上拉电路401，电压上拉电路401用于在待测门锁未被短接时输出第一预设电压。而在本实用新型第二实施方式中，参考电势点Ref的电势为第一预设值；检测装置还包括电压下拉电路501；电压下拉电路501用于在待测门锁未被短接时输出第二预设电压；微处理器检测到的电势值等于第二预设电压值时，判定待测门锁处于非短接状态。这样，丰富了本实用新型的实施方式。

具体地，如图5所示，电压下拉电路501连接于微处理器的管脚上，管脚与第三开关C3连接；电压下拉电路501用于在待测门锁未被短接时输出第二预设电压；微处理器检测到的电势值为第一预设值时，微处理器判定待测门锁处于短接状态；微处理器检测到的电势值等于第二预设电压值时，判定待测门锁处于非短接状态。其中，第一预设值可以为3.3～24伏特，第二预设电压为零。

本实用新型第三实施方式涉及一种检测装置，如图6所示，本实施方式中的检测装置1可以同时对2个待测门锁进行状态检测。该检测装置1包括：微处理器、第一开关C1、第二开关C2、第三开关C3、第四开关C4、第五开关C5、第一引脚PIN1、第二引脚PIN2、第三引脚PIN3、第四引脚PIN4与第五引脚PIN5。

具体地，第一引脚PIN1、第二引脚PIN2、第三引脚PIN3、第四引脚PIN4与第五引脚PIN5连接于第一待测门锁M1与第二待测门锁M2所在的支路，第一待测门锁M1与第二待测门锁M2串联在支路中；第一引脚PIN1、第二引脚PIN2位于第一待测门锁M1的第一侧；第一待测门锁M1的第二侧为第二待测门锁M2侧；第三引脚PIN3连接于第一待测门锁M1与第二待测门锁M2之间的节点；第四引脚PIN4、第五引脚PIN5位于第二待测门锁M2的第一侧；第二待测门锁M2的第二侧为第一待测门锁M1侧。

第一引脚PIN1、第二引脚PIN2之间串联第一开关C1；第三引脚PIN3经第五开关C5连接至参考电势点Ref；第五引脚PIN5与第二待测门锁M2连接，且第五引脚PIN5与第四引脚PIN4之间还串联第二开关C2；在第一门与第二门均关闭时，第一开关C1与第二开关C2处于闭合状态；第一门为第一待测门锁M1所对应的门，第二门为第二待测门锁M2所对应的门；第二引脚PIN2经第三开关C3连接至微处理器；第五引脚PIN5经第四开关C4连接至微处理器；在第一门与第二门均关闭时，第三开关C3与第四开关C4均处于断开状态。

在第一门与第二门均处于开门状态时，第一开关C1、第二开关C2断开，第三开关C3、第四开关C4闭合，检测装置与第一待测门锁M1组成第一检测回路；检测装置与第二待测门锁M2组成第二检测回路；微处理器根据检测到的第一电势与参考电势点Ref处的电势，判断第一待测门锁M1是否处于短接状态；第一电势为第一待测门锁M1的第一侧的电势，具体地，第一电势可以是微处理器与第三开关C3的节点处的电势；微处理器根据检测到的第二电势与参考电势点Ref处的电势，判断第二待测门锁M2是否处于短接状态；第二电势为第二待测门锁M2的第一侧的电势，具体地，第二电势可以是微处理器与第四开关C4的节点处的电势。

相对于现有技术而言，可以对2个待测门锁同时进行状态检测；在待测门锁所对应的门处于开门状态时，第一开关C1、第二开关C2断开，这样，就将待测门锁与所在支路断开连接，将待测门锁从所在支路中截取出来，同时，第三开关C3、第四开关C4闭合，这样，检测装置与第一待测门锁就组成了第一检测回路，检测装置与第二待测门锁就组成了第二检测回路；微处理器根据检测到的第一电势与参考电势点Ref处的电势，判断第一待测门锁是否处于短接状态，微处理器根据检测到的第二电势与参考电势点Ref处的电势，判断第二待测门锁是否处于短接状态。这样，可以独立检测每个电梯门锁的状态，消除门锁短接检测待来的安全隐患，提高维修效率。

在本实施方式中，如图7所示，第一开关C1、第二开关C2均为常闭触点；第三开关C3、第四开关C4、第五开关C5均为常开触点；检测装置还包括：继电器；继电器与微处理器连接；在第一门与第二门均处于开门状态时，微处理器控制继电器通电，继电器通电后动作，触发常闭触点断开，常开触点闭合。通过继电器与触点配合的方式，实现检测装置中的开关，可以有效地控制所有开关同步动作。

如图7所示，检测装置1还包括二极管D；二极管D并联在继电器两端。在继电器失电时，释放继电器的线圈上的残余电势，这样，可以保护继电器线圈，避免线圈被反向电动势烧毁。

本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本实用新型的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本实用新型的精神和范围。