输送装置的整平单元及其应用的电子元件作业设备的制作方法

本发明涉及一种可外张整平载带，使载带的电子元件精准位于预设作业位置，以提高作业品质的整平单元。

背景技术：

在现今，电子元件日趋精密微型化，并装配于一挠性材质制作的载带(如薄膜载带)，业者为确保电子元件的出厂品质，系以测试设备对电子元件执行测试作业，而淘汰出不良品；请参阅图1、图2，该测试设备设有一具探针卡111的测试装置11，并于测试装置11的后方配置一输送装置12，输送装置12设有一作x方向位移的移动架121，移动架121上装配二输送载带13的上链轮122及下链轮123，载带13上固设复数个待测的电子元件14，并于两侧开设复数个卡孔131，以嵌合于上链轮122的上链齿及下链轮123的下链齿，另于移动架121上固设一贴靠于载带13背面的承靠板124；于测试时，输送装置12的移动架121带动具电子元件14的载带13朝向测试装置11的探针卡111作x方向位移，使电子元件14接触探针卡111而执行测试作业；然而，由于载带13是挠性可弯曲的薄膜带体，其相对于探针卡111位置之中段带体易发生弯曲隆起变形，以致电子元件14的摆置位置产生偏移，并无法使电子元件14的接点精准对位接触探针卡111的探针执行测试作业，而影响测试准确性及测试品质，尤其对于测试精密微小的电子元件而言，如何使载带13保持平整以提高电子元件摆置精准性相当重要。

技术实现要素：

本发明的目的在于：提供一种输送装置的整平单元及其应用的电子元件作业设备，解决现有技术中存在的上述技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种输送装置的整平单元，其特征在于，包含：

第一定位具：相对于载带的第一面设置，并设有至少一承靠面；

第二定位具：相对于该载带的第二面设置，并设有至少一开口部，以供显露该载带的电子元件；

至少一齿部件：装配于该第一定位具或该第二定位具，并于一面设有朝外且朝向底部逐渐倾斜扩大的顶推面，该齿部件供嵌入该载带的卡孔，而整平该载带；

定位驱动器：能够驱动该第一定位具或该第二定位具作第一方向位移，以带动该齿部件同步位移。

所述的输送装置的整平单元，其中，该齿部件呈固定式配置于该第一定位具或该第二定位具。

所述的输送装置的整平单元，其中，还包含至少一变距器，以调整该齿部件的位置。

所述的输送装置的整平单元，其中，该变距器是压缸或线性马达，或包含马达及传动组。

所述的输送装置的整平单元，其中，该齿部件的另一面朝内且为平面。

所述的输送装置的整平单元，其中，该齿部件的顶推面由顶部朝向该底部逐渐倾斜扩大，该齿部件的顶部面积小于该卡孔的面积，而该底部面积大于该卡孔的面积。

所述的输送装置的整平单元，其中，该齿部件的中心轴线相同于或向外偏移于该卡孔的中心轴线。

所述的输送装置的整平单元，其中，该定位驱动器是压缸或线性马达，或包含马达及传动组。

所述的输送装置的整平单元，其中，该输送装置还包含承载机构及输送机构，该承载机构设有至少一由承载驱动器驱动作第一方向位移的移动架，该输送机构装配于该承载机构的移动架，并于该移动架设有第一输送轮及第二输送轮，以输送该载带至该整平单元，该整平单元装配于该移动架。

一种应用输送装置的整平单元的电子元件作业设备，其特征在于，包含：

机台；

输送装置：配置于该机台上，并包含承载机构、输送机构及至少一前述输送装置的整平单元，以输送具电子元件的载带及整平该载带；

作业装置：配置于该机台上，并设有至少一对该电子元件执行预设作业的作业器；

中央控制装置：能够控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。

本发明的优点之一，是提供一种输送装置的整平单元，其第一定位具及第二定位具之间供穿置具电子元件的载带，并于第一定位具或第二定位具设有至少一齿部件，该齿部件系于一面设有朝外且朝向底部逐渐倾斜扩大的顶推面，于齿部件嵌入载带的卡孔时，以利用齿部件的顶推面顶推卡孔而带动载带的该侧外移，进而整平载带，使载带的电子元件精准位于预设作业位置，达到有效整平载带及提高作业品质的实用效益。

本发明的优点之二，是提供一种输送装置的整平单元，其中，整平单元设有至少一变距器，以调整齿部件的位置，使齿部件准确嵌入于载带的卡孔，以利外张整平载带，达到提升使用便利性的实用效益。

本发明的优点之三，是提供一种应用输送装置的整平单元的电子元件作业设备，其包含机台、作业装置、输送装置及中央控制装置，该作业装置系配置于机台上，并设有至少一对电子元件执行预设作业的作业器，该输送装置系配置于机台上，并设有承载机构、输送机构及本发明的整平单元，以输送具电子元件的载带及整平载带，该中央控制装置系用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。

附图说明

图1是现有测试装置及输送装置的使用示意图。

图2是现有载带的示意图。

图3是本发明输送装置的整平单元第一实施例的侧视图。

图4是本发明输送装置的整平单元第一实施例的前视图。

图5是本发明整平单元的齿部件及载带的示意图。

图6是本发明输送装置第一实施例的使用示意图(一)。

图7是本发明输送装置第一实施例的使用示意图(二)。

图8是本发明输送装置第一实施例的使用示意图(三)。

图9是本发明整平单元的第二实施例示意图。

图10是本发明输送装置应用于电子元件作业设备的示意图。

附图标记说明：[现有技术]测试装置11；探针卡111；输送装置12；移动架121；上链轮122；下链轮123；承靠板124；载带13；卡孔131；电子元件14；[本发明]输送装置20；承载机构21；马达211；螺杆螺座组212；移动架213；输送机构22；第一输送轮221第二输送轮222；整平单元23；第一定位具231；承靠面2311；第二定位具232；开口部2321；面板2322；齿部件233；第一齿部件233a；第二齿部件233b第三齿部件233c；顶推面2331；平面2332；顶部2333；底部2334；压缸234；第一变距器235a；第二变距器235b；中心轴线a、b；载带30；卡孔301；电子元件31；作业装置40；承板41；探针卡42；机台50。

具体实施方式

为使对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后：

请参阅图3、图4、图5，该输送装置20包含承载机构21、输送机构22及本发明整平单元23的第一实施例，该承载机构21设有至少一由承载驱动器驱动作第一方向(如x方向)位移的移动架，更进一步，承载驱动器可为压缸或线性马达，或包含马达及传动组，承载驱动器可固设于机架或由一搬运驱动器驱动作第一、二、三方向(如x、z、y方向)位移，于本实施例中，该承载驱动器设有马达211及传动组，马达211系驱动一呈x方向配置且为螺杆螺座组212的传动组，螺杆螺座组212的螺座连结传动一移动架213作x方向位移。

该输送机构22系装配于承载机构21的移动架213，并于移动架213设有第一输送轮221及第二输送轮222，以输送具电子元件31的载带30，于本实施例中，第一输送轮221及第二输送轮222均为具有传动齿的齿轮，并呈上、下方配置，第一输送轮221系供输入具电子元件31的载带30，并载送该载带30作z方向位移，第二输送轮222则输出具电子元件31的载带30。

该整平单元23包含第一定位具231、第二定位具232及至少一齿部件233；第一定位具231设有承靠载带30第一面的承靠面2311，更进一步，第一定位具231可为独立板体或为移动架213的面板，并可作固定式或活动式配置，于本实施例中，第一定位具231是独立板体且固定于移动架213，并位于载带30的后方；第二定位具232设有至少一开口部2321，以供显露载带30的电子元件31，更进一步，第二定位具232可设有二呈z方向配置的面板，并令二面板保持适当间距而形成一开口部2321，或第二定位具232系于一呈z方向配置的面板上开设通孔作为开口部2321，前述二种型态均可供载带30的电子元件31显露于外，第二定位具232并可作固定式配置或活动式配置，于本实施例中，第二定位具232设有二呈z方向配置的面板2322，并令二面板2322保持适当间距而形成开口部2321，整平单元23另设有定位驱动器，以驱动第一定位具231或第二定位具232作第一方向位移，以供齿部件233外张整平载带30，定位驱动器可为压缸或线性马达，或包含马达及传动组，于本实施例中，定位驱动器是压缸234，并装配于移动架213，以驱动第二定位具232相对第一定位具231作x方向位移；至少一齿部件233系装配于第一定位具231或第二定位具232，齿部件233系于一面设有朝外且朝向底部逐渐倾斜扩大的顶推面2331，齿部件233供嵌入于载带30的卡孔301，并以顶推面2331顶推载卡孔301而带动载带30的该侧外移，进而整平载带30，于本实施例中，系于第二定位具232的第二板面相对应载带30二排的卡孔301的位置固定设有二排复数个齿部件233，齿部件233的另一面系朝内且为平面2332，该顶推面2331系朝外且由顶部2333朝向底部2334逐渐倾斜扩大，该齿部件233的顶部2333面积系小于卡孔301的面积，而底部2334面积则大于卡孔301的面积，又齿部件233的中心轴线a可相同或向外偏移卡孔301的中心轴线b，于本实施例中，齿部件233的中心轴线a系向外偏移卡孔301的中心轴线b。

请参阅图6、图7，本发明的输送装置20应用于电子元件测试设备的示意图，测试设备的作业装置40系于承板41上装配一具有探针卡42的测试器，探针卡42具有测试电子元件31的探针；该输送装置20系配置于作业装置40的后方，并令第二定位具232的开口部2321相对于探针卡42，输送机构22系以第一输送轮221及第二输送轮222输送载带30作z方向位移，并使其一电子元件31相对于第二定位具232的开口部2321以便执行测试作业；接着整平单元23系以压缸234驱动第二定位具232相对第一定位具231作x方向位移，第二定位具232的面板2322即带动复数个齿部件233同步位移，由于载带30为挠性可弯曲的薄膜带体，其相对于探针卡42位置之中段带体易发生弯曲隆起变形，为避免电子元件31偏移预设作业位置或向前后浮凸内凹而影响测试品质，整平单元23系利用第二定位具232上二排的复数个齿部件233分别嵌入于载带30的卡孔301，由于齿部件233的顶推面2331系朝外且由顶部2333朝向底部2334逐渐倾斜扩大，以及齿部件233的中心轴线a系向外偏移卡孔301的中心轴线b，当齿部件233嵌入于载带30的卡孔301时，即利用顶推面2331的倾斜扩大斜度而顶推卡孔301以带动载带30的该侧向外位移，于二排的齿部件233带动载带30的二侧外张，进而整平载带30，以确保载带30上的电子元件31精确位于预设作业位置。

请参阅图8，于整平载带30后，承载机构21系以马达211经螺杆螺座组212的螺座带动移动架213作x方向向前位移，移动架213即带动输送机构22、整平单元23及具电子元件31的载带30同步位移，由于第二定位具232的开口部2321供电子元件31显露于外，即可使电子元件31的接点精准电性接触作业装置40的探针卡42的探针而执行测试作业，达到提升测试品质的实用效益。

请参阅图9，系本发明整平单元23的第二实施例，其与第一实施例的差异在于该整平单元23设有至少一变距器，以调整至少一齿部件的位置，使齿部件准确嵌入于载带的卡孔，更进一步，变距器可为手动操作或自动操作，若为自动操作，变距器可为压缸或线性马达，或包含马达及传动组，并不以本发明所揭示的型态为限，于本实施例中，系于第二定位具232的面板2322设置第一齿部件233a、第二齿部件233b及第三齿部件233c，第一齿部件233a系作固定式配置，第二齿部件233b及第三齿部件233c则分别由二为压缸的第一变距器235a及第二变距器235b连结驱动作z方向位移，而调整第二齿部件233b及第三齿部件233c与第一齿部件233a的间距，使第一齿部件233a、第二齿部件233b及第三齿部件233c准确对位嵌合载带的卡孔，进而更加确实定位该具电子元件的载带，达到提升使用效能的实用效益。

请参阅图3、图4、图5、图10，系本发明输送装置20的整平单元23应用于电子元件作业设备，其包含机台50、作业装置40、输送装置20及中央控制装置(图未示出)，该作业装置40系装配于机台50，并设有至少一对电子元件31执行预设作业的作业器，于本实施例中，该作业器设有测试电子元件31的探针卡42，该输送装置20系配置于机台50上，并设有承载机构21、输送机构22及本发明的整平单元23，输送机构22系装配于承载机构21，以输送具电子元件31的载带30，整平单元23系装配于承载机构21，并包含第一定位具231、第二定位具232及至少一齿部件233，以输送具电子元件31的载带30及整平载带30，承载机构21载送输送机构22、定位机构23及具电子元件31的载带30位移，使载带30上的电子元件31供作业装置40的作业器执行预设作业，于本实施例中，系使载带30上的电子元件31精准接触探针卡42的探针而执行测试作业，该中央控制装置系用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。