半导体产品尺寸检测机及其检测方法与流程

1.本发明属于检测机技术领域，具体涉及半导体产品尺寸检测机及其检测方法。


背景技术：

2.半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，大部分的电子产品当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联，常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种。
3.半导体产品在生产时通常需要使用尺寸检测机对产品的尺寸进行检测，而现有的尺寸检测机上缺少相应的夹持机构，不便于对不同大小的半导体产品进行夹持固定，使半导体产品在进行尺寸检测时容易出现晃动的情况，造成产品的测量误差，影响了检测数据的准确性，还会对产品的质量带来一定程度的影响。
4.因此，针对上述技术问题，有必要提供半导体产品尺寸检测机及其检测方法。
5.

技术实现要素：

6.本发明的目的在于提供半导体产品尺寸检测机及其检测方法，以解决上述尺寸检测机不便于对不同大小的半导体产品进行夹持固定问题。
7.为了实现上述目的，本发明一实施例提供的技术方案如下：半导体产品尺寸检测机，包括检测机本体、转动盘、升降机构、固定架和控制箱；所述检测机本体的两侧分别连接有进料传送带和出料传送带；所述转动盘设于所述检测机本体上，所述转动盘上开凿有若干固定槽，所述转动盘上连接有升降机构，所述升降机构设于所述检测机本体内；所述固定架设于所述转动盘上，所述固定架上连接有电动伸缩杆，所述固定架与电动伸缩杆之间连接有固定螺钉，所述固定架上连接有支撑臂，所述支撑臂内设有夹持臂，所述电动伸缩杆与支撑臂之间连接有拉动杆，所述支撑臂与夹持臂之间连接有支撑杆；所述控制箱设于所述检测机本体上，所述电动伸缩杆与所述控制箱电性连接。
8.进一步地，所述支撑臂的数量为一对，便于固定夹持臂，一对所述支撑臂对称设于所述转动盘内，便于对半导体产品进行夹持，所述支撑臂远离固定架的一端上均连接有限位杆，大大减小支撑臂伸出过长的情况出现。
9.进一步地，一对所述支撑臂上均连接有第一固定轴，便于固定拉动杆，所述电动伸缩杆远离所述固定架的一端上连接有第二固定轴，便于固定拉动杆的另一端，所述拉动杆的两端分别套设于第一固定轴和第二固定轴上，使拉动杆得到充分固定。
10.进一步地，所述支撑臂上连接有第三固定轴，便于固定夹持臂，所述夹持臂套设于第三固定轴上，使夹持臂得到充分固定，所述夹持臂上连接有夹持块，便于固定半导体产品，所述夹持块上开凿有夹持槽，使不同形状的半导体产品能够得到充分固定。
11.进一步地，所述支撑臂上连接有第四固定轴，便于固定支撑杆，所述夹持臂上连接有第五固定轴，便于固定支撑杆的另一端，所述支撑杆两端分别套设于第四固定轴与第五固定轴，使夹持臂得到充分支撑，便于夹持臂夹紧半导体产品。
12.进一步地，所述升降机构包括第一支架，便于固定第二支架，所述第一支架与检测机本体相连接，便于固定第一支架，所述第一支架内设有第二支架，便于与螺杆配合使用，所述检测机本体上连接有第二电动机，便于提供动力，所述第二电动机上连接有螺杆，便于第二电动机的动力传输，所述螺杆贯穿第二支架设置，使第二支架能够有效升起。
13.进一步地，所述第二支架内设有第三支架，便于固定第四支架，所述第三支架与第一支架互相靠近的一面上均连接有第一摩擦片，便于与第一转轮配合使用，所述第二支架上开凿有第一放置槽，便于固定第一转轮，所述第一放置槽内设有第一转轮，便于推动第三支架移动，所述第一转轮与第一摩擦片相匹配。
14.进一步地，所述第三支架内设有第四支架，便于固定第一电动机，所述第四支架与第二支架互相靠近的一面上均连接有第二摩擦片，便于与第二转轮配合使用，所述第三支架上开凿有第二放置槽，便于固定第二转轮，所述第二放置槽内设有第二转轮，便于推动第四支架移动，所述第二转轮与第二摩擦片相匹配。
15.进一步地，所述第四支架内设有第一电动机，便于提供动力，所述第一电动机上连接有电动机转轴，便于第一电动机的动力传输，所述电动机转轴贯穿检测机本体设置，便于电动机转轴与转动盘连接，同时便于固定电动机转轴，所述转动盘远离第一电动机的一端与转动盘相连接，便于转动盘进行转动。
16.半导体产品尺寸检测机的检测方法，包括以下步骤：s1．半导体产品通过检测机本体上连接的进料传送带进入转动盘上开凿的固定槽内，同时通过控制箱启动电动伸缩杆，使电动伸缩杆伸出；s2．电动伸缩杆伸出后会通过拉动杆将支撑臂推出，支撑臂被推出时会通过夹持臂对半导体产品进行夹持，通过控制电动伸缩杆伸出的长度，便于对不同大小的半导体产品进行夹持固定；s3．当通过进料传送带的半导体产品长度过高时，启动第二电动机，使第二电动机带动螺杆启动，使螺杆推动第二支架向上移动；s4．第二支架向上移动时会使第一转轮转动，使第一转轮通过第一摩擦片向上推动第三支架，使第三支架向上升起；s5．第三支架升起时，会通过第二转轮与第二摩擦片向上推动第四支架，使第四支架内的第一电动机有效升起；s6．第一电动机升起时会通过电动机转轴带动转动盘向上升起，使转动盘能够适用于不同高度的半导体产品，经过检测的产品会通过出料传送带转出。
17.与现有技术相比，本发明具有以下优点：本发明通过尺寸检测机上相应机构的设置，使尺寸检测机能够对不同大小的半导体产品进行夹持，极大程度上避免了半导体产品在进行检测时出现晃动的情况，避免了可能出现的测量误差，大大提高了检测数据的准确性，大大提高了半导体产品的生产质量。
18.附图说明
19.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
20.图1为本发明一实施例中半导体产品尺寸检测机的剖面图；图2为图1中a处结构示意图；图3为本发明一实施例中半导体产品尺寸检测机的俯视图；图4为图3中b处结构示意图；图5为本发明一实施例中半导体产品尺寸检测机的立体图；图6为图5中c处结构示意图；图7为图5中d处结构示意图；图8为图5中e处结构示意图。
21.图中：1.检测机本体、101.进料传送带、102.出料传送带、2.转动盘、201.固定槽、202.第一电动机、203.电动机转轴、3.升降机构、301.第一支架、302.第二支架、303.第二电动机、304.螺杆、305.第三支架、306.第一摩擦片、307.第一放置槽、308.第一转轮、309.第四支架、310.第二摩擦片、311.第二转轮、4.固定架、401.电动伸缩杆、402.支撑臂、403.夹持臂、404.限位杆、405.第一固定轴、406.第二固定轴、407.拉动杆、408.第三固定轴、409.第四固定轴、410.第五固定轴、411.支撑杆、5.控制箱、6.固定板、601.转轴、602.滚轮。
22.具体实施方式
23.以下将结合附图所示的各实施方式对本发明进行详细描述。但该等实施方式并不限制本发明，本领域的普通技术人员根据该等实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本发明的保护范围内。
24.本发明公开了半导体产品尺寸检测机，参图1
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图8所示，包括检测机本体1、转动盘2、升降机构3、固定架4和控制箱5。
25.参图1
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图4所示，检测机本体1的两侧分别连接有进料传送带101和出料传送带102，便于半导体产品转入和转出，转动盘2设于检测机本体1上，便于带动半导体产品移动，转动盘2上开凿有若干固定槽201，便于固定半导体产品移动，转动盘2上连接有升降机构3，便于转动盘2进行升降，升降机构3设于检测机本体1内，便于对升降机构3进行保护。
26.参图3
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图8所示，固定架4设于转动盘2上，便于固定固定架4，固定架4上连接有电动伸缩杆401，便于推动支撑臂402，固定架4与电动伸缩杆401之间连接有固定螺钉，使电动伸缩杆401得到充分固定，大大减小电动伸缩杆401脱落的情况出现，固定架4上连接有支撑臂402，便于固定夹持臂403，支撑臂402内设有夹持臂403，便于对半导体产品进行夹持固定其中，电动伸缩杆401与支撑臂402之间连接有拉动杆407，便于电动伸缩杆401拉动支撑臂402伸出与缩回，支撑臂402与夹持臂403之间连接有支撑杆411，使夹持臂403得到
充分支撑，控制箱5设于检测机本体1上，电动伸缩杆401与控制箱5电性连接，便于控制电动伸缩杆401的伸出与缩回。
27.参图3
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图8所示，支撑臂402的数量为一对，便于固定夹持臂403，一对支撑臂402对称设于转动盘2内，便于对半导体产品进行夹持，支撑臂402远离固定架4的一端上均连接有限位杆404，大大减小支撑臂402伸出过长的情况出现。
28.参图3
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图8所示，一对支撑臂402上均连接有第一固定轴405，便于固定拉动杆407，电动伸缩杆401远离固定架4的一端上连接有第二固定轴406，便于固定拉动杆407的另一端，拉动杆407的两端分别套设于第一固定轴405和第二固定轴406上，使拉动杆407得到充分固定。
29.参图3
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图8所示，支撑臂402上连接有第三固定轴408，便于固定夹持臂403，夹持臂403套设于第三固定轴408上，使夹持臂403得到充分固定，夹持臂403上连接有夹持块，夹持块上开凿有夹持槽，便于固定不同形状的半导体产品。
30.参图3
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图8所示，支撑臂402上连接有第四固定轴409，便于固定支撑杆411，夹持臂403上连接有第五固定轴410，便于固定支撑杆411的另一端，支撑杆411两端分别套设于第四固定轴409与第五固定轴410上，使夹持臂403得到充分支撑，便于夹持臂403夹紧半导体产品。
31.参图1
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图2所示，升降机构3包括第一支架301，便于固定第二支架302，第一支架301与检测机本体1相连接，便于固定第一支架301，第一支架301内设有第二支架302，便于与螺杆304配合使用，检测机本体1上连接有第二电动机303，便于提供动力，第二电动机303上连接有螺杆304，便于第二电动机303的动力传输，螺杆304贯穿第二支架302设置，使第二支架302能够有效升起。
32.参图1
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图2所示，第二支架302内设有第三支架305，便于固定第四支架309，第三支架305与第一支架301互相靠近的一面上均连接有第一摩擦片306，便于与第一转轮308配合使用，第二支架302上开凿有第一放置槽307，便于固定第一转轮308，第一放置槽307内设有第一转轮308，便于推动第三支架305移动，第一转轮308与第一摩擦片306相匹配。
33.参图1
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图2所示，第三支架305内设有第四支架309，便于固定第一电动机202，第四支架309与第二支架302互相靠近的一面上均连接有第二摩擦片310，便于与第二转轮311配合使用，第三支架305上开凿有第二放置槽，便于固定第二转轮311，第二放置槽内设有第二转轮311，便于推动第四支架309移动，第二转轮311与第二摩擦片310相匹配。
34.参图1
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图2所示，第四支架309内设有第一电动机202，便于提供动力，第一电动机202上连接有电动机转轴203，便于第一电动机202的动力传输，电动机转轴203贯穿检测机本体1设置，便于电动机转轴203与转动盘2连接，同时便于固定电动机转轴203，转动盘2远离第一电动机202的一端与转动盘2相连接，便于转动盘2进行转动。
35.其中，进料传送带101与出料传送带102上均连接有固定板6，便于固定转轴601，固定板6上连接有若干均匀排列转轴601，便于固定滚轮602，若干转轴601上均套设有滚轮602，有效减小半导体产品进入检测机本体1时产生的振动，使半导体产品转入检测机本体1时更加稳定，有效提高检测机本体1检测时的稳定性。
36.半导体产品尺寸检测机的检测方法，包括以下步骤：s1．半导体产品通过检测机本体1上连接的进料传送带101进入转动盘2上开凿的固定槽201内，同时通过控制箱5启动电
动伸缩杆401，使电动伸缩杆401伸出；s2．电动伸缩杆401伸出后会通过拉动杆407将支撑臂402推出，支撑臂402被推出时会通过夹持臂403对半导体产品进行夹持，通过控制电动伸缩杆401伸出的长度，便于对不同大小的半导体产品进行夹持固定；s3．当通过进料传送带101的半导体产品长度过高时，启动第二电动机303，使第二电动机303带动螺杆304启动，使螺杆304推动第二支架302向上移动；s4．第二支架302向上移动时会使第一转轮308转动，使第一转轮308通过第一摩擦片306向上推动第三支架305，使第三支架305向上升起；s5．第三支架305升起时，会通过第二转轮311与第二摩擦片310向上推动第四支架309，使第四支架309内的第一电动机202有效升起；s6．第一电动机202升起时会通过电动机转轴203带动转动盘2向上升起，使转动盘2能够适用于不同高度的半导体产品，经过检测的产品会通过出料传送带102转出。
37.由以上技术方案可以看出，本发明具有以下有益效果：本发明通过尺寸检测机上相应机构的设置，使尺寸检测机能够对不同大小的半导体产品进行夹持，极大程度上避免了半导体产品在进行检测时出现晃动的情况，避免了可能出现的测量误差，大大提高了检测数据的准确性，大大提高了半导体产品的生产质量。
38.对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
39.此外，应当理解，虽然本说明书按照实施例加以描述，但并非每个实施例仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。