一种隔膜缺陷离线剔除装置及方法与流程

1.本技术涉及隔膜缺陷检测技术领域，具体而言，涉及一种隔膜缺陷离线剔除装置及方法。


背景技术：

2.随着锂电池在各个行业中的应用越来越广泛，对于锂电池的质量要求也越来越高。隔膜作为叠片锂电池中的重要组成部分，隔膜的质量也会对锂电池的质量产生极大影响。
3.目前，隔膜缺陷离线剔除装置通过用户在三轴复卷机上输入从数据库中获取的隔膜缺陷米数信息，用户打开三轴复卷机上的计米控制开关。然后，三轴复卷机运动距离与隔膜缺陷米数相同时，三轴复卷机自动停机。用户对三轴复卷机停机位置的隔膜缺陷进行剔除，直至完成所有缺陷隔膜的剔除。
4.然而，上述方案并未考虑隔膜缺陷剔除过程中其他干扰因素的影响，例如由于牵引力的影响，在三轴复卷机运动过程中，隔膜会产生拉伸，导致当前隔膜缺陷米数与数据库中存储的隔膜缺陷米数信息存在偏差，对隔膜缺陷剔除的准确率低。


技术实现要素：

5.为了解决现有的隔膜缺陷离线剔除装置由于干扰因素影响，导致当前隔膜缺陷米数与数据库中存储的隔膜缺陷米数信息存在偏差，对隔膜缺陷剔除的准确率低的问题，本技术提供了一种隔膜缺陷离线剔除装置及方法。
6.第一方面，本技术的实施例是这样实现的：
7.本技术实施例提供一种隔膜缺陷离线剔除装置，包括：复卷设备、编码器、色标传感器、工控机和扫码枪，复卷设备上安装有编码器和色标传感器，工控机分别与复卷设备、编码器和色标传感器以及扫码枪通信连接；
8.其中，编码器用于获取编码器点数；
9.色标传感器用于获取第一胶带当前位置和第二胶带当前位置；
10.扫码枪用于获取缺陷米数检测列表；
11.工控机被配置为：
12.根据缺陷米数检测列表，获取缺陷米数剔除列表；
13.根据第一胶带当前位置和第二胶带当前位置以及第一胶带检测位置和第二胶带检测位置，计算米数修正系数；
14.根据缺陷米数剔除列表、米数修正系数和编码器点数，计算当前剔除缺陷米数；
15.控制复卷设备对当前剔除缺陷米数处的隔膜缺陷进行剔除。
16.在一些实施例中，隔膜缺陷离线剔除装置还包括：服务器，服务器与工控机通信连接，工控机与复卷设备通信连接，复卷设备包括至少三个滚动轴；
17.服务器被配置为：
18.获取工控机中存储的滚动轴上隔膜所对应的隔膜剔除信息；
19.将至少三个滚动轴上隔膜分别对应的隔膜剔除信息进行分区域显示。
20.第二方面，本技术的实施例是这样实现的：
21.本技术实施例提供一种隔膜缺陷离线剔除方法，包括：
22.获取隔膜缺陷信息，隔膜缺陷信息包括缺陷米数检测列表；
23.获取缺陷米数剔除列表，缺陷米数剔除列表是与缺陷米数检测列表顺序相反的米数列表；
24.获取米数修正系数；
25.获取当前剔除缺陷米数，当前剔除缺陷米数根据缺陷米数剔除列表和米数修正系数以及编码器点数进行计算；
26.控制三轴复卷机对当前剔除缺陷米数处的隔膜缺陷进行剔除。
27.在一些实施例中，获取米数修正系数，包括以下步骤：
28.获取并将第一胶带检测位置标记为起点，其中，第一胶带检测位置从缺陷米数检测列表中获取；
29.获取缺陷米数检测列表中的第二胶带检测位置；
30.获取与第二胶带检测位置对应的第二胶带当前位置，其中，第二胶带当前位置为在三轴复卷机运行过程中，第二胶带经过色标传感器时的位置；
31.根据起点、第二胶带检测位置和第二胶带当前位置，计算米数修正系数。
32.在一些实施例中，根据起点、第二胶带检测位置和第二胶带当前位置，计算米数修正系数，包括以下步骤：
33.计算第二胶带检测位置到起点的第一距离；
34.计算第二胶带当前位置到起点的第二距离；
35.根据第一距离和第二距离，计算米数修正系数。
36.在一些实施例中，获取当前剔除缺陷米数，包括以下步骤；
37.获取当前编码器点数，当前编码器点数通过编码器记录并传输至工控机中；
38.根据缺陷米数剔除列表，获取与当前编码器点数相邻的下一个缺陷剔除位置；
39.根据当前编码器点数、起点和米数修正系数，计算理论编码器点数；
40.根据下一个缺陷剔除位置和理论编码器点数，计算理论剔除缺陷米数；
41.根据理论剔除缺陷米数和米数修正系数，计算当前剔除缺陷米数。
42.在一些实施例中，获取缺陷米数剔除列表，包括以下步骤：
43.将检测结束位置标记为起点；
44.获取缺陷米数检测列表，缺陷米数检测列表是所有缺陷位置的集合；
45.计算并统计缺陷米数检测列表中各个缺陷位置与起点之间的距离，得到缺陷米数剔除列表。
46.第三方面，本技术的实施例是这样实现的：
47.本技术实施例提供一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现一种隔膜缺陷离线剔除方法的步骤。
48.第四方面，本技术的实施例是这样实现的：
49.本技术实施例提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现一种隔膜缺陷离线剔除方法的步骤。
50.本技术的有益效果：通过构建色标传感器记录第一胶带检测位置和第二胶带检测位置以及第二胶带当前位置，并根据第一胶带检测位置和第二胶带检测位置以及第二胶带当前位置计算米数修正系数，然后根据米数修正系数修正得到当前剔除缺陷米数，可实现对隔膜缺陷的精准剔除，提高了隔膜缺陷剔除的效率，进一步提高了隔膜良品率。
附图说明
51.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
52.图1为根据本技术一个或多个实施例的一种隔膜缺陷离线剔除装置的结构示意框图；
53.图2为根据本技术一个或多个实施例的一种隔膜缺陷离线剔除方法的流程图；
54.图3为根据本技术一个或多个实施例的一种隔膜缺陷离线剔除方法中缺陷米数剔除列表获取流程图；
55.图4为分切机检测顺序和复卷机剔除顺序示意图；
56.图5为根据本技术一个或多个实施例的一种隔膜缺陷离线剔除方法中米数修正系数计算总流程图；
57.图6为根据本技术一个或多个实施例的一种隔膜缺陷离线剔除方法中当前剔除缺陷米数计算流程图；
58.图7为本技术一个或多个实施例中分切时、剔除时和实际上三种情况下的隔膜米数信息示意图；
59.图示说明：
60.其中，1-复卷设备；2-编码器；3-色标传感器；4-工控机；5-扫码枪；6-服务器。
具体实施方式
61.为使本技术的目的、实施方式和优点更加清楚，下面将结合本技术示例性实施例中的附图，对本技术示例性实施方式进行清楚、完整地描述，显然，所描述的示例性实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
62.需要说明的是，本技术中对于术语的简要说明，仅是为了方便理解接下来描述的实施方式，而不是意图限定本技术的实施方式。除非另有说明，这些术语应当按照其普通和通常的含义理解。
63.本技术中说明书和权利要求书及上述附图中的术语
″
第一
″
、
″
第二
″
、
″
第三
″
等是用于区别类似或同类的对象或实体，而不必然意味着限定特定的顺序或先后次序，除非另外注明。应该理解这样使用的用语在适当情况下可以互换。
64.术语
″
包括
″
和
″
具有
″
、
″
用于
″
以及他们的任何变形，意图在于覆盖但不排他的包含，例如，包含了一系列组件的产品或设备不必限于清楚地列出的所有组件，而是可包括没
有清楚地列出的或对于这些产品或设备固有的其它组件。
65.术语
″
设置
″
、
″
连接
″
、
″
安装
″
应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
66.现有技术中，当三轴复卷机的三个滚动轴同时剔除缺陷隔膜时，操作员需要在三轴复卷机面板上手动输入三个滚动轴分别需要移动到的米数，依次输入米数之后再按下各滚动轴的开机按钮进行运行。
67.操作员需要在工控机4上查看数据之后，在三轴复卷机面板上频繁手动输入各滚动轴的缺陷米数数据，增加机械性工作量。
68.modbus tcp协议是用于管理和控制自动化设备的modbus系列通讯协议的派生产品，它覆盖了使用tcp/ip协议的
″
intranet
″
和
″
internet
″
环境中modbus报文的用途。modbus tcp协议最通用的用途是为诸如plc
′
s，i/o模块，以及连接其它简单域总线或i/o模块的网关服务。
69.图1示例性示出了本技术一实施例的一种隔膜缺陷离线剔除装置的结构示意框图。
70.如图1所示，本实施例的一种隔膜缺陷离线剔除装置，包括：复卷设备1、编码器2、色标传感器3、工控机4和扫码枪5，复卷设备1上安装有编码器2和色标传感器3，工控机4分别与复卷设备1、编码器2和色标传感器3以及扫码枪5通信连接；
71.其中，编码器2用于获取编码器点数；
72.色标传感器3用于获取第一胶带当前位置和第二胶带当前位置；
73.扫码枪5用于获取缺陷米数检测列表；
74.工控机4被配置为：
75.根据缺陷米数检测列表，获取缺陷米数剔除列表；
76.根据第一胶带当前位置和第二胶带当前位置以及第一胶带检测位置和第二胶带检测位置，计算米数修正系数；
77.根据缺陷米数剔除列表、米数修正系数和编码器点数，计算当前剔除缺陷米数；
78.控制复卷设备1对当前剔除缺陷米数处的隔膜缺陷进行剔除。
79.上述方案通过计算米数修正系数，对隔膜米数进行校准，可实现复卷设备1停机的精准度，提高了隔膜缺陷剔除效率，降低了隔膜报废率，提高了隔膜良品率。
80.需要说明的是，图1中，编码器2与复卷设备1之间的连接线表示编码器2与复卷设备1固定连接，色标传感器3与复卷设备1之间的连接线表示色标传感器3与复卷设备1固定连接，复卷设备1、编码器2、色标传感器3等与工控机4之间的连接线表示通信连接。色标传感器3是通过学习读取第一胶带和第二胶带的颜色状态与隔膜状态做对比，从而在第一胶带和第二胶带经过时会向工控机4发送信号获取第一胶带位置和第二胶带位置。
81.在一些实施例中，如图1所示，本实施例的一种隔膜缺陷离线剔除装置，还包括服务器6，服务器6与工控机4通信连接，工控机4与复卷设备1通信连接，复卷设备1包括至少三个滚动轴(图1中未示出)；
82.服务器6被配置为：
83.获取工控机4中存储的滚动轴上隔膜所对应的隔膜剔除信息；
84.将至少三个滚动轴(图1中未示出)上隔膜分别对应的隔膜剔除信息进行分区域显示。
85.需要特别说明的是，本实施例的复卷设备1采用三轴复卷机，三轴复卷机的每个滚动轴上均安装有一个隔膜，每个滚动轴上对应设置有一个色标传感器3和一个编码器2，每个滚动轴通信连接一个工控机4，三轴复卷机的每个滚动轴上设置有一个计米控制开关，计米控制开关用于监控该滚动轴的运动和停机。上述隔膜剔除信息即为工控机4上相对应的隔膜剔除操作界面，通过将三个滚动轴的隔膜剔除操作界面集成分屏显示到同一服务器6上，使得操作人员查询三轴复卷机每个滚动轴上隔膜缺陷剔除情况的效率更高。
86.在一些实施例中，服务器6与工控机4通过tcp通讯协议建立通信连接，工控机4与复卷设备1通过采用modbus tcp协议的网线通信连接。
87.在一些实施例中，编码器2和色标传感器3均通过工控机4中安装的io卡(图1中未示出)与工控机4通信连接，io卡(图1中未示出)采用7480io卡。
88.图2示例性示出了本技术另一实施例的一种隔膜缺陷离线剔除方法的流程图。
89.如图2所示，本实施例的一种隔膜缺陷离线剔除方法，包括以下步骤：
90.100，获取隔膜缺陷信息，隔膜缺陷信息包括缺陷米数检测列表和缺陷类型等；
91.101，获取缺陷米数剔除列表，缺陷米数剔除列表是与缺陷米数检测列表顺序相反的米数列表；
92.102，获取米数修正系数；
93.103，获取当前剔除缺陷米数，当前剔除缺陷米数根据缺陷米数剔除列表和米数修正系数以及编码器点数进行计算；
94.104，控制三轴复卷机对当前剔除缺陷米数处的隔膜缺陷进行剔除。
95.需要特别说明的是，隔膜缺陷米数检测列表为在分切机检测过程中获取到的隔膜缺陷米数信息，缺陷类型包括胶带缺陷等。在复卷机剔除时，将分切检测时的结束位置设置为起点，缺陷检测位置与起点的距离就是复卷机剔除过程中的缺陷剔除位置，获取所有缺陷的缺陷剔除位置，得到隔膜缺陷米数剔除列表。上述步骤均需要通过工控机4及工控机4上安装的review软件配合实现。步骤100中的隔膜缺陷信息是在分切机检测阶段得到的，然后将包含有隔膜缺陷信息的条形码粘贴到隔膜上，在使用三轴复卷机对隔膜缺陷进行剔除的阶段，首先，需要使用扫码枪5扫描条形码，并将获取到的条形码中包含的隔膜缺陷信息上传至工控机4进行储存。
96.另外，review软件安装在工控机4上，并通过采用modbus tcp协议的网线与三轴复卷机通信连接。工控机4上设有modbus tcp地址，例如：向modbus tcp地址位为3001的地址发送一个1表示开启三轴复卷机上的计米控制开关，发送一个2表示关闭三轴复卷机上的计米控制开关，发送一个4表示将三轴复卷机停机。即工控机4上下发一个数值(每个数值的含义可根据本领域技术人员的需求自行设置)到工控机4上modbus tcp地址位为3001的地址上，工控机4读取该modbus tcp地址上的数值，然后根据modbus tcp地址上的不同数值执行数值所对应的功能。
97.图3示例性示出了本技术一实施例的一种隔膜缺陷离线剔除方法中缺陷米数剔除列表获取流程图。
98.在一些实施例中，如图3所示，步骤101，获取缺陷米数剔除列表，包括以下步骤：
99.1010，将检测结束位置标记为起点；
100.1011，获取缺陷米数检测列表，缺陷米数检测列表是所有缺陷位置的集合；
101.1012，计算并统计缺陷米数检测列表中各个缺陷位置与起点之间的距离，得到缺陷米数剔除列表。
102.需要说明的是，步骤1011中的缺陷米数检测列表是在分切机在线检测阶段获取的，在检测阶段，会记录检测起始位置和检测结束位置，并记录检测过程中所有缺陷位置，将其集合为缺陷米数检测列表。
103.步骤1012中的缺陷米数剔除列表是在三轴复卷机剔除阶段，将检测结束位置标记为起点，计算每个缺陷位置到起点的距离，将其作为新的缺陷位置，统计所有新的缺陷位置，即可得到与缺陷米数检测列表相反的缺陷米数剔除列表。
104.图4中示出了分切机检测顺序和复卷机剔除顺序示意图。
105.如4图所示，由于分切机检测顺序与复卷机剔除顺序相反，图4中箭头方向为分切机检测方向，图4中的分切机检测顺序0m-6000m，起始胶带位置为5998m，接带胶带位置为4000m，缺陷位置为2000m。复卷机剔除顺序0m(分切机检测顺序的6000m)-6000m(分切机检测顺序的0m)，将图4中的分切机检测顺序上的起始胶带位置5998m转为复卷机剔除顺序的起始胶带2m，分切机检测顺序上的接带胶带位置4000m转为复卷机剔除顺序的接带胶带2000m，缺陷位置转为4000m。并且在分切机检测阶段和复卷机提出阶段选用的编码器2型号不同，从缺陷米数检测列表转换为缺陷米数剔除列表时可能存在误差。复卷机滚轴转动带着隔膜移动时，会存在拉伸导致的误差。当复卷机停机时编码器点数，即实际米数超过缺陷位置米数时，存在隔膜损耗；当复卷机停机时编码器点数，即实际米数低于缺陷位置米数时，需要重新寻找缺陷剔除米数，即需要剔除隔膜缺陷的实际位置。由于上述原因导致分切机检测阶段与复卷机剔除阶段的隔膜米数偏差，造成隔膜缺陷剔除不准确。因此，为了提高缺陷剔除准确率，需要对复卷机剔除阶段的隔膜缺陷米数进行修正。
106.图5示例性示出了本技术一实施例的一种隔膜缺陷离线剔除方法中米数修正系数计算总流程图。
107.在一些实施例中，如图5所示，步骤102，获取米数修正系数，包括以下步骤：
108.1020，获取并将第一胶带检测位置标记为起点，其中，第一胶带检测位置从缺陷米数检测列表中获取；
109.1021，获取缺陷米数检测列表中的第二胶带检测位置；
110.1022，获取与第二胶带检测位置对应的第二胶带当前位置，其中，第二胶带当前位置为在三轴复卷机运行过程中，第二胶带经过色标传感器3时的位置；
111.1023，根据起点、第二胶带检测位置和第二胶带当前位置，计算米数修正系数。
112.需要指出的是，第一胶带检测位置为分切机检测阶段检测得到的，将其作为起点，即复卷机剔除阶段第一胶带当前位置(起点)与第一胶带检测位置相同，第二胶带检测位置为分切机检测阶段检测得到的，第二胶带当前位置为复卷机剔除阶段第二胶带经过色标传感器3时的位置。
113.还需要特别说明的是，第一胶带和第二胶带均可采用带明显颜色的胶带，例如蓝胶或者红胶等。第一胶带检测位置是在分切机检测阶段检测即将结束之前的位置，第一胶
带作为三轴复卷机剔除阶段的起始胶带，起始胶带的位置不改变。例如，在分切检测阶段，一般在距离隔膜结尾1m左右的位置处进行贴胶，即起始胶带。第二胶带检测位置是在分切机检测阶段检测过程中由于隔膜生产需要，隔膜长度不够而接入下一卷隔膜时粘贴的接带胶带，接带胶带的位置在检测阶段和剔除阶段会由于干扰因素影响而存在误差。例如，在距离隔膜结尾处2000m左右的位置进行贴胶，即接带胶带。其中，起始胶带位置为隔膜缺陷检测快结束时的位置，但是不能是隔膜缺陷检测结束位置，接带胶带位置则可以由本领域技术人员根据生产需要进行选择，本技术对其不做具体限制。因此，可以通过起始胶带位置、接带胶带在检测阶段和剔除阶段的两个不同位置，计算米数修正系数。
114.另外，为了保证三轴复卷机上的色标传感器3可以清晰扫描到起始胶带的位置，需要对分切检测阶段粘贴的起始胶带进行手动切割，然后复卷机剔除时，在相同的位置重新粘贴，打开三轴复卷机，直至色标传感器3扫描到起始胶带时完成自动标定的过程。
115.在一些实施例中，如图5所示，步骤1023，根据起点、第二胶带检测位置和第二胶带当前位置，计算米数修正系数，包括以下步骤：
116.10230，计算第二胶带检测位置到起点的第一距离；
117.10231，计算第二胶带当前位置到起点的第二距离；
118.10232，根据第一距离和第二距离，计算米数修正系数。
119.在一些实施例中，步骤1023，根据起点、第二胶带检测位置和第二胶带当前位置，计算米数修正系数，具体计算公式如下：
[0120][0121]
其中，k表示米数修正系数，a表示起点，b表示第二胶带检测位置，c表示第二胶带当前位置，b-a表示第一距离，c-a表示第二距离。
[0122]
需要说明的是，由于隔膜存在拉伸，在分切机检测阶段得到第二胶带检测位置，在复卷机剔除阶段得到第二胶带当前位置，例如第一胶带检测位置为2000m，复卷机剔除阶段隔膜拉伸后，得到第二胶带当前位置为2100m。
[0123]
此外，由于胶带也属于一种隔膜缺陷，因此，在复卷机剔除阶段，也需要对第一胶带和第二胶带的实际位置进行剔除。
[0124]
图6示例性示出了本技术一实施例的一种隔膜缺陷离线剔除方法中当前剔除缺陷米数计算流程图。
[0125]
在一些实施例中，如图6所示，步骤103，获取当前剔除缺陷米数，包括以下步骤；
[0126]
1030，获取当前编码器点数，当前编码器点数通过编码器2记录并传输至工控机4中；
[0127]
1031，根据缺陷米数剔除列表，获取与当前编码器点数相邻的下一个缺陷剔除位置；
[0128]
1032，根据当前编码器点数、起点和米数修正系数，计算理论编码器点数；
[0129]
1033，根据下一个缺陷剔除位置和理论编码器点数，计算理论剔除缺陷米数；
[0130]
1034，根据理论剔除缺陷米数和米数修正系数，计算当前剔除缺陷米数。
[0131]
需要特别说明的是，上述方案中，当前编码器点数表示三轴复卷机运动到当前位置实际移动的距离。
[0132]
理论编码器点数表示理想状况下，即隔膜不存在拉伸的情况下，工控机4中所记录的三轴复卷机运动到当前位置理论上需要移动的距离。
[0133]
理论剔除缺陷米数表示理想状况下，即隔膜不存在拉伸的情况下，三轴复卷机从当前位置，即理论编码器点数位置移动至下一个缺陷剔除位置所需要移动的距离。
[0134]
当前剔除缺陷米数表示实际存在干扰因素(包括拉伸等)的情况下，三轴复卷机从当前位置，即当前编码器点数位置移动至下一个缺陷剔除位置所需要移动的距离。
[0135]
在一些实施例中，步骤1032，根据当前编码器点数、起点和米数修正系数，计算理论编码器点数，具体公式如下：
[0136]
rr＝(r-a)＊k，
[0137]
其中，rr表示理论编码器点数，r表示当前编码器点数，a表示起点，k表示米数修正系数。
[0138]
在一些实施例中，步骤1033，根据下一个缺陷剔除位置和理论编码器点数，计算理论剔除缺陷米数，具体公式如下：
[0139]
rd＝d-rr，
[0140]
其中，rd表示理论剔除缺陷米数，d表示下一个缺陷剔除位置，rr表示理论编码器点数。
[0141]
在一些实施例中，步骤1034，根据理论剔除缺陷米数和米数修正系数，计算当前剔除缺陷米数，具体公式如下：
[0142]
td＝rd/k，
[0143]
其中，td表示当前剔除缺陷米数，rd表示理论剔除缺陷米数，k表示米数修正系数。
[0144]
图7示出了本技术一实施例中分切时、剔除时和实际上三种情况下的隔膜米数信息示意图。
[0145]
如图7所示，分切时隔膜检测顺序为0m-6000m，第一个缺陷检测位置为2000m，第二个缺陷检测位置为3700m。剔除时隔膜复卷顺序与分切时隔膜检测顺序相反，缺陷位置也需要重新计算，隔膜复卷顺序为0m(分切时的6000m)-6000m(分切时的0m)，第一个缺陷剔除位置为2300m(第二个缺陷检测位置)，第二个缺陷剔除位置为4000m(第一个缺陷检测位置)。实际上，由于干扰因素，包括隔膜拉伸等的影响，实际隔膜米数与剔除时的理论隔膜米数存在偏差，因此，需要通过上述公式进行计算隔膜拉伸之后，当前编码器点数r(已知)距离下一个缺陷剔除位置d(未知)之间的当前剔除缺陷米数td(未知)。例如当前编码器点数为200m，距离当前编码器点数最近的下一个缺陷位置是2000m，此时到达下一个缺陷位置三轴复卷机还需要移动1800m，但是实际上隔膜会被拉伸，则三轴复卷机还需要移动1800/0.9(举例米数修正系数)＝2000m，则隔膜由于拉伸之后的下一个缺陷位置可能是2200m，而非理论值2000m。上述具体数值均为为了更清楚说明本技术方案所提供的示例数据，但不是唯一数据，因此，示例中的具体数值并不对本技术的技术方案产生实质性影响，本技术对具体数值均不作任何限定。
[0146]
在另一些实施例中，本技术提供一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现一种隔膜缺陷离线剔除方法的步骤。
[0147]
在另一些实施例中，本技术提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质
存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现一种隔膜缺陷离线剔除方法的步骤。
[0148]
本技术的有益效果：通过构建色标传感器3记录第一胶带检测位置和第二胶带检测位置以及第二胶带当前位置，并根据第一胶带检测位置和第二胶带检测位置以及第二胶带当前位置计算米数修正系数，然后根据米数修正系数修正得到当前剔除缺陷米数，可实现对隔膜缺陷的精准剔除，提高了隔膜缺陷剔除的效率，进一步提高了隔膜良品率。
[0149]
为了方便解释，已经结合具体的实施方式进行了上述说明。但是，上述在一些实施例中讨论不是意图穷尽或者将实施方式限定到上述公开的具体形式。根据上述的教导，可以得到多种修改和变形。上述实施方式的选择和描述是为了更好的解释原理以及实际的应用，从而使得本领域技术人员更好的使用实施方式以及适于具体使用考虑的各种不同的变形的实施方式。