1.一种样品放置装置,其特征在于,包括载物台、样品容纳座、制冷机构,所述样品容纳座设于所述载物台上,所述样品容纳座用于放置样品溶液,所述制冷机构设于所述样品容纳座的下方,
2.如权利要求1所述的样品放置装置,其特征在于,所述样品放置装置还包括升降机构,所述升降机构包括固定架、支撑件,所述固定架上设有导柱,所述支撑件与所述导柱滑动配合,所述磁力机构设置在所述支撑件上;
3.如权利要求2所述的样品放置装置,其特征在于,
4.如权利要求2所述的样品放置装置,其特征在于,
5.如权利要求1所述的样品放置装置,其特征在于,所述磁力机构包括导热板体和磁铁,所述磁铁设于所述导热板体的上表面。
6.如权利要求5所述的样品放置装置,其特征在于,所述导热板体为铜板。
7.如权利要求5所述的样品放置装置,其特征在于,所述制冷机构安装在所述导热板体的下表面。
8.如权利要求5所述的样品放置装置,其特征在于,所述制冷机构为半导体制冷机,所述半导体制冷机的制冷面与所述导热板体的下表面贴合。
9.如权利要求8所述的样品放置装置,其特征在于,所述样品放置装置还包括散热器,所述散热器设于所述半导体制冷机的制热面一侧。
10.如权利要求9所述的样品放置装置,其特征在于,所述散热器为翅片结构,所述散热器与所述半导体制冷机的制热面贴合。
11.如权利要求10所述的样品放置装置,其特征在于,所述样品放置装置还包括风扇,所述风扇设于所述散热器远离所述半导体制冷机的一侧,所述风扇的出风侧与所述散热器的翅片相对。
12.如权利要求8所述的样品放置装置,其特征在于,所述样品放置装置还包括隔热件,所述隔热件上设有缺口,所述半导体制冷机设置于所述缺口内,所述半导体制冷机的外周侧与所述缺口的内周侧贴合。
13.如权利要求2所述的样品放置装置,其特征在于,所述固定架上设有限位件,所述限位件具有沿所述螺杆的轴线方向延伸的条形孔,所述支撑件上设有限位柱,所述限位柱穿过所述条形孔并能沿所述条形孔的延伸方向移动。
14.一种提取仪,其特征在于,包括如权利要求1-13任一项所述的样品放置装置。