一种柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备的制作方法

文档序号:14368233阅读:2289来源:国知局
一种柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备的制作方法

本实用新型属于半导体技术领域,尤其涉及一种柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备。



背景技术:

柔性OLED产品在完成IC晶片和FPC绑定后,需要对产品内部IC晶片和PFC间的电阻值进行检测,通过对电阻值的分析判定产品是否合格。根据检测结果对产品进行分类,合格品流入下游设备,不良品通过CONV排出。

传统方法,完成IC晶片和FPC绑定后的柔性OLED产品位置矫正是通过机械定位方式。该方式容易造成晶片和FPC破碎损伤。机械定位的方式,一部分需要人工手动操作,手工动作业不仅效率低下,而且容易出现分析误判,对下游生产造成影响。并且其作业时间长,严重影响整条生产线的效率,导致生产成本高,不利于扩大化少生产。

有鉴于上述的缺陷,本设计人,积极加以研究创新,以期创设一种生产效率高,自动化程度高的柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备,使其更具有产业上的利用价值。



技术实现要素:

为解决上述技术问题,本实用新型的目的是提供一种柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备。本实用新型技术方案如下:

一种柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备,包括产品受入前置台单元、产品搬送臂单元、检测对位平台单元和ART检测单元,其中,所述产品受入前置台单元包括Z轴凸轮机构、平台位置调整机构、产品吸附平台和预定位相机,平台位置调整机构水平置于Z轴凸轮机构上端部,产品吸附平台位于平台位置调整机构一侧。

本实用新型柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备,进一步地,所述产品受入前置台单元还包括清洁机构,用于在产品搬送臂单元搬送产品到检测对位平台单元过程中清洁产品。

本实用新型柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备,进一步地,所述产品受入前置台单元还包括显示产品吸附平台真空度的真空数显表。

本实用新型柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备,进一步地,所述产品搬送臂单元包括搬送X轴、双头搬送平台、微孔吸附板和真空元件,双头搬送平台滑动设置在搬送X轴上,微孔吸附板和真空元件置于双头搬送平台上端。

本实用新型柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备,进一步地,所述检测对位平台单元包括检测产品吸附平台、及由下至上包括对位X轴、对位Y轴、对位Z轴和对位θ轴,所述对位Y轴在对位X轴上滑动设置,对位Z轴在对位Y轴上滑动设置,对位θ轴置于对位Z轴上方,所述检测产品吸附平台装设在对位θ轴上端部。

本实用新型柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备,进一步地,所述ART检测单元包括检测主机、检测点调整X轴、对位相机和双位置检测头,所述对位相机置于检测点调整X轴上,所述双位置检测头位于对位相机下方位置。

借由上述方案,本实用新型至少具有以下优点:

本实用新型通过图像方式对芯片进行识别,位置矫正时不直接接触晶片,从而避免破坏产品;

本实用新型图像系统可自动识别产品IC晶片和FPC位置,并通过机构自动矫正位置,以保证能准确放入电阻值检测位置,顺利完成检测,其自动矫正位置精度±0.01mm,精度高,自动化程度高;

同时,可完成对产品的不良检测及自动完成电阻测定,同时判定是否良品并分类处理,检测一体化设计,满足自动化高要求。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述,为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

图1是本实用新型柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备的结构示意图;

图2是本实用新型柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备的俯视图;

图3是本实用新型产品受入前置台单元的结构示意图;

图4是本实用新型产品搬送臂单元的立体图;

图5是图4的俯视图;

图6是图4的侧视图;

图7是本实用新型检测对位平台单元的立体图;

图8是图7的俯视图;

图9是图7的侧视图;

图10是本实用新型ART检测单元的立体图;

图11是图10的主视图;

图12是图10的侧视图;

图13是本实用新型的工作流程示意图。

图中各附图标记的含义如下。

1 产品受入前置台单元 2 产品搬送臂单元

3 检测对位平台单元 4 ART检测单元

5 不良品排出单元 1-1 Z轴凸轮机构

1-2 平台位置调整机构 1-3 产品吸附平台

1-4 预定位相机 1-5 清洁机构

1-6 真空数显表 2-1 搬送X轴

2-2 双头搬送平台 2-3 微孔吸附板

2-4 真空元件 3-1 对位X轴

3-2 对位Y轴 3-3 对位Z轴

3-4 对位θ轴 3-5 检测产品吸附平台

4-1 检测主机 4-2 检测点调整X轴

4-3 对位相机 4-4 双位置检测头

具体实施方式

下面结合附图和实施例,对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型,但不用来限制本实用新型的范围。

参见图1、图2和图3,本实用新型柔性OLED产品的ART自动电阻检测设备,包括产品受入前置台单元1、产品搬送臂单元2、检测对位平台单元3和ART检测单元4,其中,所述产品受入前置台单元1包括Z轴凸轮机构1-1、平台位置调整机构1-2、产品吸附平台1-3和预定位相机1-4,平台位置调整机构1-2水平置于Z轴凸轮机构1-1上端部,产品吸附平台1-3位于平台位置调整机构1-2一侧。所述产品受入前置台单元1还包括清洁机构1-5,用于在产品搬送臂单元2搬送产品到检测对位平台单元3过程中清洁产品。所述产品受入前置台单元1还包括显示产品吸附平台1-3真空度的真空数显表1-6。

上游设备投入产品时,Z轴凸轮机构1-1驱动产品吸附平台1-3升起,产品吸附平台1-3接收并开启真空吸附产品。预定位相机1-4拍照获取产品位置数据并数据传送给检测对位平台单元3。清洁机构1-5在产品搬送臂单元2搬送到检测对位平台单元3过程中,清除产品背面的尘埃颗粒。柔性产品因为无法进行机械式定位,采用图像方式非接触式定位。在产品吸附平台1-3上方安装视野为200*200mm的预定位相机1-4CCD进行粗定位(200W像素CCD使用后预定位的理论精度为±0.1mm)。产品吸附平台1-3内真空元件用于产品吸附,在吸附不良时报警,防止因吸附不良导致位置偏差。

如图4至6,所述产品搬送臂单元,2包括搬送X轴2-1、双头搬送平台2-2、微孔吸附板2-3和真空元件2-4,双头搬送平台2-2滑动设置在搬送X轴2-1上,微孔吸附板2-3和真空元件2-4置于双头搬送平台2-2上端。产品搬送臂单元2负责将产品受入前置台单元1产品搬送至检测对位平台单元3,同时将检测过的产品按类别搬送至下游设备或者不良品排出。其微孔吸附板2-3是微孔结构。其真空元件2-4用于产品吸附,在吸附不良时报警,防止因吸附不良导致位置偏差。

参见图7至9,所述检测对位平台单元,3包括检测产品吸附平台3-5、及由下至上包括对位X轴3-1、对位Y轴3-2、对位Z轴3-3和对位θ轴3-4,所述对位Y轴3-2在对位X轴3-1上滑动设置,对位Z轴3-3在对位Y轴3-2上滑 动设置,对位θ轴3-4置于对位Z轴3-3上方,所述检测产品吸附平台3-5装设在对位θ轴3-4上端部。

上述对位X轴3-1内含伺服电机、丝杆、导轨(未在图上指出),对位Y轴3-2内含伺服电机、丝杆、导轨,对位Z轴3-3内含伺服电机、凸轮,对位θ轴3-4内含伺服电机、丝杆、导轨、齿轮,检测产品吸附平台3-5和内含的真空元件用于检测所述检测对位平台单元3前往接收位置,根据数据,在接收搬送臂(附图未示出)交接的产品是做相应的XYθ位置补正。然后将产品送至对位相机4-3拍照获得精确的位置数据后精确对位。而后移动至检测探针位置进行检测。检测完了,移动至排出位置。

如图10至12,所述ART检测单元,4包括检测主机4-1、检测点调整X轴4-2、对位相机4-3和双位置检测头4-4,所述对位相机4-3置于检测点调整X轴4-2上,所述双位置检测头4-4位于对位相机4-3下方位置。检测点调整X轴4-2内含伺服电机、丝杆、导轨,检测主机4-1采用KEITHLEY 2600B系列测定器,高速、精确。双位置检测头4-4,可满足两点同时检测,左检测头固定,右检测头安装于伺服轴上,可根据不同产品自动切换品种。对位相机4-3采用200W像素,镜头视野8*6mm,理论精度约±0.01mm。

本实用新型工作原理参见图13:

设备原点,启动装置;

等待上游送料;

预定位相机1-4拍照定位,并将数据传送给检测对位平台单元3;

产品搬送臂单元2将产品从前置台搬送至检测对位平台单元3;

检测对位平台单元3移动至检测前CCD(对位相机4-3)对位位置;

检测对位平台单元3CCD对位数据,移动至双位置检测头4-4位置;

检测主机4-1的电阻检测仪器开始检测,并判定;

检测对位平台单元3移动至排出产品位置;

若产品合格,产品搬送臂单元2交接给下游设备,若产品不合格,产品搬送臂单元2将产品送至不良品排出单元5排出;

产品搬送臂单元2返回待机位。

由此,本实用新型通过图像方式对芯片进行识别,位置矫正时不直接接触晶片,从而避免破坏产品。其可自动识别产品IC晶片和FPC位置,并通过机构自动矫正位置,以保证能准确放入电阻值检测位置,顺利完成检测,其自动矫正位置精度±0.01mm,精度高,自动化程度高。同时可完成对产品的不良检测及自动完成电阻测定,判定是否良品并分类处理,检测一体化设计,满足自动化高要求。以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,并不用于限制本实用新型,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变型,这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。

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