电子元件分类方法及装置与流程

【技术领域】

本发明是有关于一种分类方法及装置，尤指一种可使电子元件受载盘以间歇性旋转流路搬送至检测工作站进行检测后，再搬送至分类工作站进行分类的电子元件分类方法及装置。

背景技术：

按，一般电子元件如发光二极管(led)或被动元件…等，由于具有不同的物理特性，通常会先进行物理特性的检测后再进行分类或包装；请参阅图1，此种对电子元件进行检测与分类的电子元件分类装置，通常设有：一测盘x1，其周缘等距环列布设有多个容槽x11供电子元件w容置，该测盘x1可执行一间歇性旋转的搬送流路搬送电子元件w；一入料工作站x2，可将电子元件w依序送入该测盘x1的容槽x11；一检测工作站x3，可检测该容槽x11内的电子元件w；一分类工作站x4，可使检测后的电子元件w排出该测盘x1并选择性的被配送至对应的料盒内；该入料工作站x2、该检测工作站x3与该排料工作站x4皆可各自对应多个容槽x11其中之一，使三个工作站在该测盘x1间歇性旋转中间的停止时间内，可同时对不同电子元件w进行不同作业，并等待三个工作站皆完成作业后，该测盘x1才能再次旋转；其中，该测盘x1与入料工作站x2的相关构造可如专利号第i587935号「压块机构及使用该压块机构的入料方法及装置」所示；该检测工作站x3的相关构造可如专利号第m571966号「量测罩盖及使用该量测罩盖的工件量测装置」所示；该分类工作站x4的相关构造可如专利号第i546240号「电子元件分选装置」所示。

技术实现要素：

惟，现有技术的电子元件分类装置在实际使用上，请参阅图2，单次入料作业的时间约为10毫秒，单次检测作业与单次分类作业的时间约为110毫秒，虽然入料作业的时间明显低于检测作业与分类作业的时间，但因每次需等待三种作业皆完成后才能再次旋转测盘，故每次测盘的停止时间至少需要110毫秒，在暂不纳入测盘转动时间的情况下，电子元件分类装置的总体作业时间，将为欲分类的电子元件数量乘以每次测盘的停止时间，对于动辄以万计数的电子元件分类作业而言，加乘的下的总体作业时间将不容小觑，故如何在更短的时间内处理更多的电子元件，改善电子元件分选装置的产能，成为业界长期关注的议题。

爰是，本发明的目的，在于提供一种可提升产能的电子元件分类方法。

本发明的另一目的，在于提供一种可提升产能的电子元件分类装置。

依据本发明目的的电子元件分类方法，包括：使多个电子元件由一入料工作站进入一测盘后以间歇性旋转流路搬送，并依电子元件进入该测盘的时间先后，将电子元件归类为单数与双数；使归类为单数的电子元件被搬送至一第一检测工作站进行检测并由一第一分类工作站排出该测盘；使归类为双数的电子元件被搬送至一第二检测工作站进行检测并由一第二分类工作站排出该测盘。

依据本发明目的的另一电子元件分类方法，包括：当归类为单数的电子元件进入一测盘时，使一第一检测工作站、一第二检测工作站、一第一分类工作站与一第二分类工作站不进行任何作业；当归类为双数的电子元件进入该测盘时，使该第一检测工作站、该第二检测工作站分别同时对归类为单数与双数的电子元件进行检测且该第一分类工作站与该第二分类工作站亦同时分别使归类为单数与双数的电子元件排出该测盘。

依据本发明另一目的的电子元件分类装置，包括：用以执行如所述电子元件分类方法的装置。

依据本发明另一目的的另一电子元件分类装置，包括：一测盘，设有多个容槽供多个归类为单数与双数的电子元件容置并以间歇性旋转流路搬送电子元件；一第一检测工作站，可对归类为单数的电子元件进行检测；一第一分类工作站，可自该测盘排出受该第一检测工作站检测后的电子元件；一第二检测工作站，可对归类为双数的电子元件进行检测；一第二分类工作站，可自该测盘排出受该第二检测工作站检测后的电子元件。

本发明实施例的电子元件分类方法及装置，在相同的单位时间内可对更多电子元件进行检测与分类，可有效提升电子元件分选装置的产能。

【附图说明】

图1是现有技术的电子元件分类装置各工作站分布的示意图。

图2是现有技术的电子元件分类装置作业时间的示意图。

图3是本发明实施例中电子元件分类装置各工作站分布的示意图。

图4是本发明实施例中电子元件分类装置的立体图。

图5是本发明实施例中第一检测工作站检测电子元件的示意图。

图6是本发明实施例中第一分配机构的俯视示意图。

图7是本发明实施例中电子元件分类装置作业时间的示意图。

【具体实施方式】

请参阅图3，本发明实施例的电子元件分选方法可以图中所示电子元件分选装置为例作说明，其设有：

一测盘a，设有多个容槽a1环列布设于该测盘a的周缘，该多个容槽a1可供多个归类为单数与双数的电子元件w容置，并以顺时针方向之间歇性旋转流路搬送电子元件w，该多个电子元件w各自容置于对应的容槽a1内并在该测盘a的旋转方向上依序以单数、双数循环排列；在本发明实施例中，该测盘a设有50个容槽a1，但依电子元件w体积的差异亦可设为25个或100个容槽a1；

一入料工作站b，设于该测盘a周缘处与其中一个容槽a1(第1个)对应，该入料工作站b可提供电子元件w进入该测盘a的容槽a1；

一第一检测工作站c，设于该测盘a周缘处与其中一个容槽a1(第11个)对应，该第一检测工作站c在电子元件w的搬送流路上位于该入料工作站b的下一站，且该第一检测工作站c所对应的容槽a1与该入料工作站b所对应的容槽a1在顺时针方向上相隔奇数个容槽a1，该第一检测工作站c可对归类为单数的电子元件w进行检测；

一第二检测工作站d，设于该测盘a周缘处与其中一个容槽a1(第26个)对应，该第二检测工作站d在电子元件w的搬送流路上位于该第一检测工作站c的下一站，且该第二检测工作站d所对应的容槽a1与该入料工作站b所对应的容槽a1在顺时针方向上相隔偶数个容槽a1，该第二检测工作站d可对归类为双数的电子元件w进行检测；

一第一分类工作站e，设于该测盘a周缘处与其中一个容槽a1(第33个)对应，该第一分类工作站e在电子元件w的搬送流路上位于该第二检测工作站d的下一站，且该第一分类工作站e所对应的容槽a1与该入料工作站b所对应的容槽a1在顺时针方向上相隔奇数个容槽a1，该第一分类工作站e可自该测盘a排出并分类受该第一检测工作站c检测后的电子元件w；

一第二分类工作站f，设于该测盘a周缘处与其中一个容槽a1(第42个)对应，该第二分类工作站f在电子元件w的搬送流路上位于该第一分类工作站e的下一站，且该第二分类工作站f所对应的容槽a1与该入料工作站b所对应的容槽a1在顺时针方向上相隔偶数个容槽a1，该第二分类工作站f可自该测盘a排出并分类受该第二检测工作站d检测后的电子元件w。

请参阅图3、4，该测盘a受架高于一机台t台面上，该入料工作站b设有一震动送料机b1与一输送槽道b2，该多个电子元件w可由该震动送料机b1经该输送槽道b2排列整序后送入该测盘a对应的容槽a1内。

请参阅图4、5，该第一检测工作站c与该第二检测工作站d具有相同的机构，在此仅以该第一检测工作站c作为说明；该第一检测工作站c设有一光学检测器c1与一探针组c2，两者分别位于该测盘a的上、下两侧与该容槽a1对应；该电子元件w为例如发光二极管(led)的元件，该探针组c2的探针c21可上升碰触该电子元件w下方的电极部w1，使该电子元件w上方的发光部w2可发光穿透一透光件c3，由该光学检测器c1收集并检测该电子元件w的光学特性。

请参阅图4、6，该第一分类工作站e与该第二分类工作站f左右对称且具有相同的机构，在此仅以该第一分类工作站e作为说明；该第一分类工作站e设有一排出机构e1与一分配机构e2；该排出机构e1可将该检测工作站c检测完成后的电子元件w由该测盘a排出并经一排料管e11传递至该分配机构e2进行光学特性的分类；

该分配机构e2设有一分配座e21与、一平移机构e22与一分配器e23；该分配座e21上设有多个分配管e211，各分配管e211的配设呈由上往下的直向状配置，其下端各分别接设至预设的料盒(图未示)各分配管e211上方端口呈平面排列布设；该平移机构e22设有一第一驱动件e221与一第二驱动件e222，该第一驱动件e221驱动一嵌轮e223旋转以连动一皮带e224绕转，带动该分配器e23作第一方向(x轴方向)位移；该第二驱动件e222使一驱动臂e225驱动一连动臂e226，以连动该配器e23作第二方向(y轴方向)位移；该分配器e23与该第一排料管e11相连通，并受该平移机构e22的作动，在呈平面排列布设的分配管e211上方作前、后、左、右的水平位移至对应的分配管e211。

本发明实施例在实施上，使多个电子元件w依序由该入料工作站b进入该测盘a对应的容槽a1内，并依电子元件e进入该测盘a的时间先后，将电子元件w归类为单数与双数；本发明实施例以先进入该测盘a的电子元件w归类为单数，接续归类为单数的电子元件w之后进入该测盘a的电子元件w归类为双数，接续归类为双数的电子元件w之后进入该测盘a的电子元件w再归类为单数------，以此类推使多个电子元件w反复以单数与双数的循环排列；

在该测盘a周缘的容槽a1依序循环排列单数与双数的电子元件w后，该测盘a持续以顺时针方向之间歇性旋转流路搬送电子元件w；因该第一检测工作站c、该第一分类工作站e与该第二检测工作站d、该第二分类工作站f分别设于相隔该入料工作站b奇数个与偶数个容槽a1的位置；故如图7所示，当归类为单数的电子元件w进入该测盘a时，该第一检测工作站c、该第二检测工作站d、该第一分类工作站e与该第二分类工作站f无需进行任何作业；当归类为双数的电子元件w进入该测盘a时，该第一检测工作站c、该第二检测工作站d分别同时对归类为单数与双数的电子元件w进行相同物理特性的检测，且该第一分类工作站e与该第二分类工作站f的排出机构e1亦同时分别使归类为单数与双数的电子元件w排出该测盘a，再以分配机构e2选择性地分配该电子元件w至对应物理特性的料盒中作收集。

本发明实施例的电子元件分类方法及装置，将进入该测盘a的电子元件w归类为单数与双数，并在归类为单数的电子元件w进入该测盘a时，使第一检测工作站c、该第二检测工作站d、该第一分类工作站e与该第二分类工作站f不需进行任何作业；在归类为双数的电子元件w进入该测盘a时，使归类为单数的电子元件w由该第一检测工作站c与该第一分类工作站e专属检测与分类，同时使归类为双数的电子元件w由该第二检测工作站d与该第二分类工作站f专属检测与分类；可参阅图7所示，本发明实施例在360毫秒的时间内，可对6个电子元件w进行检测与分类，平均1个电子元件w花费60毫秒的时间，相较于图2的现有技术，在440毫秒的时间内，仅可对4个电子元件w进行检测与分类，平均1个电子元件w花费110毫秒的时间，意谓着本发明在相同的单位时间内可对更多电子元件w进行检测与分类，可有效提升电子元件分选装置的产能。

惟以上所述者，仅为本发明的较佳实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围，即大凡依本发明申请专利范围及发明说明内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本发明专利涵盖的范围内。

【符号说明】

a测盘a1容槽

b入料工作站b1震动送料机

b2输送槽道c第一检测工作站

c1光学检测器c2探针组

c21探针c3透光件

d第二检测工作站e第一分类工作站

e1排出机构e11排料管

e2分配机构e21分配座

e211分配管e22平移机构

e221第一驱动件e222第二驱动件

e223嵌轮e224皮带

e225驱动臂e226连动臂

e23分配器f第二分类工作站

w电子元件w1电极部

w2发光部x1测盘

x11容槽x2入料工作站

x3检测工作站x4分类工作站