一种异物清除装置及元件外观检测设备的制作方法

本实用新型实施例涉及异物清除技术领域，尤其涉及一种异物清除装置及元件外观检测设备。

背景技术：

元件外观检测设备可对元件外观进行检测，以获得元件外观的相关参数，是元件性能检测领域常用的一种检测设备。

待检测元件从元件入口被输送至元件承载玻璃台，元件承载玻璃台旋转，带动待检测元件运动，待检测元件在经过元件外观检测部件时，元件外观检测部件对其外观进行检测，元件外观检测设备的控制器根据检测结果对检测过的元件进行分类，并将合格元件从元件出口输出。此时，不合格元件会继续随承载台运动至入口附近，由于入口与元件承载玻璃台之间的距离小于元件尺寸，不合格元件卡在入口与元件承载玻璃台之间，一方面磨损元件承载玻璃台，另一方面元件承载玻璃台上可能出现杂质，从而导致后期使用过程中的元件检测异常现象发生。

技术实现要素：

本实用新型提供一种异物清除装置及元件外观检测设备，以有效清除目标区域内的异物。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种异物清除装置，包括：

磁性异物吸附模块、磁性异物堆积高度检测模块、残留异物清除模块以及主控模块；

其中，所述磁性异物吸附模块、所述磁性异物堆积高度检测模块以及所述残留异物清除模块均与所述主控模块连接。

第二方面，本实用新型实施例还提供了一种元件外观检测设备，包括上述第一方面所述的异物清除装置。

本实用新型实施例提供的异物清除装置包括磁性异物吸附模块、磁性异物堆积高度检测模块、残留异物清除模块以及主控模块，其中，所述磁性异物吸附模块、所述磁性异物堆积高度检测模块以及所述残留异物清除模块均与所述主控模块连接，使得目标区域内的磁性异物被磁性异物吸附模块吸附，剩余异物被残留异物清除模块清除，且磁性异物堆积高度检测模块可对磁性异物的堆积高度进行检测，主控模块根据检测结果确定磁性异物的堆积高度大于预设值后，控制高度破限提示模块提示工作人员手动去除堆积的磁性异物，进而保证了目标区域内的元件和杂质等异物可以被有效清除，且磁性异物堆积不会与目标区域接触，不会损伤目标区域表面。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1是本实用新型实施例提供的一种异物清除装置的结构框图；

图2是本实用新型实施例提供的一种异物清除装置的应用场景的局部结构示意图；

图3是图2中虚线框a中的结构示意图；

图4是图2中虚线框b中的结构示意图。

具体实施方式

为更进一步阐述本实用新型为达成预定实用新型目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的一种异物清除装置及元件外观检测设备的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。

本实用新型实施例提供了一种异物清除装置，包括：

磁性异物吸附模块、磁性异物堆积高度检测模块、残留异物清除模块以及主控模块；

其中，所述磁性异物吸附模块、所述磁性异物堆积高度检测模块以及所述残留异物清除模块均与所述主控模块连接。

本实用新型实施例提供的异物清除装置包括磁性异物吸附模块、磁性异物堆积高度检测模块、残留异物清除模块以及主控模块，其中，所述磁性异物吸附模块、所述磁性异物堆积高度检测模块以及所述残留异物清除模块均与所述主控模块连接，使得目标区域内的磁性异物被磁性异物吸附模块吸附，剩余异物被残留异物清除模块清除，且磁性异物堆积高度检测模块可对磁性异物的堆积高度进行检测，主控模块根据检测结果确定磁性异物的堆积高度大于预设值后，控制高度破限提示模块提示工作人员手动去除堆积的磁性异物，进而保证了目标区域内的元件和杂质等异物可以被有效清除，且磁性异物堆积不会与目标区域接触，不会损伤目标区域表面。

以上是本申请的核心思想，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的其他实施方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似推广，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

其次，本实用新型结合示意图进行详细描述，在详述本实用新型实施例时，为便于说明，表示装置器件结构的示意图并非按照一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本实用新型保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度以及高度的三维空间尺寸。

图1是本实用新型实施例提供的一种异物清除装置的结构框图。如图1所示，异物清除装置包括磁性异物吸附模块100、磁性异物堆积高度检测模块200、高度破限提示模块300、残留异物清除模块400以及主控模块500，其中，磁性异物吸附模块100、磁性异物堆积高度检测模块200、高度破限提示模块300以及残留异物清除模块400均与主控模块500连接。

其中，磁性异物吸附模块100设置于目标区域上方，用于吸附目标区域中的磁性物质，被吸附的磁性物质堆积于磁性异物吸附模块100上，磁性异物堆积高度检测模块200用于检测堆积的磁性异物的高度，并将检测结果传输至主控模块500，主控模块500确定检测结果大于等于预设值后，控制高度破限提示模块300进行提示，通知工作人员手动去除堆积的磁性物质，避免堆积的磁性物质与目标区域表面接触，对目标区域表面造成损伤。残留异物清除模块400将目标区域中磁性物质外的其他异物清除，本实施例对具体清除方式不做限定，具体例如可以为吹风方式。

示例性的，高度破限提示模块300可以为声光报警器。以使得工作人员能够从视听两方面接收到高度破限的提示，提示效果更佳。

本施例提供的异物清除装置包括磁性异物吸附模块100、磁性异物堆积高度检测模块200、残留异物清除模块400以及主控模块500，其中，所述磁性异物吸附模块100、所述磁性异物堆积高度检测模块200以及所述残留异物清除模块400均与所述主控模块500连接，使得目标区域内的磁性异物被磁性异物吸附模块100吸附，剩余异物被残留异物清除模块400400清除，且磁性异物堆积高度检测模块200可对磁性异物的堆积高度进行检测，主控模块500根据检测结果确定磁性异物的堆积高度大于预设值后，控制高度破限提示模块300提示工作人员手动去除堆积的磁性异物，进而保证了目标区域内的元件和杂质等异物可以被有效清除，且磁性异物堆积不会与目标区域接触，不会损伤目标区域表面。

图2是本实用新型实施例提供的一种异物清除装置的应用场景的局部结构示意图。图3是图2中虚线框a中的结构示意图。图4是图2中虚线框b中的结构示意图。如图2所示，异物清除装置11用于清除元件承载玻璃台10上的异物。图3具体为磁性异物堆积高度检测模块的结构示意图，图4具体为残留异物清除模块的结构示意图。

参见图2，磁性异物吸附模块100例如可以为磁铁。

需要说明的是，磁铁具有磁性，能够有效吸附磁性物质，且其成本低结构简单。可以理解的是，在本实施例的其他实施方式中，磁性异物吸附模块也可以为其他结构，凡是具有磁吸附功能的结构均在本实施例的保护范围内。

如图2和图3所示，磁性异物堆积高度检测模块可以为光纤传感器，具体的，光纤传感器主要功能部件为反射光纤20。

需要说明的是，光纤传感器的精度高，能够准确检测磁性堆积物的高度。

如图2和图4所示，残留异物清除模块可以为离子风吹风部件。

需要说明的是，离子风出风部件能够吹出离子风，离子风能够中和静电，清除静电力，同时采用接口a输入的高压空气形成的风刀将目标区域中的异物清除。

本实用新型还提供了一种元件外观检测设备，该元件外观检测设备包括本实用新型任意实施例所述的异物清除装置。

示例性的，元件外观检测设备例如可以包括圆形的元件承载玻璃台、元件外观检测设备以及异物清除装置，具体的，多个待检测元件依次从元件入口输入元件承载玻璃台，元件承载玻璃台旋转，带动其承载的待检测元件运动，在运动至元件外观检测设备处时，元件外观检测设备对待检测元件进行外观检测，检测合格的元件随元件承载玻璃台的旋转而运动至元件出口时输出，检测不合格的元件随元件承载玻璃台继续运动，由异物清除装置将不合格的元件及元件承载玻璃台上的杂质清除，进而避免不合格元件被元件入口和元件承载玻璃台卡住而造成元件承载玻璃台损伤，保证元件外观检测设备的检测结果不受元件承载玻璃台损伤或元件承载玻璃台上的杂质影响。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。