一种LED灯珠批量分选测试装置的制作方法

一种led灯珠批量分选测试装置
技术领域
1.本实用新型涉及led灯珠分选技术领域，特别涉及一种用于整板led灯珠分选的测试装置。


背景技术：

2.现有的led分选工艺中，首先将整板led灯珠切割成单颗，然后基于分光机对每颗led灯珠点亮进行光电特性测试，最后根据光电特性逐颗分级，完成 led分选，这样单次只能对单颗led灯珠进行分拣。随着小间距led市场规模不断扩大，led灯珠尺寸微型化趋势不可阻挡，先切割后逐颗分选的工艺的方法严重制约了led产业产能提升。


技术实现要素：

3.本实用新型提供了一种用于led灯珠批量分选测试装置，以解决现有技术中先切割后点亮测试导致效率低下的技术问题。
4.为达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案：
5.一种led灯珠批量分选测试装置，包括用于放置待测试led板的底座、位于底座正上方的支架板、多个探针阵列组、上电电路板、升降座和外部驱动器，所述底座上设有和待测试led板上灯珠对应的透光孔；所述支架板位于所述升降座正下方，并与其固定连接，所述升降座位于所述外部驱动器正下方，并与其固定连接，所述外部驱动器可通过所述升降座带动所述支架板相对于底座做往复升降运动；所述上电电路板位于所述支架板正上方，并与支架板固定连接；多个所述探针阵列组安装在所述支架板和上电电路板之间，支架板上设有多个供探针穿过的孔，多个所述探针阵列组上的探针顶部与所述上电电路板对应位置电气连接，探针针尖从所述支架板的孔伸出，可在测试时与放置于所述底座上的待测试led板板底的灯珠引脚电气接触。
6.优选地，所述测试装置还包括压紧固定板，其设置于所述支架板的正下方，可与所述支架板贴合或分离，所述压紧固定板中间设有供多个探针阵列组上的探针伸缩的孔，其底部边缘设有朝所述底座伸出的，且与待测试led板板边第一对应孔(81)和第二对应孔(82)孔径相匹配的第一定位结构(21)和第二定位结构(22)。
7.优选地，多个所述探针阵列组中的探针的长度均为：在所述压紧固定板与所述支架板贴合时，多个所述探针阵列组上的探针针尖可以伸出所述压紧固定板；在所述压紧固定板与所述支架板分离后，探针针尖位于压紧固定板与支架板之间。
8.优选地，所述压紧固定板通过弹性结构连接在所述支架板上，并可与所述支架板贴合或分离。
9.优选地，所述弹性结构为弹簧和铆柱，弹簧套设在铆柱上，所述压紧固定板上设有和铆柱对应的孔，铆柱一端铆接在支架板上，另一端套设在压紧固定板上。
10.优选地，所述第一定位结构和第二定位结构均为锥状。
11.优选地，多个所述探针阵列组上的探针顶部与所述上电电路板的连接方式为均可
拆卸连接。
12.优选地，所述上电电路板靠近探针顶部一面设计有和探针顶部位置一致的焊盘，多个所述探针阵列组通过螺钉安装在所述上电电路板下方，使焊盘和探针顶部电气接触。
13.优选地，所述上电电路板通过支撑柱和螺钉安装在所述支架板上，上电电路板四个角上设有通孔，支架板上设有相应的通孔，支撑柱位于上电电路板和支架板之间，支撑柱、上电电路板和支架板上的孔位对正，螺钉从上电电路板一侧的孔穿入，从支架板上的孔位穿出后拧上螺母。
14.优选地，所述升降座通过螺钉安装在所述外部驱动器上。
15.本实用新型的有益效果：
16.1、本实用新型通过在测试装置上设置多个所述探针阵列组，可实现对整板 led同时通电点亮测试，相对传统的先分割成单颗再点亮测试的方式，本实用新型测试效率更高；
17.2、本实用新型利用待测试led板板边上现有的孔，通过设置压紧固定板，其底部的第一定位结构和第二定位结构可在通电测试前对led板的位置进行校正，使得灯珠引脚和探针阵列组的探针针尖更好对应，可避免接触不当引起的测试不良。
附图说明
18.图1为本实用新型的结构示意图；
19.图2为本实用新型的探针阵列组示意图；
20.图3为本实用新型支架板和压紧固定板的结构示意图；
21.图4为本实用新型中待测试的整板led模型图。
22.附图标记说明：
23.1、底座；2、压紧固定板；3、支架板；4、探针阵列组；5、上电电路板； 6、升降座；7、外部驱动器；8、整板led；21、第一定位结构；22、第二定位结构；81、板边第一定位孔；82、板边第二定位孔；83、led灯珠。
具体实施方式
24.下面结合附图及具体实施例对本实用新型再作进一步详细的说明。在本实用新型的描述中，相关方位或位置关系为基于图1所示的方位或位置关系，其中，“上”、“下”是指图1的上下方向。需要理解的是，这些方位术语仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
25.另外，在本实用新型中的“第一”、“第二”等描述，仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或顺序。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个、三个等，除非另有明确具体的限定。
26.参见图1和图2，图1为本实用新型的结构示意图，图2本实用新型的探针阵列组示意图。
27.第一实施例：
28.如图1所示，图1中有多个探针阵列组4，仅示出其中一个。本技术实施例提供了一
种led灯珠批量分选测试装置，包括底座1、位于底座正上方的支架板3、多个所述探针阵列组4、上电电路板5、升降座6和外部驱动器7，底座1用于放置待测试的led板，其上设有和待测试led板上灯珠对应的透光孔；上电电路板5 用于将外部电源供给测试装置；外部驱动器7通过外接气压带动测试装置工作；支架板3位于升降座6的正下方并和升降座6固定连接，升降座6位于外部驱动器7 的下方，并和外部驱动器7固定连接，外部驱动器7可通过升降座6带动支架板3 相对于底座1做往复升降运动；上电电路板5位于支架板3正上方，并与支架板3 固定连接；多个所述探针阵列组4安装在支架板3和上电电路板5之间，支架板3 上设有多个供探针穿过的孔，多个所述探针阵列组4上的探针顶部与上电电路板 5对应位置电气连接，探针针尖从支架板3的孔伸出，可在测试时与led板板底的灯珠引脚电气接触。
29.操作人员将待测试led板放置在led灯珠批量分选测试装置的底座1上，灯珠面朝下，通电引脚面朝上；接通电源，启动测试装置开关，外部驱动器7可带动支架板3往下运动靠近led板；随着继续下压，多个所述探针阵列组4上的探针针尖与led板上灯珠的引脚接触通电，对led灯珠进行整板点亮；led点亮后发出的光通过底座1的透光孔透出，对其进行点亮检测，测试完成后外部驱动器7向上运动，带动支架板3上移，使探针针尖与led板分离断电；取出测试完成的led板。如此循环。
30.采用上述led灯珠批量分选测试装置，可以一次对整板led进行点亮测试，测试效率高。
31.参见图3，图3为本实用新型支架板和压紧固定板的结构示意图。
32.第二实施例：
33.所述第二实施例与第一实施例的区别在于所述led灯珠批量分选测试装置利用待测试led板板边上现有的孔，还相应设置了压紧固定板2。
34.所述压紧固定板2设置于支架板3的正下方，可与支架板3贴合或分离，压紧固定板2中间设有供多个所述探针阵列组4上的探针伸缩的孔，其底部边缘设有朝所述底座1伸出的，且与待测试led板板边的第一对应孔81和第二对应孔82 相匹配的第一定位结构21和第二定位结构22，其可在待测试led板板边上的相应孔径中插拔。
35.增加了压紧固定板2后，测试装置在启动外部驱动器7带动支架板3往下运动靠近待测试led板时，压紧固定板2先于支架板3接触到led板，其上的第一定位结构21和第二定位结构22插入到待测试led板板边对应的第一对应孔81和第二对应孔82中，对led板位置进行预先校正，这样可使led灯珠引脚和探针阵列组的探针针尖更好对应；随着支架板继续向下运动，压紧固定板2与支架板3 慢慢贴合，探针针尖伸出压紧固定板与led板上灯珠的引脚接触通电，对led 灯珠进行整板点亮；测试完成后，外部驱动器7带动支架板3上移，位于压紧固定板2与支架板3之间的弹性结构使压紧固定板2上升更慢，这样可使led板在测试完成后不被带起，与探针针尖更好地分离断电。
36.作为本实施例的进一步改进，多个所述探针阵列组中4中探针的长度均按照如下方式确认：在所述压紧固定板与所述支架板贴合时，多个所述探针阵列组上的探针针尖可以伸出所述压紧固定板；在所述压紧固定板与所述支架板分离后，探针针尖位于压紧固定板与支架板之间。采用这种长度的探针，可保证探针长度一致性，避免探针多长测试时被压弯，或者探针偏短，测试时接触不良，影响测试结果。
37.作为本实施例的进一步改进，所述压紧固定板2通过弹性结构连接在所述支架板3
的正下方，优选的，所述弹性结构为弹簧和铆柱，采用这种结构时，弹簧套设在铆柱上，所述压紧固定板2上设有和铆柱对应的孔，铆柱一端铆接在支架板3上，另一端套设在压紧固定板2上。
38.参见图4，图4为整板led模型图。
39.作为本实施例的进一步改进，所述第一定位结构(21)和第二定位结构(22) 均可以为锥状(也可采用其它形状，比如柱状)，其与待测试led板板边上的孔81和82相匹配，可在相应的孔中插拔，起到定位作用。采用锥状的定位结构可在led板板边的孔中插拔更顺畅。另外，定位结构的数量不一定要和led板边上的孔数量一致，可以一一对应，也可间隔均匀布置。
40.针对上述两个实施例的进一步改进，多个所述探针阵列组4与所述上电电路板5可以固定连接也可设置为可拆卸连接。所述固定连接具体为，在上电电路板 5上和探针顶部对应的位置设计通孔焊盘，探针顶部直接插装在上电电路板5的对应焊孔中，将探针焊接在焊孔中。所述可拆卸连接具体为，在上电电路板5 靠近探针顶部一面设计有和探针顶部位置一致的表面贴装焊盘，使用螺钉将多个所述探针阵列组4安装在所述上电电路板5上，使多个所述探针阵列组4上的探针顶部和电路板上的焊盘引脚电气接触。所述可拆卸连接还可以是，将上电电路板5对应处设计为带焊盘的通孔，通孔处焊接上插座，将探针与上电电路板5 的连接改为插针与插座的连接方式。
41.针对上述两个实施例的进一步改进，所述上电电路板5和所述支架板3的固定连接优选可拆卸连接方式，比如采用螺钉连接。具体方式为：在上电电路板5 四个角上设有通孔，支架板3上设有相应的通孔，支撑柱位于上电电路板5和支架板3之间，支撑柱、上电电路板和支架板上的孔位对正，螺钉从上电电路板5 一侧的孔穿入，从支架板3上的孔位穿出后拧上螺母。
42.针对上述两个实施例的进一步改进，所述所述升降座6和所述外部驱动器7 的固定连接优选可拆卸连接方式，比如采用螺钉连接。
43.上述可拆卸连接方式可以方便对测试装置上的部件进行后期维护和更换。
44.以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不同限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。并且，本实用新型各个实施方式之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。