一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备及工艺的制作方法

本发明涉及tvs芯片的测试，尤其涉及一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备及工艺。

背景技术：

1、瞬态二极管（transient voltage suppressor）简称tvs，tvs是一种二极管形式的高效能保护器件。当tvs二极管的两极受到反向瞬态高能量冲击时，它能以10的负12次方秒量级的速度，将其两极间的高阻抗变为低阻抗，吸收高达数千瓦的浪涌功率，使两极间的电压箝位于一个预定值，有效地保护电子线路中的精密元器件，免受各种浪涌脉冲的损坏，常规的tvs芯片为长方体结构，两端设置有贴片引脚，tvs芯片生产过程中需要进行检测，以保证其良品率，现有的检查装置不能很好的分离不良品，检测效率不高，所以现提出一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备及工艺。

技术实现思路

1、基于背景技术存在的技术问题，本发明提出了一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备及工艺。

2、本发明提出的一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备，包括机架，所述机架内侧上部一端设置有滑动设置的供料机构，所述机架内侧靠近供料机构下部位置处设置有横向设置的输送带组件，所述机架内侧一端设置有用于驱动供料机构横向往复运动的驱动机构；

3、所述输送带组件包括转动设置在机架内侧两端的两个皮带辊，所述机架外侧固定有第一电机，所述第一电机的输出轴与其中一个皮带辊通过联轴器连接，两个所述皮带辊上套设有同一个皮带，且皮带中间位置处设置有等距离呈环形分布的矩形孔，所述皮带内侧靠近矩形孔位置处设置有保存架，所述保存架靠近矩形孔一侧为开口结构，所述机架内侧靠近皮带内侧上部位置处设置有接电机构，所述接电机构包括固定在机架内侧两边呈对称分布的绝缘支撑板，且两个绝缘支撑板相对一侧设置有第一导电组和第二导电组，所述绝缘支撑板包括分别固定在两个绝缘支撑板上的第一正极导电柱和第一负极导电柱，所述第二导电组包括分别固定在两个绝缘支撑板上的第二正极导电柱和第二负极导电柱，所述第一正极导电柱和第二正极导电柱位于不同侧，所述保存架两侧分别设置有与第一导电组相适配的弧形豁口，所述机架内侧远离供料机构一端下部设置有分料组件，所述皮带辊外周面设置有与保存架相适配的环形沟道，所述第一导电组和绝缘支撑板通过导线连接有tvs测试仪。

4、设置的保存架可以刚好容纳一枚tvs芯片，并且tvs芯片的两极会对齐两个弧形豁口，随着皮带的移动，载有tvs芯片的保存架移动到接电机构位置，首先tvs芯片的两极与第一导电组接触，再与第二导电组接触，可以实现对tvs芯片两极进行两次不同电流方向的检查，符合tvs芯片单向导通的特性，这样落入到保存架的tvs芯片无需保持特定的极性方向，提升了检测的效率。

5、作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备，所述分料组件包括固定设置在机架内侧靠近其中一个皮带辊下部的弧形导向板，所述弧形导向板下侧连接有支撑板，所述支撑板远离弧形导向板一端设置有楞板，所述楞板两端均设置有导向孔，且两个导向孔内均插设有第一导向杆，两个所述第一导向杆上固定设置有同一个活动板，所述第一导向杆远离活动板一端设置有限位帽，且第一导向杆外周面靠近限位帽和楞板之间位置处套设有第一弹簧件，所述活动板两侧均开有矩形豁口，且矩形豁口内均铰接有卡接组件，所述卡接组件包括转动设置在矩形豁口内的锁紧块，所述锁紧块下侧设置有扇形块，所述扇形块上设置有斜孔，所述斜孔斜向支撑板一侧倾斜，所述锁紧块上部设置有齿牙，所述皮带上设置有与齿牙相适配的联动槽，且联动槽与矩形孔位置相对应，两个所述斜孔内插设有同一个横杆，所述活动板下部固定有气缸，且气缸的伸缩端与横杆连接。

6、本优选方案中，设置的弧形导向板，避免在倾斜状态下的保存架中的tvs芯片掉落，当检测结果为良品的情况下，载有tvs芯片的保存架依次经过支撑板和活动板，然后重力作用下掉落，当检测结果为不良品的情况下，通过单片机控制，当载有不良品tvs芯片的保存架快要到达锁紧块位置处时，控制气缸伸长，配合设置的横杆和斜孔，推动锁紧块上旋，将齿牙卡入到载有不良品tvs芯片保存架之前的一个保存架对应的联动槽内，随着皮带移动此时活动板会跟随其一起运动，活动板和支撑板之间会产生一个间隙，随着继续的移动，不良品tvs芯片会通过间隙掉落，实现良品和不良品的掉落位置不同，可以对良品和不良品进行分类，计时一段时间后控制气缸收缩，齿牙和联动槽分离，活动板在第一弹簧件的作用下复位。

7、作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备，所述机架上部向一端延伸形成横平部，所述机架内侧远离横平部一端上部设置有安装板，且机架内侧靠近安装板上部位置处固定有盖板。

8、作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备，所述供料机构包括储料斗，所述储料斗上部和下部均为开口结构，所述储料斗两侧均设置有滑轨组件，所述储料斗通过滑轨组件与机架形成滑动连接，所述储料斗内侧下部位置处设置有抖料组件，所述抖料组件包括横插板，所述储料斗远离分料组件一侧设置有供横插板穿过的条形通道，所述横插板靠近储料斗内侧一边设置有斜向分料组件一侧弯曲的第二折弯部，所述横插板远离储料斗一侧向下弯折形成第一折弯部，所述横插板靠近第二折弯部位置处设置有横向设置的横轴，所述储料斗两侧均设置有横向延伸的条形孔，且所述横轴分别滑动设置在两个条形孔内，所述机架其中一侧靠近条形孔上部位置处固定有触发条，且触发条上设置有等距离分布的锯齿槽，所述储料斗侧壁靠近触发条位置处转动设置有联动臂。

9、作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备，所述联动臂上端远离储料斗一侧设置有凸销，所述凸销置于锯齿槽内，所述联动臂侧壁远离凸销一端设置有腰型孔，所述横轴其中一端插设在腰型孔内。

10、本优选方案中，这里随着驱动机构的作用实现供料机构横向的往复运动，运动过程中储料斗上转动设置的联动臂跟随一起运动，凸销在不同锯齿槽内滑动，带动联动臂摆动，从而带动插设在腰型孔内的横轴在条形孔内做往复的运动，从而带动横插板往复的移动，可以推动tvs芯片移动，将多余的tvs芯片从矩形孔位置处刮走。

11、作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备，所述滑轨组件包括固定在机架内侧的直线导轨，且直线导轨上滑动设置有滑块，所述滑块通过螺栓与储料斗侧壁固定连接。

12、作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备，所述第一折弯部上设置有圆形插孔，且圆形插孔内插设有第二导向杆，所述第二导向杆远离第一折弯部一端与储料斗侧壁固定连接，所述第二导向杆外周面靠近第一折弯部和储料斗之间套设有第二弹簧件。

13、作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备，所述驱动机构包括固定在安装板上的第二电机，且第二电机的伸缩端固定有转盘，所述转盘上部靠近边缘位置处转动设置有金属臂，所述储料斗靠近转盘一侧设置有连接块，所述金属臂远离转盘一端与连接块转动连接。

14、作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备，所述机架顶部靠近供料机构位置处固定有机罩，所述tvs测试仪设置在机罩上。

15、本发明提出的一种用于双向高压台面tvs芯片的测试工艺，使用如上述所述的一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备，其包括如下步骤：

16、s1：上料，将需要进行检测的tvs芯片投放到储料斗内，并在机架下部靠近分料组件位置处摆放两个用于存放测试后tvs芯片的收纳盒；

17、s2：测试，通过控制驱动机构中的第二电机工作，带动转盘旋转，配合设置的金属臂，实现储料斗在机架内横向的往复运动，运动过程中抖料组件中的联动臂上的凸销会在触发条上的锯齿槽内滑动，滑动过程中会带动联动臂交替的摆动，从而带动横轴在条形孔内往复的移动，从而带动横插板做往复运动，从而带动第二折弯部推动储料斗中的tvs芯片移动，有助于tvs芯片落入到矩形孔内，在此过程中第一电机的作用下，带动皮带匀速的旋转，当tvs芯片落入到保存架中，随着皮带的运动，载有tvs芯片的保存架移动到两个绝缘支撑板之间，首先tvs芯片的引脚会与第一导电组接触，通过tvs测试仪进行阻值的检测，并随着皮带的运动，载有tvs芯片的保存架处于第二导电组之间，再通过tvs测试仪进行阻值的检测；

18、s3：下料，通过单片机与tvs测试仪进行通讯，当检测阻值结果在合理的阈值范围内，判断对应tvs测试仪为良品，随着皮带的移动，良品的tvs测试仪会经过分料组件，然后在重力作用下，从保存架中掉落到对应的收纳盒内，当检测阻值结果超过设定的阈值，则判断tvs测试仪为不良品，此时会触发定时程序，控制气缸伸出，配合横杆和斜孔，带动锁紧块旋转，在不良品的tvs测试仪快要到达锁紧块位置处时，将齿牙上移卡入不良品tvs芯片所在保存架之前的一个保存架对应的联动槽内，随着皮带的旋转，带动活动板一起移动，不良品的tvs测试仪会从活动板和支撑板之间的间隙掉落到另外一个收纳盒内，实现不良品tvs芯片和良品tvs芯片分类。

19、综上可知，本发明中的有益效果为：

20、通过设置的分料组件，可以实现不良品tvs芯片和良品tvs芯片分类，提高了工作效率，丰富了装置功能，同时配合设置的接电机构和保存架，可以对tvs芯片两极进行交替的检测，检测的结果更加可靠，同时配合设置的驱动机构和供料机构，可以提高tvs芯片落入到保存架中的成功率，配合设置的抖料组件，机械联动巧妙，节约动力源，有助于tvs芯片进入到保存架中，以及多余的tvs芯片离开保存架。