分选机目检装置的制造方法

文档序号:9020004阅读:432来源:国知局
分选机目检装置的制造方法
【技术领域】
[0001 ] 本实用新型是关于目检装置,特别是分选机目检装置。
【背景技术】
[0002]分选机目检装置通常包含旋转台及限定该旋转台在其上旋转的承载台。工作时,马达带动旋转台在承载台中高速旋转,如每昼夜40万转。由于马达的转子以及联轴器等部件存在的公差,使得任何由马达带动的旋转部件在旋转时不能绝对同心,因而旋转台及承载台这种面接触相对旋转结构存在易于磨损弊端。而如果目检装置对气密性要求较高,即使产生微小的磨损也会造成真空度要求不合格。例如,用于半导体封装体的分选机目检装置,一旦旋转台及承载台间磨损量达到1%,整个装置的真空结构就会失效。这意味着目检装置对待目检件,如封装体施加的限位力小于其旋转时所需的向心力,待目检件将沿切线方向高速甩出,即发生甩料异常,并可能严重影响待目检件的品质,如封装体弯脚等异常。
[0003]由于旋转台及承载台极为昂贵,成本考虑不会轻易淘汰。因而如真空结构未完全失效,通常会继续使用。但此时对整个目检装置的其它部件的配合要求将更为严苛,如输入/输出信号的精准度、电磁阀灵敏度,及部件的气密性要求等都会成倍增加。即使如此,也会发生机台宕机或产量急剧下降,大幅度增加设备维护人员的工作量。
[0004]综上所述,现有的分选机目检装置亟需改进。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型的目的之一在于提供分选机目检装置,其可有效延长目检装置的寿命,并降低成本。
[0006]根据本实用新型一实施例,一分选机目检装置包含旋转台及承载台。旋转台具有一转轴,该旋转台经配置以旋转带动若干工位在上/下料位置及检测位置间切换。承载台经配置以将旋转台的转轴限位在其旋转空间内旋转并保持真空气密性,并进一步包含本体、N个滑块及N个弹簧。其中本体设有N个呈360/N度分布的滑动空间,各滑动空间具有相对两侧壁及连接该两侧壁的后壁,该两侧壁上分别设有限位槽。该N个滑块中的相邻两者彼此接触,各滑块经配置以在相应滑动空间内滑动并由该滑动空间的限位槽在垂直方向上限位。该各滑块具有与其对应滑动空间的后壁相对的后端面及与该后端面相对的前端面,该前端面呈360/N度圆弧形从而使得该N个滑块共同定义该圆形旋转空间。N个弹簧则经配置以分别限位于相应滑动空间的后壁及相应滑块之间。
[0007]在根据本实用新型的另一实施例中,工位的数量及N均为4。分选机目检装置可进一步包含4个通气管,经配置以在真空和高压间切换。该本体上对应各滑动空间的后侧壁贯穿有第一通孔,相应的各滑块上设有贯穿该后端面至该前端面第二通孔;各通气管穿过相应滑动空间的该第一通孔并部分收纳于相应滑块上的该第二通孔。该旋转台的转轴上设有与该滑块上的第二通孔对应的第三通孔。当自该工位中处于上/下料位置的一者上取走待目检件时,其对应的通气管为高压状态;当向该工位中处于上/下料位置的一者上放置待目检件或其处于检测位置时,其对应的通气管为真空状态。该分选机目检装置可进一步包含若干吸嘴,经配置以在该工位处于上/下料位置时放置/取走待目检件。在又一实施例中,该分选机目检装置所检测的是半导体封装体。该N个滑块中每一者的两侧具有台阶部。该分选机目检装置还可进一步包含盖板,设置于该旋转台上。该若干工位设置于该盖板上并与该4个通气管气路连通。该本体可为调制钢或尼龙塑料,该滑块可为金属或尼龙塑料。
[0008]本实用新型的分选机目检装置,其旋转台与承载台之间可保持高真空气密性,且磨损较低,因而具有气密性好、成本低,寿命长等诸多优点。
【附图说明】
[0009]图1所示是根据本实用新型一实施例的分选机目检装置的局部立体结构示意图。
[0010]图2是图1中分选机目检装置的分解示意图。
[0011]图3所示是根据本实用新型一实施例的承载台的立体结构示意图,其主要包含本体和四滑块。
[0012]图4是图3中承载台的本体的局部示意图。
[0013]图5是图3中承载台的一滑块的立体结构示意图。
【具体实施方式】
[0014]为更好的理解本实用新型的精神,以下结合本实用新型的部分优选实施例对其作进一步说明。
[0015]在分选电子元件,如半导体封装体的分选机上,其目检装置通常包含呈子母结构的旋转台和承载台。承载台上设有供旋转台的转轴在其内高速旋转,并保持两者间真空气密性接触的旋转空间。由于承载台是以应力压迫的方式限位旋转台,旋转台和承载台需选用耐磨、硬度大的材料,如钨钢。然这种材料通常较为昂贵、脆性高、尺寸要求精准,一旦变形则无法通过机械加工、热处理等方式变回原尺寸。此外,现有的旋转台和承载台硬度相同,同时磨损,而极小的磨损量就会造成整个机构的真空气密性无法满足要求失,此时需将两者同时更换,导致生产成本大幅提高。即使气密性要求并不严格,两者间的磨损也易造成旋转台旋转不稳定,影响检测效率。
[0016]根据本实用新型实施例的分选机目检装置则可解决上述问题,其主要体现在承载台40的改进。
[0017]图1所示是根据本实用新型一实施例的分选机目检装置10的局部立体结构示意图。图2是图1中分选机目检装置10的分解示意图。
[0018]如图1、2所示,该分选机目检装置10主要包含盖板20、旋转台30、承载台40,及马达50。在其它实施例中,盖板20与旋转台30可一体成型。除承载台40外,盖板20、旋转台30、马达50等均可采用本领域常规的设计,故以下仅作简单说明。
[0019]盖板20遮盖于旋转台30上并设有四个呈90度分布的工位22,各工位22藉由旋转台30的旋转而在上/下料位置及检测位置间切换。旋转台30设有复杂的真空气密性气路结构使得各工位22可与旋转台30的相应第三通孔360相通,该第三通孔360又进一步通过承载台40与通气管12气路连通。当吸头14或其它取放工具自该工位22中处于上/下料位置的一者上取走待目检件时,其对应的通气管12为高压状态;当吸头14或其它取放工具向该工位22中处于上/下料位置的一者上放置待目检件或该工位22处于检测位置时,其对应的通气管12为真空状态。本实施例中,待目测件可以是包含半导体封装体在内的电子元件,如小尺寸封装体等,只要与盖板20上的工位22尺寸符合即可。在其它实施例中,可通过更换具有不同尺寸工位22的盖板20实现不同尺寸待目检件的检测。
[0020]该旋转台30具有一承托盖板20的承托部34及一与该承托部34连接的转轴36。该转轴36可收容于承载台40的旋转空间42内并进一步与马达50连接,而由马达50带动在旋转空间42内旋转。
[0021 ] 图3所示是根据本实用新型一实施例的承载台40立体结构示意图,其主要包含本体44和四滑块46。图4是图3中承载台40的本体44的局部示意图。图5是图3中承载台40的一滑块46的立体结构示意图。
[0022]结合图3、4、5所示,承载台40经配置以将旋转台30的转轴36限位在其旋转空间42内旋转并保持真空气密性。本体44设有4个呈90度分布的滑动空间440,各滑动空间440具有相对两侧壁442及连接该两侧壁442的后壁
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