技术特征：
1.一种叶栅气膜冷却试验的测量修正方法，其特征在于，应用于试验件叶片，其上划分有测量区域和测量修正区域，所述方法包括：获取所述试验件叶片的壁面温度、外部流体温度和冷气温度；通过计算分别得到所述测量区域对应的测量气膜冷却有效度和所述测量修正区域对应的修正气膜冷却有效度；基于测量修正模型，通过所述修正气膜冷却有效度对所述测量气膜冷却有效度进行修正，得到所述试验件叶片的绝热气膜冷却有效度。2.根据权利要求1所述的叶栅气膜冷却试验的测量修正方法，其特征在于，所述试验件叶片沿其外部流体流向包括前端和后端，在靠近前端的一侧设有供气室；所述试验件叶片的压力面与吸力面上分别划分有靠近所述供气室的测量修正区域和远离所述供气室的测量区域；其中，所述测量区域设有一或多排气膜孔，用于计算所述试验件叶片对应不同曲率处的气膜冷却有效度；所述供气室用于向所述气膜孔提供冷气并对其流量进行控制。3.根据权利要求2所述的叶栅气膜冷却试验的测量修正方法，其特征在于，所述测量区域和所述测量修正区域之间设有若干引压孔，用于所述试验件叶片不同曲率处压力分布的测量和调节以及吹风比的计算。4.根据权利要求3所述的叶栅气膜冷却试验的测量修正方法，其特征在于，所述吹风比的计算公式为：其中，ρ
c
、u
c
分别为冷气流的密度和速度；ρ
r
、u
r
分别为外部流体的密度和速度。5.根据权利要求1所述的叶栅气膜冷却试验的测量修正方法，其特征在于，所述测量气膜冷却有效度的计算公式为：所述修正气膜冷却有效度的计算公式为：其中，t
wr
为所述测量区域对应的壁面温度；t
ws
为所述测量修正区域对应的壁面温度；t
r
为所述试验件叶片的外部流体温度；t
c
为冷气温度。6.根据权利要求5所述的叶栅气膜冷却试验的测量修正方法，其特征在于，所述基于测量修正模式得到的所述绝热气膜冷却有效度的计算公式为：其中，η
r
为有所述气膜孔覆盖的所述测量区域的测量气膜冷却有效度；η
s
为无所述气膜孔覆盖的所述测量修正区域的修正气膜冷却有效度。7.根据权利要求1所述的叶栅气膜冷却试验的测量修正方法，其特征在于，所述方法还包括：当所述试验件叶片达到流动和传热的稳定状态时，通过改变所述试验件叶片的壁面温度和热流密度，依据牛顿冷却定律得到所述测量区域对应的换热系数的计算公式为：
所述测量修正区域对应的换热系数的计算公式为：其中，t
wr，i
、t
ws，i
分别为第i次的所述测量区域和所述测量修正区域对应的壁面温度的测量值；分别为i次的所述测量区域和所述测量修正区域对应的壁面温度的平均计算值；q
i
为第i次的所述试验件叶片的壁面热流密度的测量值；为i次的所述试验件叶片壁面热流密度的平均计算值。8.一种叶栅气膜冷却试验的测量修正装置，其特征在于，所述装置包括：获取模块，用于获取所述试验件叶片的壁面温度、外部流体温度和冷气温度；处理模块，用于通过计算分别得到所述测量区域对应的测量气膜冷却有效度和所述测量修正区域对应的修正气膜冷却有效度；修正模块，用于基于测量修正模型，通过所述修正气膜冷却有效度对所述测量气膜冷却有效度进行修正，得到所述试验件叶片的绝热气膜冷却有效度。9.一种计算机设备，其特征在于，所述设备包括：存储器及处理器；所述存储器用于存储计算机程序；所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述设备执行如权利要求1至7中任一项所述叶栅气膜冷却试验的测量修正方法。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述叶栅气膜冷却试验的测量修正方法。
技术总结
本发明提供一种叶栅气膜冷却试验的测量修正方法，应用于试验件叶片，其上划分有测量区域和测量修正区域，所述方法包括：获取所述试验件叶片的壁面温度、外部流体温度和冷气温度；通过计算分别得到所述测量区域对应的测量气膜冷却有效度和所述测量修正区域对应的修正气膜冷却有效度；基于测量修正模型，通过所述修正气膜冷却有效度对所述测量气膜冷却有效度进行修正，得到所述试验件叶片的绝热气膜冷却有效度。本申请采用集测量部分与测量修正部分于同一试验件上的试验测量方法，避免了大量重复性试验，避免了实验过程中拆装试验台产生的一些不确定因素对实验产生的负面影响。生的一些不确定因素对实验产生的负面影响。生的一些不确定因素对实验产生的负面影响。
技术研发人员：张祎 李新宇 谈芦益
受保护的技术使用者：上海电气集团股份有限公司
技术研发日：2021.12.08
技术公布日：2022/3/8