微电子机械系统和使用方法

文档序号:8366843阅读:576来源:国知局
微电子机械系统和使用方法
【专利说明】
[0001] 相关申请的交叉参考
[0002] 本申请是2012年6月13日提交的第61/659, 179号、2012年11月8日提交的 第61/723, 927号、2012年11月9日提交的第61/724, 325号、2012年11月9日提交的第 61/724, 400号、2012年11月9日提交的第61/724, 482号和2012年6月13日提交的第 61/659, 068号美国临时专利申请的非临时申请并且要求所述美国临时专利申请的优先权, 每个美国临时专利申请的整体通过引用结合到本文中。
技术领域
[0003] 本申请涉及微电子机械系统(MEMS)和纳米电子机械系统(NEMS)。
【背景技术】
[0004] 一般在硅(Si)和绝缘体上硅(SOI)晶片上加工微电子机械系统(MEMS),非常像标 准的集成电路那样。然而MEMS装置包括晶片上的移动部分以及电部件。MEMS装置的示例 包括回转仪、加速仪和麦克风。MEMS装置还能够包括执行器,执行器移动以在对象上施加 力。示例包括微机器人操纵器。然而,当加工MEMS装置时,所加工的结构的尺寸经常不匹 配在布局中指定的尺寸。这能够由例如不足的蚀刻或过度的蚀刻引起。
[0005] 对以下文献进行引用:
[0006] [A1]D. H. Titterton,J. L. Weston,"捷联惯性导航技术(Strapdown Inertial Navigation Technology),'Peter Peregrinus Ltd. UK, 1997.
[0007] [A2]Y. Yazdi,F. Ayazi,K. Najafi,"微机械惯性传感器(Micromachined inertial sensors)Proceedings of the IEEE, vol. 86, no. 8, pp. 1640-1659,1998.
[0008] [A3] I. Skog, P. HSndel. "对 MEMS 惯性测量单元的校准(Calibration of a MEMS inertial measurement unit) ^XVII IMEKO WORLD CONGRESS Metrology for a Sustainable Development, September,17-22,2006.
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[0011] [A6]R M. Rogers,"在集成导航系统中的应用数学(Applied Mathematics In integrated Navigation Systems)" Second Edition. AIAA Education Series,2003.
[0012] [A7] F. Li and J. Clark,"MEMS的刚度、位移和梳齿驱动器力的实际测量 (Practical measurements of stiffness, displacement, and comb drive force ofMEMS) "IEEE UGIM,2010.
[0013] [A8]A.Shkel,C.Acar. "用于改善鲁棒性的MEMS振动回转仪结构方法(MEMS Vibratory Gyroscopes Struetural Approaches to Improve Robustness),'Springer Verlag,2008.
[0014] [A9]Tang W C. "用于谐振传感器和执行器应用的静电梳齿驱动器 (Electrostatic comb drive for resonant sensor and actuator applications),'PhD Dissertation,University of California,Berkeley,CA. 1990.
[0015] [All] AD7746 电容到数字转换器(Capacitance-to-Digital Convertor),模拟装 置(Analog Devices),MA,2011.
[0016] 还对以下文献进行引用:
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[0018] [B2]Webb,C.,1997, "红外线:更快、更小、更便宜(Infrared :Faster,Smaller, Cheaper),'Control Instrumentation 44.
[0019] [B3]Childs,P. R. N.,Greenwood,J. R. and Long,C. A.,2000, "温度测量的回顾 (Review of Temperature Measurement)", Review of Scientific Instruments,71(8) pp. 2959-2978.
[0020] [B4]Preston_Thomas,H.,1990, " 1990 的国际温标(ITS-90) (The International Temperature Scale of 1990 (ITS-90))",Metrologia 27,pp.186-193.
[0021] [B5]Hutter,J. L,and Bechhoefer,J.,1993, "原子力显微镜针尖的校准 (Calibration of atomic-force microscope tips)^Review of Scientific Instruments 64 (7),pp. 1868-1873.
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[0025] [B9]Butt,H. J.,and Jaschke,M.,1995, "原子力显微镜中的热噪声的计算 (Calculation of Thermal Noise in Atomic Force Microscopy)", Nanotechnology, 6(l),pp. 1-7.
[0026] [B10]Levy,R.,and Maaloum,M.,2002,"测量原子力显微镜悬臂的弹簧常量: 热涨落和其他方法(Measuring the Spring Constant of Atomic Force Microscope Cantilevers !Thermal Fluctuations and Other Methods)",Nanotechnology,13(I), pp. 34-37.
[0027] [Bll]Jayich,A.C.,and Shanks,W.E.,2008, "1 开尔文下的悬臂上采样系统 的噪声测温法和电子测温法(Noise Thermometry and Electron Thermometry of a Sample-On-Cantilever System Below IKelvin)",Applied Physics Letters,92 (I), pp. 1-3.
[0028] [B12]Li,F.,and Clark,J. V.,2010,"MEMS的刚度、位移和梳齿驱动器力的实际 测量(Practical Measurements of Stiffness,Displacement,and Comb Drive Force of MEMS) ",EEE UGIM(University Government Industry Micro/nano)Symposium,pp. 1-6.
[0029] [B15]C0MS0L, Inc. 744Cowper Street, Palo Alto, CA 94301, USA, www. comsol. com
[0030] 还对以下文献进行引用:
[0031] [Cl]Gabrielson,T. B.,1993, "微机械声学和振动传感器中的机械热噪声 (Mechanical-Th
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