一种声波及顶角核查装置的制作方法

1.本实用新型涉及检测装置技术领域，尤其是涉及一种声波及顶角核查装置。


背景技术：

[0002]“十二五”以来，勘查重点向北方可地浸砂岩型铀矿和深部500m～1500m深度的“第二找矿空间”发展，在铀矿找矿和开发方面取得了重大突破。我国铀资源开发布局逐渐由南方热液型向北方砂岩型转移，同时也向深部500m～1500m“第二找矿空间”发展。
[0003]
通过综合测井可区分岩性、了解砂岩和赋矿层位的展布、测定铀含量、钻孔施工角度和孔隙度等参数。故多参数综合测井是在无法采取完整岩心的情况下，从钻孔中获取深部地质信息参数的主要方法与手段。多参数综合测井将成为新形势下“第二找矿空间”攻深找盲不可或缺的物探手段。
[0004]
测井资料采集的质量直接影响铀矿勘探、采冶进程，一套合格的测井资料，准确性的基础和前提是由可靠的测井设备来支撑，各种测井设备必须符合相应的校验及刻度技术条件。但现在使用的综合测井参数，除定量γ刻度装置以外，其他测井参数都是采用生产厂家的刻度器进行刻度，导致参数量值不统一。同时由于不同测井公司仪器性能不同，各个测井公司的测井质量评价标准又存在着一些差异，这就造成了国内铀矿勘查采冶各地测井资料质量的参差不齐，没有一个统一的刻度标准。特别是仪器的刻度更是没有形成标准化，甚至有的仪器生产厂家没有建立标准的刻度装置，只是借助其他一些标准来刻度，不能适应新时期铀矿采冶需求。
[0005]
因此，研制一套适合野外使用的多参数核查模型，统一刻度装置的量值，监测仪器的“三性”，保证野外多参数综合测井的量值准确可靠是十分必要的。对提高铀矿勘查效率具有重要意义。


技术实现要素：

[0006]
本实用新型的目的在于提供一种声波及顶角核查装置，以解决现有技术中存在的上述技术问题。
[0007]
为实现上述目的，本实用新型提供了以下技术方案：
[0008]
本实用新型提供的一种声波及顶角核查装置，包括校验台座、声波校验筒、声波探管组件和测斜仪刻度组件，其中：
[0009]
所述声波校验筒采用无磁材料制成，可拆卸安装在所述校验台座上；
[0010]
所述声波探管组件和所述测斜仪刻度组件采用无磁材料制成，且以择一方式可拆卸安装在所述声波校验筒上。
[0011]
作为本实用新型的进一步改进，所述校验台座包括具有容纳腔的基座、支撑在所述基座周侧的可伸缩支腿。
[0012]
作为本实用新型的进一步改进，所述基座为中空圆柱体阶梯结构，包括依次设置的第一柱部和第二柱部，所述第一柱部直径大于所述第二柱部直径，所述第二柱部底部设
置有圆盘形基脚，所述支腿包括通过螺纹连接的上腿和下腿、以及设置在所述下腿底部的脚垫，所述上腿铰接在所述第一柱部上，能相对于所述第二柱部靠近或远离；所述第一柱部上设置有能供所述上腿卡入的避让槽；所述声波校验筒密封式连接在所述第一柱部顶部，且所述声波校验筒内腔与所述基座容纳腔连通。
[0013]
作为本实用新型的进一步改进，所述声波校验筒为中空筒体结构，底部与所述校验台座密封式连接，且所述声波校验筒直径与所述校验台座顶部规格相等，所述声波校验筒内腔直径与所述校验台座的容纳腔直径相等；所述声波校验筒数量为两个，分别为第一校验筒和第二校验筒，所述第一校验筒采用高声阻抗材料制成，所述第二校验筒采用低声阻抗材料制成。
[0014]
作为本实用新型的进一步改进，所述第一校验筒采用pvc材料制成，所述第二校验筒采用铝材料制成。
[0015]
作为本实用新型的进一步改进，所述声波探管组件包括声波探管、依次从下到上套设在所述声波探管外侧的探管居中组件和扶正盖组件，所述声波探管采用铜或铝材料制成，所述探管居中组件和所述扶正盖组件均采用尼龙材料制成；所述探管居中组件由两个半圆居中环对接而成，所述探管居中组件外径等于所述声波校验筒内径，所述探管居中组件与所述声波探管之间为间隙配合；所述扶正盖组件由两个半圆扶正环磁吸在一起而成，所述扶正盖组件具有阶梯结构，底部直径等于所述声波校验筒内径，顶部直径大于所述声波校验筒内径，所述扶正盖组件与所述声波探管之间为紧配合。
[0016]
作为本实用新型的进一步改进，所述测斜仪刻度组件包括第一自由度调节机构、第二自由度调节机构、探管夹持机构、测斜探管、第三自由度调节机构，其中：
[0017]
所述第一自由度调节机构安装在所述声波校验筒上，能进行水平方向转动以进行第一自由度调节；
[0018]
所述第二自由度调节机构安装在所述第一自由度调节机构顶部，能进行竖直方向转动以进行第二自由度调节；
[0019]
所述测斜探管通过所述探管夹持机构安装在所述第二自由度调节机构末端；
[0020]
所述第三自由度调节机构安装在所述第二自由度调节机构上，通过所述第三自由度调节机构能判断所述声波及顶角核查装置的水平度，并进而调节所述校验台座。
[0021]
作为本实用新型的进一步改进，所述第一自由度调节机构包括第一壳体、方位刻度盘、竖直轴，所述方位刻度盘插设在所述声波校验筒顶部，所述竖直轴下端通过轴承转动设置在所述方位刻度盘内，顶部固定在所述第一壳体内。
[0022]
作为本实用新型的进一步改进，所述第二自由度调节机构包括第二壳体、水平轴、转动手轮、顶角刻度盘和擎动手柄，其中：
[0023]
所述第二壳体安装在所述第一自动度调节机构顶部；
[0024]
所述水平轴穿设在所述第二壳体内，且两端均凸出，分别与所述探管夹持机构和所述转动手轮连接；
[0025]
所述顶角刻度盘固定在所述第二壳体一端，且位于所述转动手轮里侧；
[0026]
所述第二壳体顶部开设有调节孔，所述擎动手柄安装在所述调节孔内，且末端与所述水平轴可接触连接。
[0027]
作为本实用新型的进一步改进，所述第三自由度调节机构包括设置在所述第二自
由度调节机构顶部的气泡水平仪。
[0028]
本实用新型与现有技术相比具有如下有益效果：
[0029]
本实用新型提供的声波及顶角核查装置，由四部分组成，分别是校验台座、声波校验筒、声波探管组件和测斜仪刻度组件，各个组成部分之间可拆卸连接，最大程度解决了野外运输、现场安装、拆卸搬运困难等问题，为野外随时随地核查测井探管提供了可能，整套核查装置拆解后可轻松收纳入航空箱内，一人即可完成核查装置的安装、拆卸及转运。
附图说明
[0030]
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]
图1是本实用新型声波及顶角核查装置作为顶角方位角核查时的结构示意图；
[0032]
图2是本实用新型声波及顶角核查装置作为声波核查时的结构示意图。
[0033]
图中1、校验台座；11、基座；111、第一柱部；112、第二柱部；113、基脚；12、支腿；121、上腿；122、下腿；123、脚垫；2、声波校验筒；3、声波探管组件；31、声波探管；32、扶正盖组件；4、测斜仪刻度组件；41、第一自由度调节机构；411、第一壳体；412、方位刻度盘；42、第二自由度调节机构；421、第二壳体；422、水平轴；423、转动手轮；424、顶角刻度盘；43、探管夹持机构；44、测斜探管；45、第三自由度调节机构。
具体实施方式
[0034]
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本实用新型的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本实用新型所保护的范围。
[0035]
如图1和图2所示，本实用新型提供了一种声波及顶角核查装置，包括校验台座1、声波校验筒2、声波探管组件3和测斜仪刻度组件4，其中：
[0036]
声波校验筒2采用无磁材料制成，可拆卸安装在校验台座1上；
[0037]
声波探管组件3和测斜仪刻度组件4采用无磁材料制成，且以择一方式可拆卸安装在声波校验筒2上。
[0038]
本实用新型提供的声波及顶角核查装置，由四部分组成，分别是校验台座、声波校验筒、声波探管组件和测斜仪刻度组件，各个组成部分之间可拆卸连接，最大程度解决了野外运输、现场安装、拆卸搬运困难等问题，为野外随时随地核查测井探管提供了可能，整套核查装置拆解后可轻松收纳入航空箱内，一人即可完成核查装置的安装、拆卸及转运。
[0039]
如图2所示，使用时，当将声波探管组件3安装在校验台座1上时能进行声波核查，如图1所示，当将测斜仪刻度组件4安装在校验台座1上时，能进行顶角和方位角的核查。
[0040]
作为本实用新型的一种可选实施方式，校验台座1包括具有容纳腔的基座11、支撑在基座11周侧的可伸缩支腿12。
[0041]
具体的，基座11为中空圆柱体阶梯结构，包括依次设置的第一柱部111和第二柱部
112，第一柱部111直径大于第二柱部112直径，第二柱部112底部设置有圆盘形基脚113，支腿12包括通过螺纹连接的上腿121和下腿122、以及设置在下腿122底部的脚垫123，上腿121铰接在第一柱部111上，能相对于第二柱部112靠近或远离，从而实现不使用时的收纳或者是使用时的支撑；第一柱部111上设置有能供上腿121卡入的避让槽，以便于上腿121归拢收纳时的顺利归拢，进一步的，上腿121和下腿122之间的阶梯结构空间正好便于支腿12的放置；在本实施例中，支腿12包括三个，呈120度夹角设置在基座11的周侧；声波校验筒2密封式连接在第一柱部111顶部，且声波校验筒2内腔与基座11容纳腔连通。此处需要说明的是，声波校验筒2与第一柱部111的连接关系可以采用密封圈密封加螺纹连接的方式，也可以采用密封圈密封将螺栓连接的方式，至于采用何种形式本实用新型在此并不做过多限定，只要能实现相互之间的可拆卸式密封连接即可。
[0042]
作为本实用新型的一种可选实施方式，声波校验筒2为中空筒体结构用来模拟实际钻孔岩层的声学特性，且两端敞口，底部与校验台座1密封式连接，且声波校验筒2直径与校验台座1顶部规格相等，声波校验筒2内腔直径与校验台座1的容纳腔直径相等；声波校验筒2数量为两个，分别为第一校验筒和第二校验筒，第一校验筒采用高声阻抗材料制成，第二校验筒采用低声阻抗材料制成。两个声波校验筒互换使用。使用时，两个声波校验筒2择一与校验台座1连接，并且一个声波校验筒测试完毕后，再进行另一个声波校验筒2的测试。
[0043]
具体的，第一校验筒采用pvc材料制成，第二校验筒采用铝材料制成。声波校验筒2要求其声阻抗等物理特性长期稳定不变，选择的高、低声阻抗的材料应不渗水，不溶解，低孔隙度。通常选择的声波校验筒为铝筒和pvc筒，给定的声速范围：分别是1835μs/m和55010μs/m。
[0044]
在本实用新型中，声波校验筒2尺寸一般内径110mm，外径120mm，长1.2m。
[0045]
声波探管的刻度比较简单，将声波探管分别放进第一校验筒和第二校验筒内，筒内装满水，测量此时声波的速度，其中放入第二校验筒的有关参数见下表。
[0046]
表声波探管参数
[0047][0048]
在校验筒内连续测量2h，纵波时差与标称值的绝对误差应不大于5s/m。
[0049]
校验台座1采用无磁转台，倾角测量范围0
°
～180
°
(与水平面x方向夹角)，方位角范围0
°
～360
°
(投影到水平面的角)声波及顶角核查装置安装环境要求核查区域10mx10m范围内无动磁干扰。顶角大于3
°
时测量的方位角，在0
°
～360
°
范围内，测量的方位角绝对误差应不大于5
°
。顶角在0
°
～45
°
之间，测量的顶角绝对误差应不大于0.5
°
。
[0050]
作为本实用新型的一种可选实施方式，声波探管组件3包括声波探管31、依次从下到上套设在声波探管31外侧的探管居中组件和扶正盖组件32，声波探管31采用铜或铝材料制成，探管居中组件和扶正盖组件32均采用尼龙材料制成；探管居中组件由两个半圆居中环对接而成，探管居中组件外径等于声波校验筒2内径，探管居中组件与声波探管31之间为
间隙配合；扶正盖组件32由两个半圆扶正环磁吸在一起而成，扶正盖组件32具有阶梯结构，底部直径等于声波校验筒2内径，顶部直径大于声波校验筒2内径，扶正盖组件32与声波探管31之间为紧配合。通过探管居中组件实现声波探管31的对中，通过扶正盖组件32不仅实现了声波探管31的扶正还可以进行声波探管31插入深度的调节。
[0051]
作为本实用新型的一种可选实施方式，测斜仪刻度组件4包括第一自由度调节机构41、第二自由度调节机构42、探管夹持机构43、测斜探管44、第三自由度调节机构45，其中：
[0052]
第一自由度调节机构41安装在声波校验筒2上，能进行水平方向转动以进行第一自由度调节；
[0053]
第二自由度调节机构42安装在第一自由度调节机构41顶部，能进行竖直方向转动以进行第二自由度调节；
[0054]
测斜探管44通过探管夹持机构43安装在第二自由度调节机构42末端；
[0055]
第三自由度调节机构45安装在第二自由度调节机构42上，通过第三自由度调节机构45能判断声波及顶角核查装置的水平度，并进而调节校验台座1以保证声波及顶角核查装置的水平度。
[0056]
进一步的，第一自由度调节机构41包括第一壳体411、方位刻度盘412、竖直轴，方位刻度盘412插设在声波校验筒2顶部，竖直轴下端通过轴承转动设置在方位刻度盘412内，顶部固定在第一壳体411内。
[0057]
第二自由度调节机构42包括第二壳体421、水平轴422、转动手轮423、顶角刻度盘424和擎动手柄，其中：
[0058]
第二壳体421安装在第一自动度调节机构41顶部；
[0059]
水平轴422穿设在第二壳体421内，且两端均凸出，分别与探管夹持机构43和转动手轮423连接；
[0060]
顶角刻度盘424固定在第二壳体421一端，且位于转动手轮423里侧；
[0061]
第二壳体421顶部开设有调节孔，擎动手柄安装在调节孔内，且末端与水平轴422可接触连接。具体的，调节孔为螺纹孔，擎动手柄包括螺纹调节杆和手柄部，通过拧动手柄部调节螺纹调节杆旋入深度，当螺纹调节杆抵接在水平轴422上时，实现水平轴422的锁定，当脱离水平轴422时，可进行水平轴422的旋转。
[0062]
第三自由度调节机构45包括设置在第二自由度调节机构42顶部的气泡水平仪。
[0063]
探管夹持机构43可采用对夹形式的夹具，也可以采用其他形式的夹持机构，只要能够将测斜探管44夹持住即可。
[0064]
测斜探管44为长杆结构，采用现有技术中的产品实现。
[0065]
在此还需要说明的是，本实用新型中所指的无磁材料可以是无磁铝或无磁铜，也就是说主体结构采用无磁铝或无磁铜，加工工艺为常规精加工，确保加工过程中不造成磁性附着，其中紧固件也最大程度采用无磁铜，而辅助支持的结构或部件可采用无磁塑料制成。
[0066]
本实用新型中的方位刻度盘412和顶角刻度盘424也采用现有技术中的产品实现。
[0067]
本实用新型提供的声波及顶角核查装置的加工过程为：
[0068]
1、校验台座1中的第一柱部111为回转体圆盘，在第一柱部111上连接可以调节水
平位置的三脚支腿12，第一柱部111为直径120mm，长度305mm的6061铝合金，在车床上加工，首先加工外部尺寸部分，加工制作方法如下
[0069]
(1)以90
°
硬质合金外圆车刀车120mm端面平面以及粗车外形部分尺寸。
[0070]
(2)以右端面外圆车刀精车外形部分尺寸。
[0071]
(3)以割槽刀车o圈密封槽到达尺寸位置。
[0072]
(4)用20mm钻头钻孔到达深度位置，用镗刀车到内孔的尺寸位置。
[0073]
(5)掉头装夹，以90
°
硬质合金外圆车刀车车端面整体长度到达内孔尺寸的位置。
[0074]
(6)在加工中心上在回转体圆盘打4个螺丝孔，用于和声波校验筒2固定；
[0075]
调节水平位置的三脚支腿12中的上腿121和下腿122为304不锈钢，带可调节螺纹，在车床上加工，底部为尼龙材料万向脚垫123。基座111部分的6061铝合金表面要进行氧化处理，氧化处理完其耐腐蚀、硬度、耐磨性、绝缘性均有大幅度提高。第一柱部111下方的细的部分第二柱部112用来收放三角座，内部加工52mm的孔，用于声波底部居中。回转体圆盘也就是第一柱部111外壁上有螺丝孔和o圈槽用于和声波校验筒2固定和密封。
[0076]
2、声波校验筒加工
[0077]
声波校验筒主体外径为120mm壁厚5mm的6061铝合金管材，整体氧化处理，声波校验筒底部加工孔和o圈密封面，上部安装方位刻度盘，方位刻度盘在垂直轴上,它的零线可以固定在任何确定的方向上。
[0078]
探管居中组件主体为尼龙材料，为两个半圆形回转体，合拢时中间有52mm的孔，用于居中声波探管。
[0079]
3、测斜仪刻度组件加工
[0080]
测斜仪刻度组件主体为6061铝合金，底部与方位刻度盘也就是方位游标尺连接，与垂直轴正交有一水平轴,水平轴的一端为转动手轮,另一端为夹持测斜探管的探管夹持机构,水平轴的顶部具有一水平轴的擎动手柄,材料为铝合金，做固定水平轴用,松开水平轴擎动手柄、转动手轮、就能变换测斜仪的顶角。
[0081]
本实用新型提供的声波及顶角核查装置的计量性能测试过程如下
[0082]
(一)作为顶角-方位角核查时声波及顶角核查装置的计量性能测试
[0083]
(1)外观
[0084]
用目测法检查声波及顶角核查装置的外观，校验台座1应固定牢固，紧固件不得有松动，探管夹持机构不得有损伤。方位刻度盘和顶角刻盘上的刻度线应清晰，基准面应清洁，无变形和损伤，转动机构应灵活，转动手轮和擎动手轮应光滑、无毛刺。
[0085]
(2)示值误差
[0086]
用检定过的光学倾斜仪和磁方位仪或23面金属棱体对井斜角倾角和方位角进行定值，步骤如下：
[0087]
转动声波及顶角核查装置的方位角校准部分也就是竖直轴部分，使其方位角显示为0
°
。
[0088]
1)调整声波及顶角核查装置的井斜校准部分也就是水平轴部分，使其井斜角分别显示为30
°
、60
°
、90
°
、120
°
，并记录相应位置的井斜角显示值γi。
[0089]
2)用光学倾斜仪或23面金属棱体测量30
°
、60
°
、90
°
、120
°
各状态下辅助棒的倾角角度，记为标准值φi。
[0090]
3)按公式(4-11)计算声波及顶角核查装置的井斜角示值误差θi。
[0091]
θi＝γ
i-φiꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(4-11)
[0092]
式中：
[0093]
γi——声波及顶角核查装置的井斜角显示值；
[0094]
φi——声波及顶角核查装置的井斜角标准值。
[0095]
方位角校准步骤如下：
[0096]
1)将磁方位仪或23面金属棱体放置在声波及顶角核查装置的基准面上，用固定螺栓固定。
[0097]
2)调整声波及顶角核查装置的井斜角校准部分，使其井斜角显示为90
°
。
[0098]
3)转动声波及顶角核查装置的方位角校准部分，使其方位角分别显示为90
°
、270
°
，并记录相应位置的方位角显示值αi。
[0099]
4)用磁方位仪测量90
°
、270
°
各状态下相应位置的方位角角度，记为标准值βi。
[0100]
5)按公式(4-12)计算声波及顶角核查装置的方位角示值误差δi：
[0101]
δi＝α
i-βiꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(4-12)
[0102]
式中：
[0103]
αi——声波及顶角核查装置的方位角显示值；
[0104]
βi——声波及顶角核查装置的方位角标准值。
[0105]
(3)不确定度评定
[0106]
声波及顶角核查装置定值结果的不确定度来源有如下2个方面：
[0107]
(1)光学倾斜仪引入的不确定度u
31
；
[0108]
光学倾斜仪的量值引入的不确定度分量其不确定度由检定证书给出；
[0109]
(2)测量重复性引入的不确定度u
32
。
[0110]
主要由仪器的技术性能和放射性统计涨落引起的，其大小与测得的读数相关，由校准过程测量数据平均值的相对实验标准偏差来评定，按下式计算；
[0111][0112]
式中：
[0113]
n——测量次数；
[0114]
xi——第i次的测量值，i＝1，2，3
…
，n(n≥10)；
[0115]
——n次测量的平均值。
[0116]
(二)作为声波核查时声波及顶角核查装置的计量性能测试
[0117]
(1)定值
[0118]
把声波探管按测井时连接好，分别放入铝声波校验筒和pvc声波校验筒，校验筒里应注满水，并保持仪器是居中放置，启动测量软件，分别测量铝声波校验筒内声速c
铝
，pvc声波校验筒内声速c
塑
。
[0119]
分别按公式(4-13)和(4-14)计算测量值。
[0120][0121][0122]
——铝声波校验筒中十次测量的平均值，单位为微秒每米(μs/m)；
[0123]c铝i
——铝声波校验筒中第i次测量的值，单位为微秒每米(μs/m)；
[0124]
——pvc声波校验筒中十次测量的平均值，单位为微秒每米(μs/m)；
[0125]c塑i
——pvc声波校验筒中第i次测量的值，单位为微秒每米(μs/m)；
[0126]
(2)示值误差
[0127]
选择未参与灵敏度计算的标准值，对声波刻度器进行示值误差验证，示值误差分别按(4-15)和(4-16)计算。
[0128]
δc铝＝c铝
i-c铝
i0
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(4-15)
[0129]
δc塑＝c塑
i-c塑
i0
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(4-16)
[0130]
式中：
[0131]
δc铝——铝声波校验筒示值误差；
[0132]
c铝i——铝声波校验筒的示值；
[0133]
c铝
i0
——铝声波校验筒的标准值。
[0134]
δc塑——pvc声波校验筒示值误差；
[0135]
c塑i——pvc声波校验筒的示值；
[0136]
c塑
i0
——pvc声波校验筒的标准值。
[0137]
(3)稳定性
[0138]
把声波探管按测井时连接好，分别放入铝声波校验筒和pvc声波校验筒，校验筒里应注满水，并保持仪器是居中放置，启动测量软件，每隔1h测量1组，共测量9组，每组测量次数不少于10次，稳定性δ
铝
和δ
塑
应分别按下式计算。
[0139][0140][0141]
式中：
[0142]
δ
铝
——铝声波校验筒的稳定性，％；
[0143]
——铝声波校验筒第j组测量结果的算术平均值；
[0144]
——铝声波校验筒第1组测量结果的算术平均值。
[0145]
δ
塑
——pvc声波校验筒的稳定性，％；
[0146]
——pvc声波校验筒第j组测量结果的算术平均值；
[0147]
——pvc声波校验筒第1组测量结果的算术平均值。
[0148]
(4)重复性
[0149]
把声波探管按测井时连接好，分别放入铝声波校验筒和pvc声波校验筒，校验筒里应注满水，并保持仪器是居中放置，启动测量软件，要求测量次数不少于10次，重复性v应按下式计算。
[0150][0151][0152]
式中：
[0153]v铝
——铝声波校验筒的重复性，％；
[0154]c铝i
——铝声波校验筒第i次测量结果；
[0155]
——铝声波校验筒n次测量的算术平均值。
[0156]
n——测量次数；
[0157]v塑
——pvc声波校验筒的重复性，％；
[0158]c塑i
——pvc声波校验筒第i次测量结果；
[0159]
——pvc声波校验筒n次测量的算术平均值。
[0160]
(5)不确定度评定
[0161]
声波及顶角核查装置定值结果的不确定度来源有如下2个方面：
[0162]
1)高精度万用表引入的不确定度u
41
；
[0163]
高精度万用表的量值引入的不确定度分量其不确定度由检定证书给出；
[0164]
2)测量重复性引入的不确定度u
42
。
[0165]
主要由仪器的技术性能和放射性统计涨落引起的，其大小与测得的读数相关，由校准过程测量数据平均值的相对实验标准偏差来评定，按下式计算；
[0166][0167]
式中：
[0168]
n——测量次数；
[0169]
xi——第i次的测量值，i＝1，2，3
…
，n(n≥10)；
[0170]
——n次测量的平均值。
[0171]
这里首先需要说明的是，“向内”是朝向容置空间中央的方向，“向外”是远离容置空间中央的方向。
[0172]
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图1所示的方
位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
[0173]
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
[0174]
在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
[0175]
在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0176]
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
[0177]
以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。