点阵显示器污坏点检测系统及其应用的制作方法

本发明涉及一点阵显示器的检测，特别涉及一点阵显示器污坏点检测系统和一污坏点检测方法，其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测，进而提高检测的准确性和检测效率。

背景技术：

一般的点阵显示器是由几万至几十万个发光二极管像素点均匀排列组成，并可分为图文显示器和视频显示器，其中因为由oled矩阵块所组成，故又常称为oled点阵显示器或oled显示器。所述图文显示器可与计算机同步显示汉字、英文文本和图形。所述视频显示器采用微型计算机进行控制，使得图文、图像并茂，同时透过同步、清晰的信息传播方式去播放各种信息，另外还可显示二维、三维动画、电视、录像、vcd节目以及现场实况。所以点阵显示器在现今的社会中被广泛的运用，像是用于车站、码头、机场、商场、医院、宾馆、银行、证券市场、建筑市场、拍卖行、工业企业管理和其它公共场所等。

另外，点阵显示器有单色和双色两类，可显示红，黄，绿，橙等。根据图素的数目分为等，双原色、三原色等，根据图素颜色的不同所显示的文字、图像等内容的颜色也不同，单原色点阵只能显示固定色彩如红、绿、黄等单色，双原色和三原色点阵显示内容的颜色由图素内不同颜色发光二极体点亮组合方式决定，另外，如果按照脉冲方式控制二极体的点亮时间，即则可实现256或更高级灰度显示，因此可实现真彩色显示。

在现今，oled点阵显示器的运用受到广泛重视进而发展迅速，其中的优点是亮度高、工作电压低、功耗小、小型化、寿命长、耐冲击和性能稳定。因此oled点阵显示器的发展前景极为广阔，目前正朝着更高亮度、更高耐气候性、更高的发光密度、更高的发光均匀性，可靠性、全色化方向发展。

因此，在oled点阵显示器的生产制造过程中，如何检测判断一块点阵显示器的好坏和是否有污坏点，也成为在生产制造的工序中一个比较重要的课题。一 般检测感光器件污坏点是通过该感光器件拍摄的图片来检测，而对于点阵显示器只能使用肉眼来检测，然而，利用检测人员的人眼去判断一个点阵显示器的好坏，因为是利用所述检测人员的人眼进行判断，所以无法防呆，并且会产生误判的情况，同时因为是透过人眼进行检测，由于人类生理机能的关系，所以经过长时间的使用人眼，会造成人眼产生疲劳，这时除了容易产生误判的情形外，同时会造成生产效率变低的情况发生。并且，由于是借助人眼进行判断，所以对于所述检测人员的检测经验值要求也相对的提高，而且由于人员总是会存在主观性，因此检测工序也无法有效率和精准的量化。

技术实现要素：

本发明的主要目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测，进而提高检测的准确性和检测效率。

本发明的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统，其以实现所述点阵显示器的污坏点的实时检测。

本发明的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统，其中包括一污坏点检测设备，其可以自动抓取所述点阵显示器的污坏点，以以减少人工检测的失误和提升生产效能，并确保所述点阵显示器的检测工序可以量化。

本发明的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统，其中包括一获取图像装置，其用于拍摄所述点阵显示器在工作时的一显示芯片并取得一图像数据后，对所述图像数据进行污坏点检测。

本发明的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统，其中包括一计算单元，根据取得的所述图像数据的一发光点阵区域和一周围非光发区域的排布规律按n*n求平均，并由此排除非发光区域对污坏点的干扰，判断所述点阵显示器的污坏点。

本发明的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于有效的提高了点阵显示器污坏点检测的准确率和有效减少了污坏点检测所需时间，提高了测试效率。

为了达到以上目的，本发明提供一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测，包括：

一获取图像装置连接于一计算单元，这样透过所述获取图像装置取得工作中 的所述点阵显示器的显示芯片的图像数据，经过所述计算单元根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值后，消除非发光区域对污坏点抓取的影响，抓取所述图像数据的污坏点。

根据本发明的一个实施例，所述获取图像装置为一相机。

根据本发明的一个实施例，所述计算单元为一计算机。

根据本发明的一个实施例，所述计算单元为一点阵发光芯片。

根据本发明的另外一方面，本发明还提供一点阵显示器污坏点检测系统的一污坏点检测方法，包括如下步骤：

(s01)获取一图像数据；

(s02)对所述图像数据做预处理；

(s03)根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值；以及

(s04)抓取处理之后的所述图像数据的污坏点。

根据本发明的一个实施例，步骤(s01),是透过一获取图像装置，对工作状态下的所述点阵显示器的一显示芯片进行拍摄，以获取所述图像数据。

步骤(s03),述图像数据求平均，其是为了消除所述发光点阵之间的所述周围非光发区域。

根据本发明的另一个实施例，提供一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测，包括：

一获取图像装置，一工作平台，一支撑架以及一计算单元，其中所述支撑架垂直装置于所述工作平台，所述获取图像装置可拆解地安装于所述支撑架，所述计算单元连接于所述获取图像装置，这样透过所述获取图像装置取得位于所述工作平台上的所述点阵显示器的一显示芯片的一图像数据，并且对所述图像数据做预处理后，透过所述计算单元根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值，进而进一步地抓取出所述点阵显示器的污坏点。

根据本发明的一个实施例，所述工作平台为一移动平台。

根据本发明的一个实施例，所述获取图像装置为一相机。

根据本发明的一个实施例，所述计算单元为一计算机。

附图说明

图1是根据本发明的第一个优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统的示 意图。

图2是根据本发明的一个优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统透过一获取图像装置取得一点阵显示器在工作时的一显示芯片的一图像数据,其说明处理前的图像数据。

图3是根据本发明的一个优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统透过一获取图像装置取得一点阵显示器在工作时的一显示芯片的一图像数据，其说明图2的局部放大图，图中明显可显示非发光区域。

图4是根据本发明的一个优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统透过一获取图像装置取得一点阵显示器在工作时的一显示芯片的一图像数据，其说明处理后的图像数据。

图5是根据本发明的一个优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统的一污坏点检测方法的流程图。

图6是根据本发明的第二个优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统的示意图。

具体实施方式

以下描述用于揭露本发明以使本领域技术人员能够实现本发明。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本发明的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本发明的精神和范围的其他技术方案。

如图1所示，是根据本发明的第一优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于自动地进行点阵显示器90的污坏点检测，进而提高检测的准确性和检测效率。所述点阵显示器污坏点检测系统包括一获取图像装置10和一计算单元20，其连接于所述获取图像装置10，这样当所述获取图像装置10拍摄所述点阵显示器90在工作时的一显示芯片并取得一图像数据，如图2所示，其为处理前的图像数据，并且对处理前的所述图像数据做预处理，其为图4所示，再透过所述计算单元20根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值，进而进一步地抓取出所述点阵显示器90的污坏点。另外，所述点阵显示器90，像oled，在所述发光点阵之间间隔着所述周围非光发区域，然而在检测所述点阵显示器90时，所述周围非光发区域在所述的图像数据上很容易被判断为污坏 点，因此，本发明是将取得的所述图像数据，和透过所述计算单元20求得平均值后，再判断出所述图像数据的所述发光点阵和所述周围非光发区域，这样在所述发光点阵如有任何不正常情况，即为是污坏点，同时可以避免将所述周围非光发区域判定为污坏点。因此，本发明可以自动地在取得的所述图像数据抓取出所述点阵显示器的所述污坏点。值得一的是，所述点阵显示器90包括有一边框，所以当所述点阵显示器90透过所述获取图像装置10拍摄所述点阵显示器90时，有可能会同时取得所述边框的图像，并形成黑块，而所述预处理即是去除这些黑块。换言之所述黑块即是所述oled的边框，是不发光的，因此，在不同的情况下，所述黑块出现在所述oled发光区域的各边(左、右、上、下)都是有可能的，具体来说，就是所述获取图像装置10在拍摄所述oled时的相对位置了，因此所述预处理即是去除这些黑块，进而得到图2中的图片了。

另外，值得一提的是，所述获取图像装置10可实施为一相机。所述计算单元20可实施为一计算机或一积体电路或一点阵发光芯片。

另外，如图5所示，根据本发明第一优选实施例还提供一点阵显示器污坏点检测系统的一污坏点检测方法，其包括如下步骤：

(s01)获取一图像数据；

(s02)对所述图像数据做预处理；

(s03)根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值；以及

(s04)抓取处理之后的所述图像数据的污坏点。

值得一提的是，在步骤(s01)，是透过一获取图像装置，即为一相像，对工作状态下的所述点阵显示器的显示芯片进行拍摄，以获取所述图像数据。

在步骤(s03)，对所述图像数据求平均，其是为了消除所述发光点阵之间的所述周围非光发区域。

如图6示，是根据本发明的第二优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于自动地进行点阵显示器90的污坏点检测。所述点阵显示器污坏点检测系统包括一获取图像装置10，一工作平台30，一支撑架40以及一计算单元20。所述支撑架40垂直装置于所述工作平台30。所述获取图像装置10可拆解地安装于所述支撑架40。所述计算单元20连接于所述获取图像装置10。这样所述点阵显示器90放置于所述工作平台30并工作时，所述获取图像装置10即可对所述点阵显示器90的一显示芯片取得一图像数据，并且对所述图像数据做预处理 后，透过所述计算单元20根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值，进而进一步地抓取出所述点阵显示器90的污坏点。

另外，所述工作平台30可以实施为一移动平台，以自动地将放置于所述工作平台30上的所述点阵显示器90移至一检测位置，亦即是所述获取图像装置10的工作范围。

值得一提的是，所述点阵显示器90，像oled，在所述发光点阵之间间隔着所述周围非光发区域，然而在检测所述点阵显示器时，所述周围非光发区域在所述的图像数据上很容易被判断为污坏点，因此，本发明是将取得的所述图像数据，和透过所述计算单元20求得平均值后，再判断出所述图像数据的所述发光点阵和所述周围非光发区域，这样在所述发光点阵如有任何不正常情况，即为是污坏点，同时可以避免将所述周围非光发区域判定为污坏点。因此，本发明可以自动地在取得的所述图像数据抓取出所述点阵显示器的所述污坏点。

另外，所述获取图像装置10可实施为一相机。所述计算单元20可实施为一计算机或一积体电路或一晶片。

本领域的技术人员应理解，上述描述及附图中所示的本发明的实施例只作为举例而并不限制本发明。本发明的目的已经完整并有效地实现。本发明的功能及结构原理已在实施例中展示和说明，在没有背离所述原理下，本发明的实施方式可以有任何变形或修改。