一种Short测试方法与流程

本发明涉及电子产品的合格检测，具体涉及一种Short测试方法。

背景技术：

随着电子产品功能越来越强大，其内部电路也越来越复杂，对生产工艺的要求也越来越高，通过生产制造过程中的环环检测，可及时发现不良品，避免其流入后续工序甚至流入市场，一旦流入市场，会造成重大的利益损失。因此如何快速高效的将不良品检测出来，是产品生产制造过程中的关键环节。

Short测试(即短路测试)主要用来测试产品引脚之间是否存在短路现象，用于判断元器件是否虚焊、漏焊、内部走线是否短路等，它是最常规也是最重要的测试项目。

如图1所示，现有技术中Short测试的基本原理为，short测试的方式之一是加电流测电压，通过在被测的x，y引脚施加电流，同时测试x，y两引脚之间的电压，然后再除以施加的电流，即可得到x，y两引脚之间的阻值。如果阻值约为0，说明x，y两引脚短路，被测品为不合格，如果阻值无穷大，说明x，y两引脚之间没有短路，产品为合格。其中，CUR+代表恒流电源正端，CUR-代表恒流电源负端，VO代表电压测量仪正端，COM代表电压测量仪负端，x代表VO和CUR+的被测端，y代表COM和CUR-的被测端。

当前的Short测试一般都采用逐点遍历的方法，但随着产品复杂度的提升，测试点位也在成倍增加，测试时间会随着引脚数量的增加呈指数型增长，因此如何提升Short测试速度是影响整个测试设备效率的关键。为解决这一问题，当前测试领域一般采用如下两种方法：

1、采用更快速的器件或者增加硬件电路的复杂度，来提升测试速度。缺点是成本增加，维护量增大，设备竞争力下降。

2、只测试相邻点位。缺点是无法全覆盖，产品内部交叉走线处无法测试，容易将不良品流出去。

技术实现要素：

本申请提供一种成本低、测试效率高及能够全面覆盖测试的short测试方法。

一种实施例中提供一种Short测试方法，包括如下步骤：

将产品所有的N个引脚分成M个群组，每个群组中均有N/M个引脚；

分别测试M个群组各自内部是否存在短路；

测试M个群组之间是否存在短路；若群组内部和群组之间均不存在短路，则产品合格，反之则不合格。

进一步地，测试群组内部是否存在短路的具体步骤为：

将群组中第一引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，群组中第二引脚至第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试；

再将第二引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，群组中第三引脚至第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试；

依次类推，最终将第N/M-1引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，群组中第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试。

进一步地，测试M个群组之间是否存在短路的具体步骤为：

分别对M个群组两两进行测试，其中一个群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，另一群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试。

进一步地，将产品的所有引脚分为八组，开关矩阵是由八选一模拟开关搭建而成。

在其他实施例中，将产品的所有引脚分为四组，开关矩阵是由四选一模拟开关搭建而成。

依据上述实施例的Short测试方法，由于根据产品的特性将引脚分成M个群组，再分两步进行测试，先测试群组内部的引脚是否短路，再测试群组之间的引脚是否短路，并通过开关矩阵连接测试电路，使得本Short测试方法全面测试所有引脚的步骤大幅减少，不需要更快速的器件或者复杂度的测试电路，就能够快速完成short测试，从而成本也低。

附图说明

图1为现有技术中Short测试方法的原理图；

图2为一种实施例中开关矩阵的连接示意图；

图3为一种实施例中Short测试方法的流程图；

图4为一种实施例中Short测试方法的分组测试连接图；

图5为现有技术中Short测试方法的测试连接图。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。

在本实施例中提供了一种Short测试方法，用于对产品的用于判断元器件是否虚焊、漏焊、内部走线是否短路等。本Short测试方法也可称为群组遍历Short测算法，根据产品电路特性，可将所有引脚分为不同的群组，本例以具有128个独立引脚的产品为例进行说明。

如图2所示，开关矩阵是由多选一模拟开关搭建而成，产品上每一个被测引脚都可以通过开关矩阵与VO，COM，CUR+，CUR-连接，而本实施例选择模拟开关为八选一模拟开关，故将128个引脚分为八组进行测试，每组中具有16个引脚。在其他实施例中，也可选择模拟开关为四选一模拟开关，将128个引脚分为四组进行测试。

如3所示，本例的Short测试方法主要包括如下三个步骤：

S101：分组；

如图3所示，本例的产品分为八组，第一行为第一群组，第一群组的产品引脚序号为除8余1的所有引脚的集合；第二行为第二群组，第二群组的产品引脚序号为除8余2的所有引脚的集合；依次类推，第八行为第八群组，第八群组的产品引脚需要为除8余0的集合。

S102：分别测试8组群组各种内部是否存在短路；

如图4所示，以第一群组测试为例进行说明，将引脚1通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，将引脚9、17、25至121通过开关矩阵全部连接到测试电路的y测试端进行测试，测试1次即可检测出引脚1与引脚9、17、25至121是否存在短路，如果存在短路则说明产品不合格，如果没有出现短路则继续测试下去，将引脚9通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，将引脚17、25至121通过开关矩阵全部连接到测试电路的y测试端进行测试，测试1次即可检测出引脚9与引脚17、25至121是否存在短路，如此依次类推，最后将引脚25通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，将引脚121通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试。第一群组内的所有引脚遍历一次，共需要测试16-1＝15次，八个群组总共需要测试15*8＝120次，即要确定产品是合格的没有短路的，要进行120次测试。

S103：测试8个群组之间是否存在短路。

如图4所示，逐次分别对8个群组两两进行测试，即8个群组中的一个分别对其他7个群组分别进行测试。两两测试过程中，一个群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，另一个群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试，故总共需进行8*(8-1)/2＝28次，若28次测试中都没有出现电路则8个群组之间都不存在短路现象，相反则出现短路，产品不合格。

通过上述两个步骤的测试，总共需要进行120+28＝148次测试，经过148次测试后产品的所有引脚得到全面的检验，若148次测试都没有发现短路现象，则产品是合格的，相反只有有一次出现短路，则产品不合格。

而现有技术的方法是进行逐点遍历Short测算法，即对128个引脚分别进行两两测试，如图5所示，全面测试完则需要进行128*(128-1)/2＝8128次测试，测试次数庞大，工作量大。而本例的方法只需要148次即可，本方法的测试效率为现有技术的8128/148≈54.9倍，故本例的Short测试方法具有明显的优势，效率得到大大提高。

依据本例可推知，若产品的具有N个引脚，N个引脚分为M个群组，每组群组有N/M个引脚。

本例的方法，步骤二共需测试(N/M-1)*M＝N-M次，步骤三共需测试M*(M-1)/2次，即总共需测试N-M+M*(M-1)/2＝N+M*(M-3)/2次。而采用现有技术的方法共需测试N*(N-1)/2次。

而本例采用的是八选一模拟开关，产品分为八个群组，故本例的方法测试总共有N个引脚的产品需要测试N+20次，本例效率的为现有技术的倍。

可知，若引脚的数量较大，本例的Short测试方法具有很大的优势，并且优势随着引脚的数量增加而更为明显。

本例提供的Short测试方法，由于根据产品的特性将引脚分成M个群组，再分两步进行测试，先测试群组内部的引脚是否短路，再测试群组之间的引脚是否短路，并通过开关矩阵连接测试电路，使得本Short测试方法全面测试所有引脚的步骤大幅减少，不需要更快速的器件或者复杂度的测试电路，就能够快速完成short测试，从而成本也低。

以上应用了具体个例对本发明进行阐述，只是用于帮助理解本发明，并不用以限制本发明。对于本发明所属技术领域的技术人员，依据本发明的思想，还可以做出若干简单推演、变形或替换。