1.一种X射线图像摄取装置，其应用于X射线平板探测器中，所述X射线图像摄取装置包括壳体、设置于所述壳体底端的传感器阵列以及罩体，其特征在于，所述X射线图像摄取装置还包括：
第一闪烁体，是通过粘结剂粘结固定在所述传感器阵列上，其中，所述第一闪烁体是闪烁光纤面板；
第二闪烁体，是通过热蒸镀方式形成于所述第一闪烁体未与所述传感器阵列粘结的一侧而供所述X射线入射，并所述第二闪烁体由多个柱状体构成；
防水膜，是沉积到所述第二闪烁体的表面及所述各柱状体间的缝隙中；
反射膜，是覆盖并包裹所述第二闪烁体的外围；以及
缓冲层，是夹设于所述反射膜与所述罩体之间。
2.根据权利要求1所述的X射线图像摄取装置，其特征在于：所述闪烁光纤面板是由多根光纤扎成一束经过加热加压而形成的光纤板，且所述闪烁光纤面板的光纤是由芯玻璃、皮玻璃以及光吸收玻璃按照一定的配比熔结而成的，并所述芯玻璃掺杂有稀土发光离子。
3.根据权利要求2所述的X射线图像摄取装置，其特征在于：所述稀土发光离子为铈离子以及铽离子的其中一者。
4.根据权利要求2所述的X射线图像摄取装置，其特征在于：所述光纤的直径范围为6～25μm，且所述闪烁光纤面板的厚度范围为2～10mm。
5.根据权利要求1所述的X射线图像摄取装置，其特征在于：所述粘结剂为光学透明胶(Optically Clear Adhesive；OCA)。
6.根据权利要求1所述的X射线图像摄取装置，其特征在于：所述第二闪烁体是由掺杂有铊离子的碘化铯构成的柱状薄膜。
7.根据权利要求6所述的X射线图像摄取装置，其特征在于：所述柱状薄膜的厚度范围为400～600μm。
8.根据权利要求1所述的X射线图像摄取装置，其特征在于：所述防水膜是由聚对二甲苯薄膜构成的。
9.根据权利要求1所述的X射线图像摄取装置，其特征在于：所述反射膜为铝膜以及银膜的其中一者。
10.根据权利要求9所述的X射线图像摄取装置，其特征在于：所述铝膜的厚度范围为100～150μm。
11.根据权利要求1所述的X射线图像摄取装置，其特征在于：所述缓冲层为泡棉。
12.根据权利要求1所述的X射线图像摄取装置，其特征在于：所述壳体为铝合金材料。
13.根据权利要求1所述的X射线图像摄取装置，其特征在于：所述传感器阵列为非晶硅传感器阵列、CMOS传感器阵列和CCD传感器阵列的其中一者。
14.根据权利要求1所述的X射线图像摄取装置，其特征在于：所述罩体为碳纤维板，且所述碳纤维板的厚度范围为1.0～1.5mm。