一种光分路器用芯片角度检测装置的制作方法

本实用新型涉及一种芯片角度检测装置，具体为一种光分路器用芯片角度检测装置，属于检测设备应用技术领域。

背景技术：

目前，光分路器又称分光器，是光纤链路中重要的无源器件之一，是具有多个输入端和多个输出端的光纤汇接器件，光分路器按分光原理可以分为熔融拉锥型和平面波导型两种，光分路器的使用越来越广，芯片使光分路器中重要的元件，因此，芯片在光分路器中具有不可代替的作用。而目前的芯片加工要求角度要达到98度，角度达不到要求就无法精确地与光纤阵列，单根进行对接，芯片为石英材质，常规的石英基材角度测量仪器都依赖于进口设备，价格高,测试误差较大,并且目前的设备不能实现多个芯片角度检测的功能导致工作效率低，因此，针对上述问题提出一种光分路器用芯片角度检测装置。

技术实现要素：

本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供一种光分路器用芯片角度检测装置。

本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的，一种光分路器用芯片角度检测装置，包括底板以及垂直焊接在所述底板侧壁的两个第一侧板，两个所述第一侧板之间焊接第二侧板，且两个所述第一侧板之间连接第三侧板；所述第三侧板一侧与所述第一侧板之间通过铰链连接，且所述第三侧板的另一侧与所述第一侧板之间通过锁扣连接；所述底板表面设置台阶，且所述台阶上设置测试台；所述底板表面设置挡板，且所述挡板连接的第一侧板上设有光源孔；所述底板底端四脚焊接滑轮，且所述滑轮侧面设置刹板。

优选的，还包括第一平面和第二平面，所述测试台上设置第一平面、第二平面，且所述第一平面的高度小于所述第二平面的高度。

优选的，还包括观察窗，所述第三侧板内部设有观察窗。所述底板上依次设置大小相等的台阶，且所述台阶上均设置测试台。

优选的，所述挡板所在平面与所述测试台侧面之间夹角为30°，且所述挡板的长度小于所述观察窗的长度。

优选的，所述第一侧板内设有若干个均匀分布的光源孔，且所述光源孔的轴心与所述第一侧板之间角度为30°。

本实用新型的有益效果是：该种光分路器用芯片角度检测装置的测试台上设置第一平面、第二平面，且第一平面的高度小于第二平面的高度，方便待测芯片的检测；第三侧板内部设有观察窗，方便通过观察窗观察芯片的大小；底板上依次设置大小相等的台阶，且台阶上均设置测试台，实现多个芯片的检测；挡板所在平面与测试台侧面之间夹角为30°，且挡板的长度小于观察窗的长度，将待测的芯片的发射光照射在挡板上，通过观察窗观察挡板上的情况，从而确保芯片检测的准确性，并且该种光分路器用芯片角度检测装置的第三侧板与第一侧板之间可以滑动的打开，方便内部的检修与更换，有良好的经济效益和社会效益，适合推广使用。

附图说明

图1为本实用新型整体结构示意图；

图2为本实用新型的整体俯视图。

图中：1、第一侧板，2、台阶，3、刹板，4、底板，5、滑轮，6、挡板，7、光源孔，8、第二侧板，9、第三侧板，91、观察窗，10、测试台，101、第一平面，102、第二平面，11、锁扣。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-2所示，一种光分路器用芯片角度检测装置，包括底板4以及垂直焊接在所述底板4侧壁的两个第一侧板1，两个所述第一侧板1之间焊接第二侧板8，且两个所述第一侧板1之间连接第三侧板9；所述第三侧板9一侧与所述第一侧板1之间通过铰链连接，且所述第三侧板9的另一侧与所述第一侧板1之间通过锁扣11连接；所述底板4表面设置台阶2，且所述台阶2上设置测试台10；所述底板4表面设置挡板6，且所述挡板6连接的第一侧板1上设有光源孔7；所述底板4底端四脚焊接滑轮5，且所述滑轮5侧面设置刹板3。

作为本实用新型的一种技术优化方案，还包括第一平面101和第二平面102，所述测试台10上设置第一平面101、第二平面102，且所述第一平面101的高度小于所述第二平面102的高度，方便待测芯片的检测。

作为本实用新型的一种技术优化方案，还包括观察窗91，所述第三侧板9内部设有观察窗91，方便通过观察窗91观察芯片的大小。

作为本实用新型的一种技术优化方案，所述底板4上依次设置大小相等的台阶2，且所述台阶2上均设置测试台10，实现多个芯片的检测。

作为本实用新型的一种技术优化方案，所述挡板6所在平面与所述测试台10侧面之间夹角为30°，且所述挡板6的长度小于所述观察窗91的长度，将待测的芯片的发射光照射在挡板6上，通过观察窗91观察挡板6上的情况，从而确保芯片检测的准确性。

作为本实用新型的一种技术优化方案，所述第一侧板1内设有若干个均匀分布的光源孔7，且所述光源孔7的轴心与所述第一侧板1之间角度为30°，实现多个芯片的检测。

本实用新型在使用时，首先，将该装置推到固定的位置，用脚踩四个刹板3，将该装置固定，打开第三侧板9，将需要检测的芯片放入在测试台10上，通过光源孔7通入红光源，光进入到芯片上，由于芯片为石英材质制成，石英材质对光反射性较强，斜度面将红光反射到白色的挡板6上，通过观察窗91观看挡板6上表现的位置判断芯片是否符合要求的角度。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。