一种学生用电路检测试验箱的制作方法

文档序号:12768549阅读:276来源:国知局
一种学生用电路检测试验箱的制作方法与工艺

本实用新型涉及电路检测技术领域,具体为一种学生用电路检测试验箱。



背景技术:

随着数字集成电路的迅猛发展以及国家对半导体行业发展的支持,国内数字集成电路设计能力得到了长足的发展,但是对于学生而言是没有系统研发能力的,因而只能借助一些少数的从国外花重金引进的测试设备来检测数字集成电路,这些设备价格昂贵,操作复杂,在一定程度上增加了集成电路的研发成本和难度,限制了不少学生对数字集成电路的学习与研发。



技术实现要素:

针对以上问题,本实用新型提供了一种学生用电路检测试验箱,能够满足当下学生对数字集成电路的检测要求,并且使用成本较低、性能可靠,可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种学生用电路检测试验箱,包括实验箱外壳、内核测试模块,所述试验箱的左侧边按有锁扣,试验箱外壳的右侧边连有电源线,内核测试模块上最左侧接有计算机接口模块,计算机接口模块通过总线右侧上方与存储模块相连接,计算机接口模块的右侧下方与主控制模块相连接,所述存储模块通过数据线与主控制模块双向连接,所述存储模块的右侧为时序产生调整模块,时序产生调整模块通过数据线单向传输数据到主控制模块,主控制模块通过数据线将数据单向传输到其右侧的测试向量存储器以及向量调制模块,所述向量调制模块通过单向数据传输线向DUT模块输出。

作为本实用新型一种优选的技术方案,所述计算机接口模块通过数据总线与计算机相连接。

作为本实用新型一种优选的技术方案,所述向量调制模块接收测试向量存储器、主控制模和时序产生调整模块三者通过数据传输线单向输送过来的数据,并通过单向数据传输线向DUT模块输出。

作为本实用新型一种优选的技术方案,所述时序产生调整模块不接收内核测试模块中其他模块的任何数据,也就是说时序产生调整模块可独立运行,作为输出器件单独存在。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:该学生用电路检测试验箱通过计算机接口模块与计算机连接,在计算机编写测试脚本文件控制电路检测试验箱测试测试流程,操作简单、性能稳定,且该电路检测试验箱成本较低,实用性强。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图;

图2为本实用新型内核结构框图。

图中:1-试验箱外壳;2-内核测试模块;3-锁扣;4-电源线;5-计算机接口模块;6-存储模块;7-主控制模块;8-时序产生调整模块;9-无线网卡测试向量存储器;10-向量调制模块;11-DUT;12-计算机。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

实施例:

请参阅图1和图2,本实用新型提供一种技术方案:一种学生用电路检测试验箱,包括实验箱外壳1、内核测试模块2,所述试验箱外壳1的左侧边按有锁扣3,试验箱的右侧边连有电源线4,内核测试模块2上最左侧接有计算机接口模块5,计算机接口模块通过总线右侧上方与存储模块6相连接,计算机接口模块的右侧下方与主控制模块7相连接,所述存储模块6通过数据线与主控制模块7双向连接,所述存储模块(6)的右侧为时序产生调整模块8,时序产生调整模块8通过数据线单向传输数据到主控制模块7,主控制模块7通过数据线将数据单向传输到其右侧的测试向量存储器9以及向量调制模块10,所述向量调制模块10通过单向数据传输线向DUT11模块输出。

所述计算机接口模5块通过数据总线与计算机12相连接;所述向量调制模块10接收测试向量存储器9、主控制模块7和时序产生调整模块8三者通过数据传输线单向输送过来的数据,并通过单向数据传输线向DUT11模块输出;所述时序产生调整模块8不接收内核测试模块2中其他模块的任何数据,也就是说时序产生调整模块8可独立运行,作为输出器件单独存在。

本实用新型的工作原理:所述试验箱外壳1用于将所有元件集成为一体,并通过左侧锁扣3将电路检测系统与外界隔离,电路检测系统通过电源线4供电;所述内核测试模块2通过其内部的计算机接口模块5与计算机12相连,所述计算机的指令通过计算机接口模块5将程序存储到存储器6内以便下次测试同种类型数字电路不必连接计算机便可进行测试,同时将命令传递给主控制模块7,主控制模块7根据命令在时序产生调整模块8产生的时序表的作用下向向量调制模块10输送数据,并将中写有的待测试数字集成电路向量写入测试向量存储器9,向量调制模块9在主控制模块7的控制下对比测试向量存储器9中的待测试数字集成电路向量和时序产生调整模块8产生的时序表给出测试信号,向量调制模块将测试信号传输到DUT对待测试数字集成电路进行测试,该电路检测试验箱操作简单,稳定性较好,测试成本第。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

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