本实用新型涉及一种实验室用薄膜光电器件测试装置，用于有机薄膜和柔性光电器件的测试。
背景技术：
目前光电器件的研究是国内外研究的热点，器件性能是电子器件研究的主要目的。当前研究中，制备的光电器件通常采用蒸镀几十到一百纳米的Ag或Al等贵金属作为测试电极，传统方法中通常采用鳄鱼夹直接夹测试电极的方式进行测试实验，这种测试方法极易损坏器件的测试电极，给测试造成困难，并容易造成错误判断。
技术实现要素：
为了克服上述缺陷，本实用新型提供了一种实验室用薄膜光电器件测试装置，不仅能保护光电器件的电极，可以重复使用，而且能够简单快捷的完成实验室制备光电器件的各种电学测试。
本实用新型为了解决其技术问题所采用的技术方案是：一种实验室用薄膜光电器件测试装置，包括万用板，该万用板上设有芯片锁紧底座和一对接线柱端子；该芯片锁紧底座上设有两组引脚锁紧电极插口，每组引脚锁紧电极插口中位于最外侧的电极插口通过公共电极引线连接至其中一个接线柱端子上，其余的电极插口分别通过对电极引线连接至另一个接线柱端子上，所述公共电极引线和对电极引线上分别设有按钮开关。
作为本实用新型的进一步改进，所述公共电极引线和对电极引线均通过印刷电路形成。
作为本实用新型的进一步改进，待测试光电器件上设有F型电路引脚，测试时，该F型电路引脚插置于所述芯片锁紧底座上的引脚锁紧电极插口中。
作为本实用新型的进一步改进，所述芯片锁紧底座上还设有用于锁定所述F型电路引脚的锁紧手柄。
本实用新型的有益效果是：该实验室用薄膜光电器件测试装置不仅能保护光电器件的电极，可以重复使用，而且能够简单快捷的完成实验室制备光电器件的各种电学测试，从而为实验室中光电器件的开发提供很好的测试平台，满足实验室中有机太阳电池、钙钛矿太阳电池、CIGS太阳电池，OLED有机发光二极管等光电器件的测试需求，提高研发效率。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图。
结合附图，作以下说明：
1——万用板 2——芯片锁紧底座
3——引脚锁紧电极插口 4——锁紧手柄
5——接线柱端子 6——对电极引线
7——公共电极引线 8——光电器件
9——按钮开关
具体实施方式
以下结合附图，对本实用新型的一个较佳实施例作详细说明。但本实用新型的保护范围不限于下述实施例，即但凡以本实用新型申请专利范围及说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本实用新型专利涵盖范围之内。
参阅图1，为本实用新型所述的一种实验室用薄膜光电器件测试装置，包括万用板1，该万用板上设有芯片锁紧底座2和一对接线柱端子5；该芯片锁紧底座上设有两组引脚锁紧电极插口3，每组引脚锁紧电极插口中位于最外侧的电极插口通过公共电极引线7连接至其中一个接线柱端子上，其余的电极插口分别通过对电极引线6连接至另一个接线柱端子上。
所述公共电极引线7和对电极引线6上分别设有按钮开关9，且公共电极引线7和对电极引线6均通过印刷电路形成。待测试光电器件8上设有F型电路引脚，以便在测试时，该F型电路引脚插置于所述芯片锁紧底座上的引脚锁紧电极插口中。
同时，所述芯片锁紧底座上还设有用于锁定所述F型电路引脚的锁紧手柄4。在将光电器件引脚插入底座时，锁紧手柄可用来锁紧F型电路引脚，使F型电路引脚与电极插口的接触更良好。
在测试前，先将待测试光电器件用F型电路引脚锁紧，然后将引脚插入芯片锁紧底座上的引脚锁紧电极插口内，并用锁紧手柄锁紧引脚。然后通过万用板线路和按钮开关控制电路导通，从而实现光电器件的各种电学测试。在测试时，可以通过调节芯片锁紧底座之间的距离可满足不同尺寸器件的测试。
由此，该实验室用薄膜光电器件测试装置不仅能保护光电器件的电极，可以重复使用，而且能够简单快捷的完成实验室制备光电器件的各种电学测试，从而为实验室中光电器件的开发提供很好的测试平台，满足实验室中有机太阳电池、钙钛矿太阳电池、CIGS太阳电池，OLED有机发光二极管等光电器件的测试需求，提高研发效率。