一种八工位分度旋转针盘机构的制作方法

本实用新型涉及SMT首件检测的技术领域，尤其是指一种八工位分度旋转针盘机构。

背景技术：

随着电子产业的蓬勃发展，今天的中国已经成为世界的工厂。电子制造企业的生产效率，品质控制和成本高低决定着企业的竞争力。电子产品的高度集成化，贴片元件的尺寸及PCB板的密度达到了前所未有的程度，产品更新换代的速度也越来越快，多机种，小批量，频繁换线越来越挑战工厂的制造能力。

目前，高速贴片机等设备提升了工厂的生产能力，但是在SMT首件确认环节，大多数工厂却依然停留在非常落后的人工确认阶段，人工使用探针对PCB板上的元器件进行检测，其操作效率低，且针对不同的元器件还要交换不同的检测探针，效率低下，不利于自动化检测。

技术实现要素：

本实用新型针对现有技术的问题提供一种八工位分度旋转针盘机构，减少人手操作工序，提高生产效率，降低生产成本，可实现自动化检测。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：

本实用新型提供的一种八工位分度旋转针盘机构，包括有步进电机、主动齿轮和齿轮圆盘，所述步进电机的转轴与主动齿轮连接，所述齿轮圆盘与主动齿轮啮合连接；所述齿轮圆盘上固定连接有测试转接板，所述测试转接板上等间隔的环设有八个测试工位，所述八个测试工位上分别安装有用于对PCB板不同的元器件进行检测的探针机构；

所述探针机构包括针柱，所述针柱上间隔设置有两根用于对PCB板的元器件进行检测的第一探针和第二探针，所述第一探针和第二探针的末端设置有向内的45度斜面，所述第一探针和第二探针的末端形成90度的直角面。

其中，所述探针机构还包括有针座，所述针柱固定连接于针座上，所述针座固定连接于所述测试工位上；所述针座上设置有凹槽，所述第一探针和第二探针的一端分别穿过针柱和针座并外露于凹槽上，所述凹槽上安装有用于压住第一探针和第二探针的压板。

其中，还包括有支撑板，所述齿轮圆盘的中部还设置有深沟轴承和旋转支撑轴；所述齿轮圆盘通过深沟轴承可绕着旋转支撑轴旋转；所述旋转支撑轴与支撑板连接。

其中，所述探针机构包括有分别安装于七个测试工位上的第一探针机构、第二探针机构、第三探针机构、第四探针机构、第五探针机构、第六探针机构和第七探针机构；所述第一探针机构中的第一探针与第二探针的间隔为1.6mm，且第一探针、第二探针的直径均为0.5mm。

其中，所述第二探针机构中的第一探针与第二探针的间隔为3.2mm，且第一探针、第二探针的直径均为0.5mm。

其中，所述第三探针机构中的第一探针与第二探针的间隔为2mm，且第一探针、第二探针的直径均为0.5mm。

其中，所述第四探针机构中的第一探针与第二探针的间隔为4.5mm，且第一探针、第二探针的直径均为0.5mm。

其中，所述第五探针机构中的第一探针与第二探针的间隔为5mm，且第一探针、第二探针的直径均为0.5mm。

其中，所述第六探针机构中的第一探针与第二探针的间隔为0.4mm，且第一探针、第二探针的直径均为0.3mm。

其中，所述第七探针机构中的第一探针与第二探针的间隔为0.8mm，且第一探针、第二探针的直径均为0.5mm。

本实用新型的有益效果：

本实用新型提供的一种八工位分度旋转针盘机构，通过驱动步进电机带动主动齿轮转动，由于齿轮圆盘与主动齿轮啮合连接，进一步地带动齿轮圆盘转动，以便于调用不同测试工位上的探针结构来对PCB板进行检测，效率高，减少人手操作工序，提高生产效率，降低生产成本。

附图说明

图1为本实用新型的一种八工位分度旋转针盘机构的结构示意图。

图2为本实用新型的一种八工位分度旋转针盘机构除步进电机、主动齿轮的结构示意图。

图3为本实用新型的一种八工位分度旋转针盘机构除步进电机、主动齿轮的另一视角的结构示意图。

图4为本实用新型的第一探针机构的结构示意图。

图5为本实用新型的第二探针机构的结构示意图。

图6为本实用新型的第三探针机构的结构示意图。

图7为本实用新型的第四探针机构的结构示意图。

图8为本实用新型的第五探针机构的结构示意图。

图9为本实用新型的第六探针机构的结构示意图。

图10为本实用新型的第七探针机构的结构示意图。

在图1至图10中的附图标记包括：

1—步进电机 2—主动齿轮 3—齿轮圆盘

4—测试转接板 5—测试工位 6—旋转支撑轴

7—探针机构 8—针柱 9—第一探针

10—第二探针 11—针座 12—凹槽

13—压板 14—支撑板 15—深沟轴承。

具体实施方式

为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本实用新型作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。以下结合附图1-10对本实用新型进行详细的描述。

本实施例所述的一种八工位分度旋转针盘机构，包括有步进电机1、主动齿轮2和齿轮圆盘3，所述步进电机1的转轴与主动齿轮2连接，所述齿轮圆盘3与主动齿轮2啮合连接；所述齿轮圆盘3上固定连接有测试转接板4，所述测试转接板4上等间隔的环设有八个测试工位5，所述八个测试工位5上分别安装有用于对PCB板不同的元器件进行检测的探针机构7；具体地，通过驱动步进电机1带动主动齿轮2转动，由于齿轮圆盘3与主动齿轮2啮合连接，进一步地带动齿轮圆盘3转动，以便于调用不同测试工位5上的探针结构来对PCB板进行检测，减少人工需要不断更换不同的探针来检测不同PCB板上的元器件的工序。

所述探针机构7包括针柱8，所述针柱8上间隔设置有两根用于对PCB板的元器件进行检测的第一探针9和第二探针10，所述第一探针9和第二探针10的末端设置有向内的45度斜面，所述第一探针9和第二探针10的末端形成90度的直角面。具体地，所述八个测试工位5上分别设置有用于对PCB板上不同的元器件进行检测的探针机构7，不同的元器件对应的大小不同，所以每个测试工位5上的第一探针9与第二探针10的间隔是不一样的，第一探针9与第二探针10的间隔根据所要检测的元器件来设定，利用八个测试工位5上的第一探针9与第二探针10的间隔不同来测试不同的元器件；同时，包括有LCR测试仪，所述LCR测试仪与探针机构7连接，利用所述第一探针9和第二探针10的末端设置有向内的45度斜面，所述第一探针9和第二探针10的末端形成90度的直角面，第一探针9和第二探针10的45度斜面形成的直角面接触到PCB板上的元器件的两侧，通过LCR测试仪与第一探针9、第二探针10连接，测出元器件的电流值、电容值、电阻值。

本实施例所述的一种八工位分度旋转针盘机构，所述探针机构7还包括有针座11，所述针柱8固定连接于针座11上，所述针座11固定连接于所述测试工位5上；所述针座11上设置有凹槽12，所述第一探针9和第二探针10的一端分别穿过针柱8和针座11并外露于凹槽12上，所述凹槽12上安装有用于压住第一探针9和第二探针10的压板13。具体地，所述针座11固定连接于测试工位5上，保证齿轮圆盘3在转动时，带动探针机构7同步转动；所述压板13保证了第一探针9和第二探针10的稳定性，保证其不易松动；所述凹槽12有利于定位安装所述压板13。

本实施例所述的一种八工位分度旋转针盘机构，还包括有支撑板14，所述齿轮圆盘3的中部还设置有深沟轴承15和旋转支撑轴6；所述齿轮圆盘3通过深沟轴承15可绕着旋转支撑轴6旋转；所述旋转支撑轴6与支撑板14连接。具体地，所述旋转支撑轴6与支撑板14连接，以保证深沟轴承15设置有定点，进一步地，通过深沟轴承15保证齿轮圆盘3可绕着旋转支撑轴6转动。

本实施例所述的一种八工位分度旋转针盘机构，所述探针机构7包括有分别安装于七个测试工位5上的第一探针机构、第二探针机构、第三探针机构、第四探针机构、第五探针机构、第六探针机构和第七探针机构；所述第一探针机构中的第一探针9与第二探针10的间隔为1.6mm，且第一探针9、第二探针10的直径均为0.5mm。具体地，分别利用不同测试工位5上的第一探针机构、第二探针机构、第三探针机构、第四探针机构、第五探针机构、第六探针机构和第七探针机构的第一探针9与第二探针10的间隔不同来测试不同的元器件，方便人工操作和自动化检测。

本实施例所述的一种八工位分度旋转针盘机构，所述第二探针机构中的第一探针9与第二探针10的间隔为3.2mm，且第一探针9、第二探针10的直径均为0.5mm。

本实施例所述的一种八工位分度旋转针盘机构，所述第三探针机构中的第一探针9与第二探针10的间隔为2mm，且第一探针9、第二探针10的直径均为0.5mm。

本实施例所述的一种八工位分度旋转针盘机构，所述第四探针机构中的第一探针9与第二探针10的间隔为4.5mm，且第一探针9、第二探针10的直径均为0.5mm。

本实施例所述的一种八工位分度旋转针盘机构，所述第五探针机构中的第一探针9与第二探针10的间隔为5mm，且第一探针9、第二探针10的直径均为0.5mm。

本实施例所述的一种八工位分度旋转针盘机构，所述第六探针机构中的第一探针9与第二探针10的间隔为0.4mm，且第一探针9、第二探针10的直径均为0.3mm。

本实施例所述的一种八工位分度旋转针盘机构，所述第七探针机构中的第一探针9与第二探针10的间隔为0.8mm，且第一探针9、第二探针10的直径均为0.5mm。

以上所述，仅是本实用新型较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型以较佳实施例公开如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当利用上述揭示的技术内容作出些许变更或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型技术是指对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均属于本实用新型技术方案的范围内。