在逻辑芯片中基于电压对比的错误及缺陷推导的制作方法

文档序号:13349806阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明揭示一种电压对比成像缺陷检测系统,其包含电压对比成像工具及耦合到所述电压对比成像工具的控制器。所述控制器经配置以:针对样本上的一或多个结构产生一或多个电压对比成像度量;基于所述一或多个电压对比成像度量而确定所述样本上的一或多个目标区域;从所述电压对比成像工具接收所述样本上的所述一或多个目标区域的电压对比成像数据集;以及基于所述电压对比成像数据集而检测一或多个缺陷。

技术研发人员:B·达菲
受保护的技术使用者:科磊股份有限公司
技术研发日:2016.05.17
技术公布日:2018.01.02
当前第2页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1