封闭空间内X、γ射线电离辐射强度检测方法与流程

技术特征：

技术总结
本发明提供一种封闭空间内X、γ射线电离辐射强度检测方法，包括如下步骤：选择要测量的空间辐射点；以该空间辐射点为原心建立三维空间坐标；之后进行选点并测量；最后通过公式计算得出最终值。

技术研发人员：韩志坚
受保护的技术使用者：浙江君安检测技术有限公司
技术研发日：2017.03.25
技术公布日：2017.09.05