技术特征：
技术总结
本发明提供的基于图像探测器的亚像素级角位移细分方法及装置，所述方法包括：获取光栅码盘上的基准刻线图像，基准刻线是均匀刻划在光栅码盘同一直径位置上的等间距、等宽的一组刻线；对所述基准刻线图像中相邻的两条基准刻线分别为第一基准刻线和第二基准刻线进行拟合，得到第一计算结果；利用所述第一计算结果计算所述光栅码盘上第一基准刻线和第二基准刻线之间的中心点位置参数；利用角位移预设关系和所述中心点位置参数获得所述光栅码盘当前旋转位置的角度细分结果，具有抗干扰性强，离焦影响小并具有较强适应性，提高图像式角位移测量技术。
技术研发人员：于海;万秋华;赵长海;卢新然;梁立辉
受保护的技术使用者：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
技术研发日：2017.05.05
技术公布日：2017.08.04