电源键测试系统与方法与流程

本发明是有关于一种电源键测试系统与方法。

背景技术：

就现有技术而言，关于电源键的测试流程，通常是使用软件搭配基本输入输出系统(basicinputandoutput，bios)执行，如此一来，无法真实体现并模拟用户实际按压电源键启动或唤醒机器动作，因而导致部分无法预期的问题在出货后产生。

技术实现要素：

本发明提供一种电源键测试系统与方法，在电子产品研发初期及出货前，增加电源键的多元测试方式，更贴近用户的操作模式，藉以发现未知的产品问题，以提升产品良率。本案采用简单逻辑电路及电阻电容充放电路即可达成验证测试，成本低廉。本案亦可利用微控制单元或可程序化逻辑器件来开发设计，藉以模块化并减小体积。

本发明的一实施方式提供一种电源键测试系统，用以侦测一测试机的一电源键是否能正常使用。此电源键测试系统包括一控制模块及一模拟模块。控制模块连接至测试机，控制模块包括第一继电器，第一继电器感测测试机处于开机状态或关机状态。模拟模块耦接至控制模块，模拟模块包括一单稳态计时电路及一第二继电器。当第一继电器感测到目前测试机为关机状态时，第一继电器控制单稳态计时电路导通，单稳态计时电路倒数一默认时间。第二继电器耦接至单稳态计时电路，当单稳态计时电路倒数默认时间至零，单稳态计时电路输出一切换信号至第二继电器，第二继电器根据此切换信号导通电源键以模拟按压电源键动作。

优选地，当该第二继电器根据该切换信号导通该电源键后，该测试机为该开机状态，该第一继电器控制该单稳态计时电路为不导通。

优选地，该控制模块还包括：一第一发光单元，并联该第一继电器，当该测试机为该开机状态，该第一发光单元导通发光。

优选地，该模拟模块还包括：一第二发光单元，串联于该单稳态计时电路及该第二继电器之间，当该单稳态计时电路为导通，该第二发光单元导通发光。

优选地，该单稳态计时电路包括：一电容单元；一电阻单元，耦接至该电容单元；以及一计时单元，耦接至该电容单元及该电阻单元，当该第一继电器控制该单稳态计时电路导通后，该计时单元倒数该默认时间，其中该预设时间为该电容单元的电容值及该电阻单元的电阻值所决定。

优选地，该控制模块通过一通用串行总线端口与该测试机连接。

优选地，该模拟模块通过一通用串行总线端口与该测试机连接。

本发明的一实施方式提供一种电源键测试方法，用以侦测一测试机的电源键是否能正常使用。此方法包括：感测测试机在开机状态或关机状态；若为关机状态时，控制一单稳态计时电路导通；单稳态计时电路倒数一默认时间；以及当该单稳态计时电路倒数默认时间至零，导通电源键以模拟一按压电源键动作。

优选地，该电源键测试方法还包括：当该测试机为该开机状态，该第一继电器控制该单稳态计时电路为不导通。

优选地，该电源键测试方法还包括：该默认时间由该单稳态计时电路的一电容单元的电容值及一电阻单元的电阻值决定。

与现有技术相比，本发明具有如下的有益效果：本发明在电子产品研发初期及出货前，增加电源键的多元测试方式，更贴近用户的操作模式，藉以发现未知的产品问题，以提升产品良率。本案采用简单逻辑电路及电阻电容充放电路即可达成验证测试，成本低廉。本案亦可利用微控制单元或可程序化逻辑器件来开发设计，藉以模块化并减小体积。

附图说明

图1表示本发明第一实施方式的电源键测试系统的原理框图。

图2表示本发明第一实施方式的电源键测试方法的流程图。

100电源键测试系统

110测试机

112电源键

114第一通用串行总线端口

116第二通用串行总线端口

120电源供应设备

130控制模块

132第一继电器

134第一发光单元

140模拟模块

150单稳态计时电路

152电容单元

154电阻单元

156计时单元

160第二发光单元

170第二继电器

s210～s250：电源键测试方法流程步骤

具体实施方式

以下将以图式揭露本发明的复数个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本发明。也就是说，在本发明部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化图式起见，一些现有惯用的结构与组件在图式中将以简单示意的方式表示。

本发明提供一电源键测试系统与方法，用以侦测一测试机的电源键是否能正常使用。图1表示本发明第一实施方式的电源键测试系统的原理框图，电源键测试系统100用以侦测测试机110的电源键112是否能正常使用。其中，测试机110由电源供应设备120提供电力，电源供应设备120可以是一电源供应器或市电输入端，测试机110可以是一计算机或其他相类似的电子装置。电源键测试系统100包括：一控制模块130及一模拟模块140，控制模块130及模拟模拟140之间相互耦接。其中，控制模块130连接至测试机110的第一通用串行总线端口114(universalserialbus，usb)，模拟模块140连接至测试机110的第二通用串行总线端口116。当测试机110在开机状态时，第一通用串行总线端口114供电，当测试机110在关机状态时，第一通用串行总线端口114不供电，而第二通用串行总线端口116则是持续供电。

控制模块130包括一第一继电器132及一第一发光单元134。模拟模块140包括一单稳态计时电路150、一第二发光单元160及一第二继电器170，单稳态计时电路150、第二发光单元160及第二继电器170依序串接。其中，单稳态计时电路150包括一电容单元152、一电阻单元154及一计时单元156。

图2表示本发明第一实施方式的电源键测试方法的流程图，请同时参照图1及图2。首先，判断测试机110是否在关机状态(步骤s210)，控制模块130中的第一继电器132先感测测试机110现为开机状态或关机状态。第一继电器132可视为一电子开关，测试机110为开机或关机状态将会影响第一继电器132，藉以使第一继电器132有不同的电路导通情况。

其中，控制模块130所包括的第一发光单元134，其并联于第一继电器132。当测试机110为开机状态，第一发光单元134导通发光，当测试机110为关机状态，则第一发光单元134不发光，藉以提醒测试人员目前测试机110为开机状态或关机状态。

承上所述，若步骤s210的判断为是，第一继电器132感测到目前测试机110为关机状态时，则第一继电器132与模拟模块140之间的电路导通，即控制单稳态计时电路150导通(步骤s220)。反之，当若步骤s210的判断为否，表示测试机110目前为开机状态，则第一继电器132控制单稳态计时电路150为不导通(步骤s215)，控制模块130接着持续感测测试机110的开关机状态是否有改变。

在步骤s220之后，单稳态计时电路150倒数一默认时间(步骤s230)。其中，单稳态计时电路150包括电容单元152、电阻单元154及计时单元156，电容单元152、电阻单元154及计时单元156三者相互耦接。当第一继电器132控制单稳态计时电路150导通后，计时单元156倒数该默认时间，其中该默认时间为电容单元152的电容值及电阻单元154的电阻值所决定。

接着，单稳态计时电路150判断默认时间是否倒数至零(步骤s240)。若步骤s240的判断为否，则继续倒数。若步骤s240的判断为是，单稳态计时电路150输出一切换信号至第二继电器170，第二继电器170根据该切换信号导通电源键112，以模拟按压电源键动作(步骤s250)。

其中，第二继电器170亦可视为一电子开关，单稳态计时电路150是否送出切换信号，将会影响第二继电器170是否触发测试机110的电源键112。举例来说，第二继电器170的其中一脚位可连接至测试机110的电源键112脚位，当第二继电器170接收到单稳态计时电路150所送出的切换信号时，第二继电器170则触发电源键112。当电源键112被触发之后，测试机110为开机状态，则第一继电器132控制单稳态计时电路150为不导通。

此外，模拟模块140所包括的第二发光单元160，串联于单稳态计时电路150及第二继电器170之间，当单稳态计时电路150为导通，第二发光单元160导通发光。当第二发光单元160导通发亮，即提醒测试人员此时单稳态计时电路150已送出切换信号予第二继电器170。

本发明提供一种电源键测试系统与方法，在电子产品研发初期及出货前，增加电源键的多元测试方式，更贴近用户的操作模式，藉以发现未知的产品问题，以提升产品良率。本案采用简单逻辑电路及电阻电容充放电路即可达成验证测试，成本低廉。本案亦可利用微控制单元或可程序化逻辑器件来开发设计，藉以模块化并减小体积。

虽然本发明已以多种实施方式揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的权利要求所界定者为准。