使用伪随机二进制序列来标识通道错误的制作方法

集成电路(“ic”)被结合到许多电子设备中。ic封装已经演变成使得多个ic可以在所谓的三维(“3d”)封装体中竖直地结合在一起，以便节省印刷电路板(“pcb”)上的水平面积。另一种封装方法(称为2.5dic封装)结合内插件，所述内插件可以由半导体材料(如硅)形成，以便将一个或多个管芯耦合至pcb。然而，2.5dic的存储器和逻辑测试可能是昂贵且低效的，从而涉及ic芯片上的大面积以及用于生成测试信号的外部器件。此外，这种测试可能仅定位总体问题区域而不是具体的错误位置。

技术实现要素：

因此，为了标识特定的通道错误，本文中公开了使用伪随机二进制序列(“prbs”)的系统、方法和器件。一种说明性器件，包括第一管芯，所述第一管芯包括伪随机二进制序列(“prbs”)发生器，所述prbs发生器在并行通道上输出测试信号。所述器件进一步包括第二管芯，所述第二管芯包括prbs校验器，所述prbs将所述测试信号的至少一部分与参考信号进行比较以标识与错误相关联的特定通道。

一种方法，包括生成测试信号，所述测试信号包括prbs的至少一部分。所述方法进一步包括在并行通道上传输所述测试信号。所述方法进一步包括将所述测试信号的至少一部分与参考信号进行比较。所述方法进一步包括基于所述比较来标识与错误相关联的特定通道。

一种2.5维集成电路，包括第一管芯，所述第一管芯包括prbs发生器，所述prbs发生器在并行通道上输出测试信号。所述集成电路进一步包括第二管芯，所述第二管芯包括prbs校验器，所述prbs校验器将所述测试信号的至少一部分与参考信号进行比较以标识与错误相关联的特定通道。所述集成电路进一步包括内插件，所述内插件耦合至印刷电路板，所述内插件耦合至所述第一和第二管芯，所述内插件包括所述并行通道。

附图说明

在各个公开的实施例的以下详细描述中，将参照这些附图，在附图中：

图1是配置有用于测试的内建自测试电路系统的管芯对的框图；

图2a是串联prbs发生器的电路图连同其输出序列；

图2b是并联prbs发生器的电路图连同其转移矩阵；

图3是包括prbs发生器和prbs校验器的器件的框图；并且

图4是使用prbs来标识通道错误的方法的流程图。

然而，应理解的是，附图及其详细说明中所给出的特定实施例不限制本公开。相反，它们为普通技术人员提供辨别与所附权利要求书的范围内的给定实施例中的一个或多个实施例包含在一起的替代形式、等效物和修改方案的基础。

符号和术语

贯穿以下说明书和权利要求书所使用的某些术语指特定系统部件和配置。如普通技术人员将理解的，厂家可通过不同名称来指称部件。本文不旨在区分开名称不同而非功能不同的部件。在以下讨论中且在权利要求书中，以开放式方式使用术语“包括(including)”和“包括(comprising)”，并且因此应被解释为表示“包括但不限于……”。而且，术语“耦合(couple)”或“耦合(couples)”旨在表示间接或直接的电连接或物理连接。因此，在各个实施例中，如果第一设备耦合至第二设备，则所述连接可以通过直接电连接、通过经由其他设备和连接的间接电连接、通过直接物理连接、或者通过经由其他设备和连接的间接物理连接。

具体实施方式

公开了改进的内建自测试(“bist”)电路、设备和方法，所述电路、设备和方法通过标识引起错误的特定通道而非一组通道来有利地使得测试时间减少且测试准确度更大。此外，bist电路、设备和方法减少测试电路系统所需要的面积开销量，以及减少常规2.5d集成电路(“ic”)测试电路经历的速度退化。

图1是使用这种bist电路以利用prbs来标识包含错误的特定通道的器件100的框图。器件100包括耦合至第一管芯102和第二管芯104的半导体内插件10(例如，硅内插件)。在多芯片模块配置中，内插件10充当至pcb的接口。第一和第二管芯102、104中的每一个包括被配置用于执行多种功能的内部逻辑电路系统106、108。每个管芯102、104还包括bist电路系统110、112。这种bist电路系统110、112被配置用于生成并接收测试信号，使管芯102、104完全相同，但是为了清晰起见，在本文中所使用的示例中，管芯104将用于测试其与管芯102之间的通信通道。具体地，bist电路系统110(“发射电路系统”)被配置用于生成测试信号，所述测试信号经由导电凸块12被传输至内插件10，并且bist电路系统112(“捕获电路系统”)被配置用于作为响应从导电凸块16接收信号。内插件10包括导电互连14(例如，迹线和过孔)，所述导电互连提供多个通信通道以用于路由管芯102、104在凸块12和16之间发送和接收的信号。

发射电路系统110包括伪随机二进制序列(“prbs”)发生器111，并且捕获电路系统112包括prbs校验器113。prbs是二进制序列，所述二进制序列当使用确定性算法生成时展现类似于真正随机序列(如噪声)的统计学特性。如此，prbs足够鲁棒以用于测试目的，但是为确定性的从而使得由发生器111生成的prbs可以在给定同一初始条件的情况下由校验器113重新产生。具体地，prbs由prbs发生器111生成，通过通道14传输并由捕获电路系统112接收。第二prbs由prbs校验器113产生，所述prbs校验器与prbs发生器111使用相同的初始条件。如果捕获电路系统112接收的prbs匹配prbs校验器113产生的prbs，则通道没有错误。如果捕获电路系统112接收的prbs不匹配prbs校验器113产生的prbs，则如以下讨论的标识引起不匹配的每个特定通道。图2a和图2b分别展示了串联和并联prbs发生器。

图2a展示了串联prbs发生器200连同输出表206，所述串联prbs发生器充当具有线性反馈功能的移位寄存器，所述线性反馈功能使移位寄存器在重复之前输出具有某一长度的prbs。发生器200包括用作移位寄存器的存储器元件的触发器202以及用作用于实施反馈的加法器的异或门204。尽管反馈功能被展示为异或门204，但是在其他实施例中，使用一个或多个其他逻辑门，例如，与门、或非门、或门、与非门等。

如所展示的，发生器200在重复之前生成127位长的prbs，但是在各个实施例中，可以通过调节移位寄存器的长度和反馈功能来生成任何合适长度的prbs。如输出表206中所示出的，在第一时钟周期期间，触发器202产生127位prbs的位1、2、3、4、5、6和7。在第二时钟周期期间，触发器202产生位2、3、4、5、6、7和8等等。

在公开文献中可以发现其他prbs发生器实施方式，并且其也将是合适的。例如，图2b展示了并联prbs发生器250，所述并联prbs发生器使用触发器252作为存储器元件并且使用异或门254作为加法器。图2b还示出了相应转移矩阵258。在其他并联发生器实施例中，使用其他逻辑门，例如，与门、或非门、或门、与非门等。并联prbs发生器可以并行地产生若干经移位的序列，并且使用转移矩阵t258来表示电路是方便的，所述转移矩阵表示数据如何在发生器250的存储器元件之间转移。如果u(j)是表示n级prbs发生器在第j个时钟周期处的状态(所述状态存储在每个存储器元件中)的n×1二进制位向量，则t258是可以用于发现发生器在下一个时钟周期处的状态的n×n矩阵。t258的列与存储在prbs发生器250的级中的数据相对应。t258的行与级之间存在的连接相对应。为了清晰起见，已经示出了少量的行、列、门和触发器。在实践中，期望将采用多于五个存储器元件。prbs发生器250包括用于生成鲁棒prbs以便在测试系统(如图3的测试系统)中使用的适当数量的元件。

图3是用于使用prbs来标识包含错误的特定互连或通道的系统300的框图。系统300包括第一管芯306，所述第一管芯包括如以上所描述的prbs发生器310，所述prbs发生器在并行通道318上输出测试信号。系统300还包括第二管芯308，所述第二管芯包括将所述测试信号的至少一部分与参考信号进行比较以标识与错误相关联的特定通道318的prbs校验器312。参考信号可以包括由与prbs发生器310分离的prbs校验器312产生的prbs。第一管芯306和第二管芯308耦合至内插件304，所述内插件耦合至pcb302。内插件304包括导电互连318(例如，迹线和过孔)，所述导电互连提供用于路由管芯102、104发送和接收的信号的通信通道。

测试信号包括由所述prbs发生器310生成并且并行传输的n位prbs，每通道318有一位，其中，n是二的次幂。当n是二的次幂时，可以抽取prbs，从而使得并行传输结构导致同一prbs出现在每个通道318上，除了相对于其他通道318相移的之外。因此，通过一次选择一个互连来有效地抽取测试信号。具体地，抽取被定义为通过取{ak}的每个第n位而从prbs{ak}中形成序列{ank}，其中，n是正整数。对任何prbs的抽取形成另一个prbs。然而，当n是2的次幂时，以n进行抽取不改变prbs中位的顺序，如从http://www.eecg.toronto.edu/～sorinv/theses/laskin_masc_thesis.pdf处检索的、由拉斯金(laskin)，e.(2006)，on-chipself-testcircuitblocksforhigh-speedapplications(用于高速应用的片上自测试电路块)(论文)所证明的，所述论文通过引用结合在此。也就是说，如果{ak}是prbs，则{ank}以与{ak}相差至多某个相移，其中，n＝1，2，4，8，……。抽取器314从每个通道形成这种{ank}序列。具体地，第二管芯308包括抽取器314，所述抽取器针对每个通道318形成一个字。通过选择由prbs发生器310生成的prbs的每个第n位作为字的一位来形成每个字。如此，每个字的第一选择的位基于待校验的通道318而被确定，并且选择随后位，因为它们针对所述通道与之前所选的位相距n位。例如，抽取器314使用通道d0形成字；字的第一位是prbs的第一位，字的第二位是prbs的第n+1位，字的第三位是prbs的第2n+1位，以此类推。抽取器还使用通道d1形成字；所述字的第一位是prbs的第二位，所述字的第二位是prbs的第n+2位，所述字的第三位是prbs的第2n+2位，以此类推。以此方式，使用每个通道形成字，并且所述字中的每个字是由prbs发生器310生成的prbs的相移。在至少一个实施例中，每个通道的字也长为n位。在另一个实施例中，每个通道的字与由prbs发生器310生成的prbs一样长。在一些设想的实施例中，字长等于prbs发生器中的存储器元件的数量，以便促进字与prbs发生器状态的按位比较。在各个实施例中，字长可被定制为像错误标识所必需的那样长或那样短。

抽取器314包括耦合至并行通道318的复用器320，所述复用器形成这种字并且输出在任何一个所选通道318上依次接收的位。抽取器314还包括耦合至所述复用器320和所述prbs校验器312的串并行转换器316，所述串并行转换器从所述复用器320接收串行位并且将所述位并行输出到所述prbs校验器312。具体地，通道选择信号使复用器320能够将特定字从一个通道318发送到转换器316。在由转换器316并行化之后，针对由prbs校验器产生的prbs对字进行校验。在各个实施例中，如果字匹配prbs的所有或部分，则通道没有错误。在各个实施例中，如果字不匹配prbs的所有或部分，则特定通道被标识为具有错误。类似地，可以校验每个通道的错误。以此方式，特别关于特定通道而不是一般关于一组通道来标识错误的位置。由prbs校验器312生成的同一prbs可以用于校验每个通道318的错误，因为每个通道提供同一prbs的所有或部分，其相对于其他通道仅发生相移。

图4展示了一种使用prbs标识与错误相关联的特定通道的方法400。在402处，prbs发生器生成测试信号，所述测试信号包括prbs或prbs的一部分。在404处，发射电路系统在并行通道(如位于内插件上的并行通道)上传输测试信号。在406处，捕获电路系统抽取测试信号。例如，捕获电路系统可以针对每个通道从prbs中形成n位字，所述n位字的第一选择的位基于所述待校验的通道而被确定，其中，n是二的次幂。

在408处，捕获电路系统将测试信号的至少一部分(例如，从一个或多个通道中形成的一个或多个字)与由prbs校验器产生的参考信号(例如，与由prbs发生器生成的prbs分开但是根据同一初始条件产生的prbs)进行比较。基于一个或多个字与分开产生的prbs的部分或所有之间的不匹配，在410处，捕获电路系统标识与错误相关联的一个或多个特定通道。对特定通道的这种标识是比定位一般问题区域更便宜且更有效的测试方法。

在一些方面，根据以下示例中的一个或多个示例提供用于标识通道错误的系统、器件和方法：

示例1：一种器件，包括第一管芯，所述第一管芯包括prbs发生器，所述prbs发生器在并行通道上输出测试信号。所述器件进一步包括第二管芯，所述第二管芯包括prbs校验器，所述prbs校验器将所述测试信号的至少一部分与参考信号进行比较以标识与错误相关联的特定通道。

示例2：一种方法，包括生成测试信号，所述测试信号包括prbs的至少一部分。所述方法进一步包括在并行通道上传输所述测试信号。所述方法进一步包括将所述测试信号的至少一部分与参考信号进行比较。所述方法进一步包括基于所述比较来标识与错误相关联的特定通道。

示例3：一种2.5维集成电路，包括第一管芯，所述第一管芯包括prbs发生器，所述prbs发生器在并行通道上输出测试信号。所述集成电路进一步包括第二管芯，所述第二管芯包括prbs校验器，所述prbs校验器将所述测试信号的至少一部分与参考信号进行比较以标识与错误相关联的特定通道。所述集成电路进一步包括内插件，所述内插件耦合至印刷电路板，所述内插件耦合至所述第一和第二管芯，所述内插件包括所述并行通道。

以下特征可以合并到以上所描述的各个实施例中，这种特征单独或与其他特征中的一个或多个特征结合地合并。所述测试信号可以包括由所述prbs发生器生成并且并行输出的n位prbs，每通道有一位，其中，n是二的次幂。所述第二管芯可以包括向所述prbs校验器输出n位字的抽取器，所述n位字通过选择由所述prbs发生器生成的prbs的每个第n位作为所述n位字中的一位而形成，所述n位字的第一被选择的位基于所述待校验的通道而被确定，其中，n是二的次幂。所述第二管芯可以包括抽取器，所述抽取器包括耦合至所述并行通道的复用器，所述复用器输出在任何一个所选通道上依次接收的n位，其中，n是二的次幂。所述抽取器可以包括耦合至所述复用器和所述prbs校验器的串并行转换器，所述串并行转换器从所述复用器接收n个串行位并且并行地将所述n位输出到所述prbs校验器。所述参考信号可以包括由与prbs发生器分离的prbs校验器生成的prbs。由所述prbs校验器生成的同一prbs可以用于对每个通道校验错误。所述器件可以包括耦合至所述第一管芯和所述第二管芯的内插件，所述内插件包括所述并行通道。所述方法可以包括抽取所述测试信号。抽取所述信号可以包括形成n位字作为所述n位字中的一位，所述n位字的第一被选择的位基于所述待校验的通道而被确定，其中，n是二的次幂。将所述测试信号与所述参考信号进行比较可以包括将所述n位字同与所述测试信号分开生成的prbs进行比较。所述参考信号可以包括与所述测试信号分开生成的prbs。将所述测试信号与所述参考信号进行比较可以包括将所述分开生成的prbs与每通道的一个n位字进行比较。

对本领域技术人员来说，一旦完全理解了上述公开，那么众多其他修改方案、等效物和替代方案将变得显而易见。旨在将以下权利要求书解释为在适用情况下涵盖所有这种修改方案、等效物和替代方案。