技术特征：
技术总结
本发明提供一种自动测试样式生成的电路建模方法、非暂态计算机可读存储介质以及自动测试样式生成电路，该电路包含：处理器；以及非暂态计算机可读存储介质，其上包含储存的指令，该些指令在由处理器运行时，执行自动测试样式生成的电路建模方法，该电路建模方法包含：接收一电路的模拟电路表示；以及通过用开关替换该模拟电路表示的模拟电路元件并将该电路中的错误建模为开关，产生该电路的开关级表示。因为本发明的自动测试样式生成的电路建模方法以及自动测试样式生成电路与非暂态计算机可读存储介质能够更高效地生成电路的自动测试样式。
技术研发人员：陈海力
受保护的技术使用者：联发科技股份有限公司
技术研发日：2017.08.30
技术公布日：2018.03.13