技术特征：
技术总结
本发明公开一种光电探测器响应度测试仪及其测试方法，涉及光电子技术领域；包括依次光连接的光频梳输出模块、双驱强度调制模块和待测光电探测器，还包括与待测光电探测器电连接的频谱分析与数据处理模块，还包括分别与双驱强度调制模块的两个射频输入端连接信号源一和信号源二；本发明解决了这四个问题：(1)扫频法无法摆脱对电光转换器件的额外校准；(2)光外差法测量精度和稳定性不高；(3)强度噪声法的信号比和动态范围小；(4)移频外差法受限于电光转换器件带宽，而造成的测量成本高、测量精度低和可靠性差，无法满足超带宽光电探测器响应度测量。
技术研发人员：张尚剑;王恒;邹新海;王梦珂;张雅丽;刘永
受保护的技术使用者：电子科技大学
技术研发日：2017.11.24
技术公布日：2018.04.27