技术特征：
技术总结
本发明提出一种量子点表面配体覆盖率的测定方法，可用于对量子点的质量评定。若Ki小于2*10‑10mol/cm2，则量子点质量欠佳，需将Ki值提高后再进行溶液或墨水配置等应用。采用本方法确定量子点表面配体覆盖率，结果准确，操作简单，进一步，通过本发明的方法能保证量子点表面配体含量的稳定性，能保证不同批次的量子点的溶解性，避免量子点溶液制备成膜时因干燥速率不同导致的咖啡环效应，能提高量子点显示面板的像素分辨率、启亮电压、光电效率的均一性。
技术研发人员：覃辉军;叶炜浩;杨一行
受保护的技术使用者：TCL集团股份有限公司
技术研发日：2017.12.15
技术公布日：2019.06.25