一种激光扫描检测中的取点新方法与流程

文档序号:14710740发布日期:2018-06-16 00:21阅读:来源:国知局
技术总结
本发明公开了一种激光扫描检测中的取点新方法,属于机加工技术领域,本发明通过测量点位附近最可靠的特征边沿做参考基准,通过设定特征边搜寻方向,保证取到合适的边沿;通过指定偏移量,取到正确的测量点位,同时可以设置取点宽度,用于做一些平滑滤波、中值滤波之类的处理,使得测量数据更稳定,解决零件本身测量部位位置度偏差造成测量取点点位存在偏差的问题,无需额外增加视觉系统,降低成本;本发明取点方法灵活,可选更稳定的边沿作为参考基准,保证取点成功率与稳定性。 1

技术研发人员:陈叶金
受保护的技术使用者:南京鑫业诚智能科技有限公司
技术研发日:2017.12.27
技术公布日:2018.06.15

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