一种微波器件测试台的制作方法

本实用新型涉及射频信号测试领域，尤其涉及一种微波器件测试台。

背景技术：

对微波器件进行微波参数测试是对器件的性能进行确认和评估的必不可少的重要环节。对微波器件进行微波参数测试，需要将器件固定于专用的测试夹具上。在现有的微波器件参数测试的常用方法中，目前国内一般的做法是，采用螺钉直接将微波器件固定在测试夹具上，直接螺钉紧固安装对于少量和可靠性要求低的方法被业界通用。利用该方法可以实现对于微波器件微波参数测试的的测试，对于微波器件的生产测试、试验测试等领域具有牢固、简捷、接触良好的作用。但该方法安装螺钉占用时间长，易划伤器件表面，并直接划伤器件底座，留下伤痕，引入测试损伤，多次安装测试后，管底座上留下凹痕，损伤器件，影响外观和交付。同时，对于不同的器件需要拧下螺钉更换不同的器件，并且每次更换器件都要反复松紧多个螺钉，浪费了大量的时间，这大大降低了检测效率。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于：传统微波器件检测装置效率低，操作复杂的方式，提供一种微波器件测试台。

本实用新型采用的技术方案如下：

一种微波器件测试台，包括：底座，底座上设置有定位板，定位板上方设有针板，针板贯穿设置有与针板内嵌入的电路转接板连接的ICT探针，电路转接板通过低频连接器连接电源、控制设备、程控外用表，电路转接板还通过射频连接器连接示波器；底座上垂直设有滑杆，所述针板套于滑杆上。

进一步的，所述底座上垂直设有背板，针板上设置有推拉杆，推拉杆上套有定位环，所述定位环固定与背板上。

进一步的，所述推拉杆上端铰接有转动把手。

进一步的，所述底座两侧还设置有把手。

本实用新型工作是将被测器件放在定位板上，定位板可以根据不同器件的外形进行更换保持被测器件测试的稳定性。通过转动转动把手，使推拉杆在定位环内向下移动，进而使针板沿着滑杆向下移动，使得ICT探针与被测器件的测试部位接触；电源通过低频连接器、电路转接板、ICT探针使被测器件保持工作，被测器件的工作信号又通过ICT探针、电路转接板分别通过低频连接器传送至程控万用表和通过射频连接器传送至示波器，实现两 路信号的测量。测试完毕后再方向转动转动把手使针板离开被测器件。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：

1.可以快速装夹、精确对位、连接可靠，可同时测量低频、射频电参数。

2.大大缩短测试时间，提高测试调试效率，减少测试误差，必要时可通过连接计算机控制实现全自动测试。

附图说明

图1是本实用新型实施例的正视图。

图2是本实用新型实施例的侧视图。

图3是本实用新型实施例的俯视图。

1为底座，2为定位板，3为针板，4为ICT探针，5为滑杆，6为推拉杆，7为定位环，8为背板，9为转动把手，10为把手。

具体实施方式

本说明书中公开的所有特征，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。

下面结合附图对本实用新型作详细说明。

图1、图2、图3为本实用新型采用四通路测试时的夹具测试台的实施例的各侧视图。

一种微波器件测试台，包括：底座1，底座1上设置有定位板2，定位板2上方设有针板3，针板3贯穿设置有与针板3内嵌入的电路转接板连接的ICT探针4，电路转接板通过低频连接器连接电源、控制设备、程控外用表，电路转接板还通过射频连接器连接示波器；底座1上垂直设有滑杆5，所述针板3套于滑杆5上。所述底座上垂直设有背板8，针板3上设置有推拉杆6，推拉杆6上套有定位环7，所述定位环7固定与背板8上。所述推拉杆6上端铰接有转动把手9。所述底座两侧还设置有把手10。

实施例中针板使用3mm透明亚克力板，ICT探针型号为TEX039，电路转接板通过50欧姆柔性同轴电缆连接到射频连接器。