一种PCBA板测试治具的制作方法

本实用新型涉及电子行业技术领域，具体涉及一种PCBA板测试治具。

背景技术：

在电子产品的生产过程中，并非所有制程中的板子都是好的，若未将不良板区分出来，任其流入下制程，则势必增加不必要的成本。故对于因失败而造成成本的损失估计，各阶段都不同，愈早发现挽救的成本愈低。在PCBA的制造过程中，通常会有2～3次的100％测试，再将不良板返工。

由于目前的PCBA板采用手工引线零件分析或者复杂设备分析，人工先把PCBA板放在防静电平台上，接入板子接口，用仪器的探笔进行信号分析。逐一分析信号到得出结果。采用手工插入接口及信号连接存在以下问题：1、效率低，仅100台/H；2、板子零件易烧坏，误测率高；3、人工常时保持测试状态，员工劳累；4、经济效益低。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于：针对上述PCBA板在测试时采用人工手动检测存在效率低的问题，本实用新型提供一种提高测试效率的PCBA板测试治具的运动结构。

本实用新型采用的技术方案如下：

一种PCBA板测试治具，包括底座和顶盖，所述顶盖下方活动连接有测试平板，所述底座上两侧设有支撑架，所述顶盖与支撑架转动连接，所述底座上还设有顶盖锁紧装置和顶盖上升装置。

进一步的，所述顶盖锁紧装置包括与顶盖两侧转动连接把手连接件，所述把手连接件端部连接有把手，所述把手连接件外侧连接有锁紧柱，所述底座上述设有锁紧架，所述锁紧架内设有弧形锁紧凹槽。

进一步的，所述顶盖锁紧装置包括设置在支撑架内的弧形导轨，所述顶盖外侧连接有转动杆，所述转动杆一端位于弧形导轨内。

进一步的，所述顶盖上升装置为的气弹簧，所述气弹簧一端连接在底座上，所述气弹簧另一端连接顶盖。

进一步的，所述测试平板上设有若干测试探针。

进一步的，所述活动连接方式为采用若干销钉连接。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型的顶盖下方连接的测试平板可以测试PCBA板，将测试平板旋转至测试平台即可实现对PCBA板的测试，在底座上设置的锁紧装置可以在旋转完成后对测试平板紧固直至完成整个测试过程，防止了测试过程中因测试平板发生偏移而导致测试数据出现偏差等现象的发生。

2、本实用新型的测试平板上设有若干测试探针，测试平板可以根据不同的PCBA板进行更换，满足不同PCBA板测试的需求。

3、本实用新型的气弹簧设置在底座和顶盖内侧，实现了顶盖的自动弹回上升，方便下一次的测试和更换测试平板，提高了测试效率，由之前的仅100台/H提升至300台/H。

附图说明

图1是本实用新型的背面立体图；

图2是本实用新型的内部结构图；

图3是本实用新型的测试平板结构图；

图4是本实用新型的正面立体图；

图中标记：1-弧形锁紧凹槽、2-底座、3-弧形导轨、4-气弹簧、5-顶盖边框a、6-锁紧柱、7-顶盖边框b、8-把手、9-把手连接件、10-顶盖、11-支撑架、12-锁紧架、13-转动杆、14-顶盖边框c、15-销钉、16-测试平板、17-测试探针。

具体实施方式

下面结合图1～4对本发明作详细说明。

如图1～4所示，一种PCBA板测试治具，包括底座2和顶盖10，所述顶盖10下方活动连接有测试平板16，所述底座2上两侧设有支撑架11，所述顶盖10与支撑架11转动连接，所述底座2上还设有顶盖锁紧装置和顶盖上升装置。

顶盖10下方连接的测试平板16可以测试PCBA板，将测试平板16旋转至测试平台即可实现对PCBA板的测试，在底座2上设置的锁紧装置可以在旋转完成后对测试平板16紧固直至完成整个测试过程，防止了测试过程中因测试平板16发生偏移而导致测试数据出现偏差等现象的发生。待测试完成后，打开锁紧装置，顶盖10自动返回，等待下次测试。

所述顶盖锁紧装置包括与顶盖10两侧转动连接把手连接件9，所述把手连接件9端部连接有把手8，所述把手连接件9外侧连接有锁紧柱6，所述底座2上述设有锁紧架12，所述锁紧架12内设有弧形锁紧凹槽1。在锁紧过程中，旋转把手8，把手8两侧的锁紧柱6进入锁紧架12内的弧形锁紧凹槽1内，完成锁紧过程。

所述顶盖锁紧装置包括设置在支撑架11内的弧形导轨3，所述顶盖10外侧连接有转动杆13，所述转动杆13一端位于弧形导轨3内，转动杆13在弧形导轨3内的运动防止了顶盖10在旋转中发生位移偏差，保证了测试平板16的精确定位。

所述顶盖上升装置为的气弹簧4，所述气弹簧4一端连接在底座2上，所述气弹簧4另一端连接顶盖10，实现了顶盖10的自动弹回上升，等待下一次的测试。

所述测试平板16上设有若干测试探针17，测试平板16可以根据不同的PCBA板进行更换，满足不同PCBA板测试的需求。

所述活动连接方式为采用若干销钉15连接，方便移动。

如上所述即为本实用新型的实施例。本实用新型不局限于上述实施方式，任何人应该得知在本实用新型的启示下做出的结构变化，凡是与本实用新型具有相同或相近的技术方案，均落入本实用新型的保护范围之内。