技术总结
本实用新型公开了一种阶梯孔型像质计，包括若干个模块放置槽和若干个阶梯模块，若干个阶梯模块可以部分或者全部地放置在模块放置槽中。根据工件的材料及厚度，选取合适的阶梯模块，放置在模块放置槽中，组合成阶梯孔型像质计来测定射线照片的射线照相灵敏度。只需要一定数量的阶梯模块组成像质计模块系统，不需要购买不同型号的像质计以适配不同材料及厚度的被测工件，节省成本且灵活性高。
技术研发人员：柳章龙;蔡耀辉;吕君敏
受保护的技术使用者：浙江省缙云像质计厂
文档号码：201720392365
技术研发日：2017.04.14
技术公布日：2018.03.13