指纹芯片模拟测试装置的制作方法

本实用新型涉及一种测试装置，尤其涉及一种指纹芯片模拟测试装置。

背景技术：

众所周知，随着指纹识别在智能手机上的快速普及，用于指纹芯片的全自动测试越来越受到重视；与此同时，对芯片的测试工作，还面临着测试时间和测试成本所带来的压力，以及一些测试设备的改进。由于传统的芯片测试装置检测芯片的好坏不能通过模拟手指按压芯片进行测试，因此应用到指纹芯片测试上常常会带来一系列的问题，从而普遍存在测试良率低、成本高、前期操作麻烦的缺点。

技术实现要素：

为解决上述技术问题，本实用新型目的在于提供一种结构简单和适用范围大的指纹芯片模拟测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型提供了一种指纹芯片模拟测试装置，包括测试座、接触头和导向板，所述导向板底部嵌有所述测试座，所述导向板顶部嵌有所述接触头，所述测试座上设有与所述接触头密封配合的测试腔，所述接触头上设有负压吸附组件和正压下压组件，所述负压吸附组件包括设置在所述接触头底部的两个吸嘴组件和分布在所述接触头内的负压气路，两个所述吸嘴组件均与所述负压气路相连通，所述接触头中还设有位于两个所述吸嘴组件之间的压力腔，所述正压下压组件包括导电橡胶、卡设在所述压力腔内的弹性件以及可以通过所述弹性件在所述压力腔内移动的活动密封件，所述活动密封件的底部穿过所述弹性件与导电橡胶相连，所述活动密封件的顶部密封嵌入所述压力腔内，所述压力腔通过所述活动密封件密封隔绝成正压腔和下压腔，所述下压腔和两个所述吸嘴组件均与所述测试腔相连通，所述接触头上设有若干与所述负压气路相连通的第一通气口，所述接触头上设有与所述正压腔相连通的第二通气口。

进一步的，所述活动密封件包括推杆和套设在所述推杆顶部的密封圈。

进一步的，所述测试座内设有测试位，所述测试位上分布有若干探针。

进一步的，所述接触头的两侧均固定有机械臂。

进一步的，所述弹性件为弹簧。

借由上述方案，本实用新型至少具有以下优点：能够模拟手指的按压芯片的测试，解决了传统测试普遍存在测试良率低、成本高、前期操作麻烦等缺点。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

图1示出了本实用新型的一种指纹芯片模拟测试装置的结构示意图；

图2示出了本实用新型的一种指纹芯片模拟测试装置在测试前的剖视图；

图3示出了本实用新型的一种指纹芯片模拟测试装置在测试时的剖视图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。

参见图1至3，包括测试座1、接触头2和导向板3，导向板3底部嵌有测试座1，导向板3顶部嵌有接触头2，测试座1上设有与接触头2密封配合的测试腔4，接触头2上设有负压吸附组件和正压下压组件，负压吸附组件包括设置在接触头2底部的两个吸嘴组件5和分布在接触头2内的负压气路6，两个吸嘴组件5均与负压气路6相连通，接触头2中还设有位于两个吸嘴组件5之间的压力腔7，正压下压组件包括导电橡胶8、卡设在压力腔7内的弹性件9以及可以通过弹性件9在压力腔7内移动的活动密封件10，活动密封件10的底部穿过弹性件9与导电橡胶8相连，活动密封件10的顶部密封嵌入压力腔7内，压力腔7通过活动密封件10密封隔绝成正压腔11和下压腔12，下压腔12和两个吸嘴组件5均与测试腔4相连通，接触头2上设有若干与负压气路6相连通的第一通气口13，接触头2上设有与正压腔11相连通的第二通气口14。

本实用新型提供的一种指纹芯片模拟测试装置工作原理如下：

芯片测试前,指纹芯片模拟测试装置中的接触头2安装在测试机的机械手臂17上，芯片15的测试座1插装在导向板3上，导向板3安装在测试机PCB母版上，在芯片15未检测前，活动密封件10在弹性件9的作用下向上运动，从而带动导电橡胶8跟随活动密封件10向上移动，当负压吸附组件向下吸取芯片15时，首先是吸嘴组件5接触芯片15的表面，设计负压气路6与测试设备的气压设备相连，此外部气压在吸嘴组件5形成负压，从而吸取芯片15，再移动机械手臂，将芯片15放入对应的测试座的测试腔4内，完成芯片15的吸取过程；实际测试时，施加到芯片15表面的压力，主要由独立于测试设备之外气压控制正压下压组件，可通过调节外气压使其大过弹性件9的压力，当正压腔11内的气压力施加到活动密封件10的表面时，带动导电橡胶8向下移动，接触芯片15表面，使其芯片15对应的引脚接触上测试机PCB母版，当测试完成时，释放气压，活动密封件10在弹性件9的反作用下，推动活动密封件10向上移动，完成整个芯片的测试。

为了保证正压腔11内的压力，活动密封件10包括推杆和套设在推杆顶部的密封圈16。

为了当正压腔11内的气压力施加到活动密封件10的表面时，带动导电橡胶8向下移动，接触到芯片15表面，测试座1内设有测试位，测试位上分布有若干探针；这样，可以使其芯片15对应的引脚接触上探针，通过导向板3在测试机PCB母版上完成测试。

为了方便接触头2抓取芯片15放入测试座1内，接触头2的两侧均固定有机械臂17。

为了通过随意调节正压腔11内的气压来完成活动密封件10的移动，弹性件9为弹簧。

以上仅是本实用新型的优选实施方式，并不用于限制本实用新型，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。