测量金属表面微喷射物质的同轴双极式电探针及测试电路的制作方法

技术特征：

1.一种测量金属表面微喷射物质的同轴双极式电探针，其特征在于：包括放电极(1)、陶瓷管(2)和地极(3)，所述放电极(1)与地极(3)均由导电材料制造而成，所述陶瓷管(2)由绝缘陶瓷材料制造而成，所述放电极(1)外部紧密包裹有陶瓷管(2)，所述陶瓷管(2)外部紧密包裹有地极(3)；所述放电极(1)具有检测端A和连接端A，所述地极(3)具有检测端B和连接端B，所述陶瓷管(2)靠近放电极(1)检测端A的一端端部为检测端C，所述陶瓷管(2)远离放电极(1)检测端A的另一端端部为连接端C；所述放电极(1)的连接端A电连接有第一连接电缆(4)，所述地极(3)的连接端B电连接有第二连接电缆(5)，所述放电极(1)的检测端A、地极(3)的检测端B、陶瓷管(2)的检测端C三者相对应设置。

2.按照权利要求1所述的测量金属表面微喷射物质的同轴双极式电探针，其特征在于：所述放电极(1)的检测端A、地极(3)的检测端B、陶瓷管(2)的检测端C三者端面平齐；所述放电极(1)为漆包线，所述地极(3)为铜管。

3.按照权利要求1所述的测量金属表面微喷射物质的同轴双极式电探针，其特征在于：所述陶瓷管(2)的长度大于放电极(1)的长度；所述陶瓷管(2)的长度大于地极(3)的长度。

4.按照权利要求1所述的测量金属表面微喷射物质的同轴双极式电探针，其特征在于：所述放电极(1)、陶瓷管(2)、地极(3)均呈圆柱体形状。

5.一种由权利要求1～4任一项所述的同轴双极式电探针所构成的测试电路，其特征在于：包括同轴双极式电探针和信号形成电路(6)，所述第一连接电缆(4)、第二连接电缆(5)分别通过导线与信号形成电路(6)电连接，所述第二连接电缆(5)还通过导线接地；所述信号形成电路(6)包括电压源(E)、第一电阻(R_E)、第二电阻(R_p)、第一电容(C₁)、第二电容(C₂)、第三电阻(R_s)，所述第一电阻(R_E)的一端与电压源(E)连接，所述第二电阻(R_p)的一端分别与第一连接电缆(4)连接，所述第二电阻(R_p)的另一端、第一电容(C₁)的一端、第二电容(C₂)的一端与第一电阻(R_E)的另一端连接，所述第一电容(C₁)的另一端、第二电容(C₂)的另一端与第三电阻(R_s)的一端连接，所述第三电阻(R_s)的另一端接地，所述第三电阻(R_s)的另一端还与第二连接电缆(5)电连接。

6.按照权利要求5所述的测试电路，其特征在于：所述第一电容(C₁)的电容值大于第二电容(C₂)的电容值。

7.按照权利要求6所述的测试电路，其特征在于：所述第一电容(C₁)的电容值C按照下式进行计算：

上式中，T_恒压为预设的第一电容(C₁)的恒压时间，R_RP为第二电阻(R_p)的阻值，R_RS为第三电阻(R_s)的阻值，R_RX为被测物质(R_X)的阻值，ΔV_C1/V_C1始为恒压时间内的第一电容(C₁)的电压变化需求值，其中ΔV_C1为恒压时间内第一电容(C₁)电压的变化值，V_C1始为恒压时间内第一电容(C₁)电压的初始值。

8.按照权利要求7所述的测试电路，其特征在于：恒压时间内的第一电容(C₁)的电压变化需求值小于等于1％。

9.按照权利要求5所述的测试电路，其特征在于：所述第二电阻(R_p)的阻值和第三电阻(R_s)的阻值均为50Ω。