本实用新型涉及千分尺设备技术领域，具体为一种组合式内外径测量标准校对仪。
背景技术：
内径千分尺属于接杆式量具，接好所需测量尺寸后会有一定的累积误差，需校对后再测量。原有校对块使一段时间后板会变形，有校对偏差；且只能校对内径尺寸，不能校对外径内径尺寸。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种组合式内外径测量标准校对仪，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种组合式内外径测量标准校对仪，包括校对块、第一镶块、第二镶块、第三镶块、第四镶块、第五镶块、第六镶块，所述校对块的中央表面安装有第一镶块，所述校对块的表面左端从下到上依次设置有第二镶块、第三镶块、第四镶块，所述校对块的表面右端从下到上依次设置有第五镶块、第六镶块。
优选的，所述第一镶块、第二镶块、第三镶块、第四镶块、第五镶块和第六镶块的表面对称开有M6螺纹孔。
优选的，所述第一镶块的左端间距从上到下依次递减，右端间距从上到下依次递增。
优选的，所述第二镶块的长度为50mm。
优选的，所述第三镶块的长度为75mm。
优选的，所述第四镶块的长度为100mm。
优选的，所述第五镶块的长度为125mm。
优选的，所述第六镶块的长度为150mm。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该组合式内外径测量标准校对仪，通过螺丝将镶块分别安装在校对块上，通过镶块可分别对千分尺的内径和外径进行测量，来校对千分尺内径和外径的精度，即使得校对块不易变形，校对尺寸有偏差修正更加方便，也使得可以对千分尺的外径进行校对。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图。
图中：1校对块、2第一镶块、3第二镶块、4第三镶块、5第四镶块、6第五镶块、7第六镶块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1，本实用新型提供一种技术方案：一种组合式内外径测量标准校对仪，包括校对块1、第一镶块2、第二镶块3、第三镶块4、第四镶块5、第五镶块6和第六镶块7，所述校对块1的中央表面安装有第一镶块2，所述校对块1的表面左端从下到上依次设置有第二镶块3、第三镶块4、第四镶块5，所述校对块1的表面右端从下到上依次设置有第五镶块6、第六镶块7，所述第一镶块2、第二镶块3、第三镶块4、第四镶块5、第五镶块6和第六镶块7的表面对称开有M6螺纹孔，把螺丝螺纹穿过M6螺纹孔将第一镶块2、第二镶块3、第三镶块4、第四镶块5、第五镶块6和第六镶块7固定在校对块1的表面，通过螺丝将镶块分别安装在校对块1上，通过镶块可分别对千分尺的内径和外径进行测量，来校对千分尺内径和外径的精度，即使得校对块1不易变形，校对尺寸有偏差修正更加方便，也使得可以对千分尺的外径进行校对，所述第一镶块2的左端间距从上到下依次递减，右端间距从上到下依次递增，所述第二镶块3的长度为50mm，所述第三镶块4的长度为75mm，所述第四镶块5的长度为100mm，所述第五镶块6的长度为125mm，所述第六镶块7的长度为150mm。
工作原理：分别在第一镶块2、第二镶块3、第三镶块4、第四镶块5、第五镶块6和第六镶块7的表面对称开有M6螺纹孔，把螺丝螺纹穿过M6螺纹孔将第一镶块2、第二镶块3、第三镶块4、第四镶块5、第五镶块6和第六镶块7固定在校对块1的表面，将千分尺的内径卡在第一镶块2之间，可对千分尺的内径精度进行测量，将千分尺的外径卡在第二镶块3、第三镶块4、第四镶块5、第五镶块6和第六镶块7的表面，可对千分尺的外径精度进行测量，从而来校对千分尺的内径和外径的精度。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。