本实用新型涉及石英晶体测试与校正领域，具体指一种用于晶振测试的欧姆校正装置。
背景技术：
在小型化石英晶体生产领域，晶振测试所使用的测试软件长期未校正时，容易造成特性测试不准确和不稳定现象，这就需要使用欧姆进行校正，校正后可以清除测试回路中的杂散电容，以保证晶振测试时的准确性和稳定性。目前使用的方法是将欧姆手动放置在探针下方进行校正，经常因为探针探测的高低、接触欧姆的位置不同而影响校正效果，常常会导致不准确的结果出现，其稳定性和准确性得不到保证。
技术实现要素：
本实用新型的目的是克服现有技术中晶振测试时的欧姆校正装置中存在的上述问题，提供一种结构简单、使用方便、校正准确的用于晶振测试的欧姆校正装置。
为实现以上目的，本实用新型的技术解决方案是：一种用于晶振测试的欧姆校正装置，包括工作台和测试装置，所述测试装置位于工作台的上方，测试装置包括探针，其特征在于：所述工作台上放置有两个欧姆校正台，两个欧姆校正台上分别放置有零欧姆PCB板和五十欧姆PCB板，测试装置通过十字型导轨与工作台相连，十字型导轨包括水平导轨和竖直导轨，竖直导轨上设置有滑槽。
本实用新型的有益效果为：
1、本设计中工作台上放置有两个欧姆校正台，且两个欧姆校正台上分别放置有零欧姆PCB板和五十欧姆PCB板，测试装置通过十字型导轨与工作台相连，十字型导轨包括水平导轨和竖直导轨，竖直导轨上设置有滑槽，按测试系统软件校正顺序，探针先接触在零欧姆PCB板上，开始校正0Ω，探针再接触在五十欧姆PCB板上，开始校正50Ω，然后空校，最后然后回到五十欧姆PCB板上做自动确认。因校正板与校正方式都取代了原始的手工方式，且通过十字型导轨来控制测试装置和探针的位移，能够保证探针每次校正与欧姆板的接触位置保持一致，测量系统校正后，测量的稳定性和准确性更好。
2、本设计中竖直导轨上设置有滑槽，测试装置可沿着滑槽做上下运动，方便探针取位，使用方便。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
图中：工作台1，测试装置2，探针21，欧姆校正台3，零欧姆PCB板31，五十欧姆PCB板32，十字型导轨4，水平导轨41，竖直导轨42，滑槽43。
具体实施方式
以下结合附图说明和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明：
参见图1，一种用于晶振测试的欧姆校正装置，包括工作台1和测试装置2，所述测试装置2位于工作台1的上方，测试装置2包括探针21，所述工作台1上放置有两个欧姆校正台3，两个欧姆校正台3上分别放置有零欧姆PCB板31和五十欧姆PCB板32，测试装置2通过十字型导轨4与工作台1相连，十字型导轨4包括水平导轨41和竖直导轨42，竖直导轨42上设置有滑槽43。
本设计中工作台1上放置有两个欧姆校正台3，且两个欧姆校正台3上分别放置有零欧姆PCB板31和五十欧姆PCB板32，测试装置2通过十字型导轨4与工作台1相连，十字型导轨4包括水平导轨41和竖直导轨42，竖直导轨42上设置有滑槽43，按测试系统软件校正顺序，探针21先接触在零欧姆PCB板31上，开始校正0Ω，探针21再接触在五十欧姆PCB板32上，开始校正50Ω，然后空校，最后然后回到五十欧姆PCB板32上做自动确认。因校正板与校正方式都取代了原始的手工方式，且通过十字型导轨4来控制测试装置2和探针21的位移，能够保证探针21每次校正与欧姆板的接触位置保持一致，测量系统校正后，测量的稳定性和准确性更好。本设计中竖直导轨42上设置有滑槽43，测试装置2可沿着滑槽43做上下运动，方便探针21取位，使用方便。本实用新型结构简单、使用方便、校正准确。